专利名称：一种led加速老化测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种LED测试仪器，特别是一种LED老化测试仪。
背景技术：
在LED生产企业，需要采用LED加速老化测试仪对产品进行老化试验测试，测试的时候，首先将LED芯片固定在测试架上，然后将测试架置于_40°C到+150°C环境中进行加速老化测试，现有的测试架边框及支撑脚为塑料或塑胶件，测试时在加速LED老化的同时，也在加速测试架的老化，致使测试架产生形变及材料老化，使用寿命较短。
实用新型内容为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种使用寿命长、LED芯片固定方便、可靠的LED加速老化测试仪。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种LED加速老化测试仪，包括测试架，所述测试架包括由金属材料制成的边框，所述边框内安装有PCB板，所述PCB板上设置有用于固定LED芯片的固定结构。作为本实用新型的进一步改进，所述边框由铝合金材料制成。所述边框的内壁设置有台阶，所述PCB板下侧的周边贴在所述台阶的上侧面上。所述边框的下侧安装有底板。所述底板顶面的周边贴在所述台阶的下侧面上。所述底板的下侧面上连接有由硅胶材料制成的支撑脚。所述固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针。所述固定结构为矩阵式排列的夹子。本实用新型的有益效果是本实用新型的边框由金属材料制成，金属边框使用寿命长，不会变形，边框内安装有PCB板，PCB板上排列有用于固定LED芯片的固定结构，该固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针或夹子，LED芯片固定方便、可靠，在边框的底部设置有由硅胶材料制成的支撑脚，能够将测试架层叠堆码，放置方便，具有结构简单、使用寿命长等优点。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是测试架的第一种实施方式结构示意图；图2是图1所示测试架结构分解示意图；图3是边框的截面图；图4是测试架的第二种实施方式结构示意图。
具体实施方式
[0019]参照图1至图4，一种LED加速老化测试仪，包括测试架，所述测试架包括由金属材料制成的边框1，在本实施例中，边框I由铝合金材料制成，铝合金材料质量轻，强度大，可以满足各种环境测试的要求。所述边框I内安装有PCB板2，所述PCB板2上设置有用于固定LED芯片的固定结构，边框的下侧安装有底板6，所述底板6的下侧面上连接有支撑脚4，支撑脚4由硅胶材料制成，具有耐高温、耐低温等优点，该支撑脚4也可以直接固定在边框的底部。所述边框I的内壁设置有台阶7，所述PCB板2下侧的周边贴在所述台阶7的上侧面上，并通过螺丝5将PCB板2固定在台阶7上，这样，一方面便于固定PCB板，另一方面，PCB板2的表面低于边框I的表面，适合层贴放置。所述底板6顶面的周边贴在所述台阶7的下侧面上，并通过螺丝将底板6固定在台阶7上。固定结构根据不用的测试对象有不同的结构，比如测试带插脚的LED芯片，则固定结构为与LED芯片的插脚对应的插接孔，如测试体积较小的LED芯片，则适宜采用矩阵式排列的弹簧顶针3 (如图1、图2所示)，如测试体积较大的LED芯片，则适宜采用矩阵式排列的夹子8 (如图4所示)。
权利要求1.一种LED加速老化测试仪，包括测试架，其特征在于所述测试架包括由金属材料制成的边框(I)，所述边框(I)内安装有PCB板(2 )，所述PCB板(2 )上设置有用于固定LED芯片的固定结构。
2.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述边框(I)由铝合金材料制成。
3.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述边框(I)的内壁设置有台阶(7)，所述PCB板(2)下侧的周边贴在所述台阶(7)的上侧面上。
4.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述边框的下侧安装有底板(6)。
5.根据权利要求3或4所述的测试仪，其特征在于所述底板(6)顶面的周边贴在所述台阶(7)的下侧面上。
6.根据权利要求5所述的测试仪，其特征在于所述底板(6)的下侧面上连接有由硅胶材料制成的支撑脚(4)。
7.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针(3)。
8.根据权利要求1所述的测试仪，其特征在于所述固定结构为矩阵式排列的夹子(8)。
专利摘要本实用新型公开了一种LED加速老化测试仪，包括测试架，测试架包括由金属材料制成的边框，边框内安装有PCB板，PCB板上设置有用于固定LED芯片的固定结构，金属边框使用寿命长，不会变形，固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针或夹子，LED芯片固定方便、可靠，在边框的底部设置有由硅胶材料制成的支撑脚，能够将测试架层叠堆码，放置方便，具有结构简单、使用寿命长等优点。
文档编号G01R31/26GK202886551SQ20122062867
公开日2013年4月17日 申请日期2012年11月26日 优先权日2012年11月26日
发明者罗芸 申请人:罗芸