专利名称：一种可实现多种测量方式的三坐标测量机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量设备技术领域，具体涉及一种可实现多种测量方式的三坐标测量机。
背景技术：
传统的坐标测量机为三轴，其结构包括支座、设置于支座上的固定工作台，固定工作台上设置有移动工作台和立柱，立柱上设有X横梁，X横梁上设有XZ滑架，XZ滑架内设有一套Z轴运动组件，Z轴运动组件内包括Z轴，Z轴位置设置于XZ滑架上X向中部，Z轴上安装有测头装置。现有技术的三坐标测量机当工件测量过程中需要两种或以上测量方式时，当进行完一种测量方式时，需要更换测头来实现另外一种测量方式，这样不仅效率低，而且测量过程中需更换测头装置，重复定位精度差，还需要重新校正测头装置，影响测量精度和效率。 实用新型内容本实用新型提供一种可实现多种测量方式的三坐标测量机，以克服现有技术测量过程中需更换测头装置，影响测量精度和效率的问题。为克服现有技术存在的不足，本实用新型提供的技术方案是一种可实现多种测量方式的三坐标测量机，包括XZ滑架，其特征在于所述XZ滑架上设置有两套Z轴运动组件，所述两套Z轴运动组件内各包含一根Z轴，两根Z轴在铅垂方向上平行布置，每根Z轴上均安装有一套测头装置。上述两套Z轴运动组件沿XZ滑架的X向中心线对称布置。本实用新型相对于现有技术，具有如下优点和效果I. XZ滑架上设置有两套Z轴运动组件，每根Z轴上均安装有一套测头装置，当工件测量过程中需要两种或以上测量方式时，当进行完一种测量方式时，不需要更换测头来实现另外一种测量方式，而可以直接用另外一根Z轴进行测量，提高了测量效率。2.两根Z轴各自有一套独立的运动系统，可实现Z方向的单独运动控制，在一台坐标测量机上可同时实现两种测量方式，且测量过程中互不影响。
图I是现有技术的结构示意图；图2是本实用新型的结构示意图；其中1_支座、2-固定工作台、3-移动工作台、4-立柱、5-X横梁、6-XZ滑架、7-第一 Z轴、8-第一测头装置、9-第二 Z轴、10-第二测头装置。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做详细说明参照图1，现有技术的坐标测量机为三轴，其结构包括支座I、设置于支座上的固定工作台2，固定工作台2上设置有移动工作台3和立柱4，立柱4上设有X横梁5，X横梁5上设有XZ滑架6，XZ滑架6内设有一套Z轴运动组件，Z轴运动组件内包括Z轴7，Z轴7位置设置于XZ滑架6上X向中部，Z轴7上安装有测头装置8。参照图2，本实用新型一种可实现多种测量方式的三坐标测量机，包括XZ滑架6，其特征在于所述XZ滑架6上设置有两套Z轴 运动组件，所述两套Z轴运动组件内各包含一根Z轴，如图所示分别为第一 Z轴7和第二 Z轴9，两根Z轴在铅垂方向上平行布置，每根Z轴上均安装有一套测头装置，其中第一 Z轴7上安装有第一测头装置8，第二 Z轴9上安装有第二测头装置10，上述两套Z轴运动组件沿XZ滑架的X向中心线对称布置。测量工件时，根据客户测量需要在两根Z轴上分别安装相应的测头装置，当使用其中一套测头装置对工件测量完毕后，不需要更换测头装置，直接用另外一套侧头装置对工件进行另一种方式的测量，由于两根Z轴各自有一套独立的运动系统，因此对Z轴可实现Z方向的单独运动控制，这样就实现了在一台坐标测量机上可同时实现两种测量方式，且测量过程中互不影响。
权利要求1.一种可实现多种测量方式的三坐标测量机，包括XZ滑架(6)，其特征在于所述XZ滑架(6)上设置有两套Z轴运动组件，所述两套Z轴运动组件内各包含一根Z轴，两根Z轴在铅垂方向上平行布置，每根Z轴上均安装有一套测头装置。
2.根据权利要求I所述一种可实现多种测量方式的三坐标测量机，其特征在于所述两套Z轴运动组件沿XZ滑架(6)的X向中心线对称布置。
专利摘要本实用新型涉及测量设备技术领域，具体涉及一种可实现多种测量方式的三坐标测量机。现有技术的三坐标测量机测量过程中需更换测头装置，影响测量精度和效率。为克服现有技术存在的不足，本实用新型提供的技术方案是一种可实现多种测量方式的三坐标测量机，包括XZ滑架，所述XZ滑架上设置有两套Z轴运动组件，所述两套Z轴运动组件内各包含一根Z轴，两根Z轴在铅垂方向上平行布置，每根Z轴上均安装有一套测头装置。本实用新型不需要更换测头来实现另外一种测量方式，而可以直接用另外一根Z轴进行测量，提高了测量效率。
文档编号G01B21/00GK202648635SQ20122024782
公开日2013年1月2日 申请日期2012年5月30日 优先权日2012年5月30日
发明者徐少臣, 薛军鹏, 李旭华 申请人:西安爱德华测量设备股份有限公司