专利名称：晶体管测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电气测试领域，特别是涉及一种晶体管测试装置。
背景技术：
随着电子科技的发展，电子元器件的应用越来越广泛，尤其是晶体管的应用。人们在购买或使用晶体管时常需要知道所购买或使用的晶体管是否可用，在使用晶体管时还需要知道晶体管的参数，以用于电路开发或电子维修。在晶体管测试初期，采用万用表测试晶体管的好坏，比较麻烦，且测试晶体管参数时测试数据不准确。目前，常用手动晶体管测试仪测试晶体管参数，使用时通过测试开关控制测试。使用开关控制晶体管测试，在进行大量晶体管测试时需要人工频繁控制开关开断，比较麻烦。
实用新型内容基于此，有必要针对进行大量测试时需要人工频繁控制开关较麻烦的问题，提供一种不需人工控制的晶体管测试装置。一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。在其中一个实施例中，所述测试控制模块包括感应开关和第一继电器，所述感应开关连接所述第一继电器的线圈，所述第一继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。在其中一个实施例中，所述第一继电器的常开开关接地的一端串联第一下拉电阻。在其中一个实施例中，所述测试控制模块还包括控制灯，对应所述第一继电器还包括常闭开关，所述控制灯连接所述第一继电器的常闭开关。在其中一个实施例中，所述测试控制模块还包括延时电路单元；所述延时电路单元连接所述第一继电器的常开开关，所述延时电路单元的信号输出端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。在其中一个实施例中，所述延时电路单元为延时继电器组成的延时电路；所述第一继电器的线圈连接所述感应开关，所述第一继电器的常开开关连接所述延时继电器的线圈，所述延时继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。在其中一个实施例中，所述延时继电器的常开开关接地的一端串联第二下拉电阻。在其中一个实施例中，还包括显示模块，所述测试模块的信号输出端连接所述显不模块的信号输入端。上述晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，包括测试模块和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块。当晶体管接入时，测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，测试后，晶体管撤离测试装置，测试控制模块控制测试模块自动停止测试。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。
图1为本实用新型晶体管测试装置一实施例的模块图；图2为本实用新型晶体管测试装置另一实施例的模块图；图3为本实用新型晶体管测试装置又一实施例的模块图；图4为本实用新型晶体管测试装置再一实施例的模块图。
具体实施方式
一种晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，通过设置测试控制模块，当晶体管接入测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动对晶体管进行测试，当晶体管撤离测试模块时测试自动停止。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。
以下结合附图和实施例对本实用新型进行进一步详细说明。图1所示，为本实用新型晶体管测试装置一实施例的模块图。一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块10和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块20，测试控制模块20的信号输出端连接测试模块10。当晶体管接入测试模块10时，测试控制模块20自动感应并控制测试模块10对晶体管进行测试；当晶体管撤离测试模块10时，测试控制模块20控制测试模块10自动停止测试。在对晶体管进行大量测试时，只需将晶体管测试装置上电，将晶体管接入测试模块10后进行自动检测，晶体管撤离测试模块10后自动停止检测。避免了人工手工频繁的开关操作，方便省时。测试控制模块20包括感应开关Kl和第一继电器220，感应开关Kl连接第一继电器220的线圈，第一继电器的常开开关K2 —端接地另一端作为测试控制模块20的信号输出端连接测试模块10。当感应开关Kl感应到晶体管接入测试模块10后闭合，第一继电器220的线圈得电，第一继电器220的常开开关K2闭合，测试模块10得电对晶体管进行测试。晶体管撤离后，感应开关Kl断开，第一继电器220的线圈断电，第一继电器220的常开开关K2断开，测试模块10断电并停止对晶体管的测试。上述感应开关Kl对晶体管的接入位置进行监测，当晶体管接入到位后感应开关Kl自动闭合；当晶体管撤离后，感应开关Kl自动断开。具体的，上述感应开关Kl可为红外感应开关。在其他实施例中，还可以采用键合开关等，晶体管占据位置使得感应开关Kl闭合，否则感应开关Kl就断开。参考图2，该晶体管测试装置还包括控制灯240，控制灯240连接第一继电器的常闭开关K3。当晶体管接入测试模块10时，感应开关Kl闭合，第一继电器220的线圈得电，第一继电器220的常开开关Κ2闭合,测试模块10得电开始测试。同时,第一继电器220的常闭开关Κ3断开，晶体管测试装置上电后点亮的控制灯240断电熄灭，表示晶体管已经接入测试模块10并已接入到位。上述晶体管测试装置，晶体管接入测试模块10后对其进行测试时，通过控制灯240显示晶体管是否接入。晶体管接入后，控制灯240熄灭，表示晶体管接触良好，如果此时测试出现故障，可能测试模块10出现问题；如果晶体管接入测试模块10后，控制灯240仍继续处于点亮状态，可能晶体管未接入到位，此时可对故障点进行排查。通过设置控制灯240可更加明确故障点，方便排查，节省时间并提高机器检修效率。进一步，上述晶体管测试装置还包括延时电路单元(图未示)，延时电路单元连接第一继电器220的常开开关Κ2后连接电源，延时电路单元的信号输出端作为测试控制模块20的信号输出端连接测试模块10，用于控制测试模块10延时对晶体管进行检测。参考图3，上述延时电路单元为延时继电器260组成的延时电路。第一继电器220的线圈连接感应开关Kl后连接电源，第一继电器220的常开开关Κ2连接延时继电器260的线圈后连接电源，第一继电器220的常闭开关Κ3连接控制灯240后连接电源，延时继电器260的常开开关Κ4 一端接地另一端作为测试控制模块20的信号输出端连接测试模块10。上述晶体管测定装置设置控制灯240对晶体管接入状态进行检测，如果测试装置10开始对晶体管进行检测时控制灯240还未熄灭，则其余光会影响测试模块10的测试结果，通过设置延时继电器260的延时时间控制测试模块10适时开始测试。当晶体管接入时，感应开关Kl闭合，第一继电器220的线圈得电，第一继电器220的常开开关Κ2闭合延时继电器260开始工作，同时第一继电器220的常闭开关Κ3断开，控制灯240熄灭，通过设置延时继电器260的延时时间，在控制灯240刚好熄灭时或刚好熄灭后极短时间内延时继电器常开开关Κ4闭合，测试模块10得电开始测试。通过合理设置延时继电器260的延时时间，保证控制灯240熄灭后测试模块10开始测试，不影响测试效果，延时时间设置合理，不会影响测试的效率。同时，延时时间可以进行调节，以配合不同的控制灯240。如图2所示，与测试模块10连接的第一继电器220的常开开关Κ2的接地的一端连接第一下拉电阻Rl，当上述第一继电器220的常开开关Κ2闭合时，通过第一下拉电阻Rl提供给测试模块10 —个固定的低电平，使测试模块10接通电源开始测试。同样的，如图3所示，与测试模块10连接的延时继电器260的常开开关Κ4的接地的一端连接第二下拉电阻R2，当上述延时继电器260的常开开关Κ4闭合时，通过第二下拉电阻R2提供给测试模块10 —个固定的低电平，使测试模块10得电开始测试。如图4所示，上述晶体管测试装置还包括显示模块280，显示模块280连接电源，测试模块10的信号输出端连接显示模块280的信号输入端。通过显示模块280将测试模块10对晶体管的测试结果进行数据显示，当显示结果正常，则进行下一步操作。如果显示结果异常，则配合控制灯240 (参考图2)的状态进行检修，对故障进行排查。以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
权利要求1.一种晶体管测试装置，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块，其特征在于，还包括检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块，所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
2.根据权利要求1所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块包括感应开关和第一继电器，所述感应开关连接所述第一继电器的线圈，所述第一继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
3.根据权利要求2所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述第一继电器的常开开关接地的一端串联第一下拉电阻。
4.根据权利要求2所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块还包括控制灯，对应所述第一继电器还包括常闭开关，所述控制灯连接所述第一继电器的常闭开关。
5.根据权利要求4所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述测试控制模块还包括延时电路单元；所述延时电路单元连接所述第一继电器的常开开关，所述延时电路单元的信号输出端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
6.根据权利要求5所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述延时电路单元为延时继电器组成的延时电路； 所述第一继电器的线圈连接所述感应开关，所述第一继电器的常开开关连接所述延时继电器的线圈，所述延时继电器的常开开关一端接地另一端作为所述测试控制模块的信号输出端连接所述测试模块。
7.根据权利要求6所述的晶体管测试装置，其特征在于，所述延时继电器的常开开关接地的一端串联第二下拉电阻。
8.根据权利要求1所述的晶体管测试装置，其特征在于，还包括显示模块，所述测试模块的信号输出端连接所述显示模块的信号输入端。
专利摘要本实用新型公开了一种晶体管测试装置，用于对晶体管参数和使用状态进行测试，包括对接入的晶体管进行测试的测试模块和检测晶体管的接入状态并根据晶体管的接入状态输出测试控制信号的测试控制模块。当晶体管接入测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动对晶体管进行测试；晶体管撤离测试模块时，测试控制模块控制测试模块自动停止测试。通过测试控制模块自动控制测试模块对晶体管进行测试，在进行大量测试时，避免了手工频繁的开关操作，十分方便。
文档编号G01R31/26GK202975255SQ20122067672
公开日2013年6月5日 申请日期2012年12月10日 优先权日2012年12月10日
发明者余廷义 申请人:深圳深爱半导体股份有限公司