一种测试装置的制作方法

文档序号:6218190阅读:272来源:国知局
专利名称:一种测试装置的制作方法
技术领域
本发明是关于一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置的拍摄效果。
背景技术
目前,在拍摄装置制造过程中,一般需要对其拍摄效果进行测试,以确保优良的产品流向市场。其中,测试时,可参照图1所示,被测试的拍摄装置5—般设置于遮光箱I中,遮光箱I的内壁上设置有测试图样2,以供拍摄装置5拍摄使用,测试时,经测试图样2的光线直接入射至被测试的拍摄装置5中,然后通过分析拍摄的影像正常与否来确认拍摄装置是否合格。但是,此种测试装置的局限性在于,一次只能测试一个拍摄装置,使得测试的效率较低。为了解决上述问题,又出现了以下解决方案。例如可参照图2所示,将待测试的两个拍摄装置50、51并排放置于遮光箱中,并且水平方向上保持一定的距离,经测试图样20的光线直接入射至被测试的两个拍摄装置50、51中,但此种方式使得该两个拍摄装置50、51无法同时对准该测试图样20的中心,至少会有一个有较大尺寸的偏移,不符合测试的要求。基于上述的缺陷,又出现了另一种改进方案,如参照如图3所示,两个拍摄装置52、53相对稍为旋转,使其都对准测试图样21的中心,但此种方式虽然中心点正确,但画面的边角除了有梯形变形外,左右侧也会因偏离焦平面而造成模糊,无法正确的测试角落的测试图样,使得测试的品质降低,不符合测试要求。因此,有必要设计一种新的测试装置,以克服上述缺陷。

发明内容
本发明的目的在于提供一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置的拍摄效果,提闻拍摄的效率。为达到上述目的,本发明提供了一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置,包括,遮光箱,其具有第一内壁,该第一内壁上设置有第一测试图样,用于供该拍摄装置拍摄;以及第一半穿半反式光学元件,与该第一测试图样相对设置,该第一半穿半反式光学元件具有第一光学临界面、第一主光路、第一反射光路和第一透射光路,经该第一测试图样的光线沿该第一主光路经该第一光学临界面形成沿该第一反射光路的第一反射光线和沿该第一透射光路的第一透射光线;其中,该测试装置具有对应于该第一反射光路的第一测试位置和对应于该第一透射光路的第二测试位置,当第一拍摄装置设置于该第一测试位置、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置而测试时,经该第一测试图样的光线经该第一光学临界面反射该第一反射光线至该第一拍摄装置、且透射该第一透射光线至该第二拍摄装置。较佳的,该第一半穿半反式光学兀件固定于该遮光箱的外侧,该遮光箱对应设有开口以供经该第一测试图样的光线通过;该第一测试位置和该第二测试位置对应设置于该遮光箱的外侧。较佳的,该遮光箱还具有第二内壁,该第二内壁与该第一内壁相邻,该第二内壁上设置有第二测试图样,用于供该拍摄装置拍摄,该测试装置进一步包括:第二半穿半反式光学元件,与该第二测试图样相对设置,该第二半穿半反式光学元件具有第二光学临界面、第二主光路、第二反射光路和第二透射光路,经该第二测试图样的光线沿该第二主光路经该第二光学临界面形成沿该第二反射光路的第二反射光线和沿该第二透射光路的第二透射光线;其中,该测试装置具有对应于该第二反射光路的第三测试位置和对应于该第二透射光路的第四测试位置,当第三拍摄装置设置于该第三测试位置、且第四拍摄装置设置于该第四测试位置而测试时,经该第二测试图样的光线经该第二光学临界面反射该第二反射光线至该第三拍摄装置、且透射该第二透射光线至该第四拍摄装置。较佳的,该遮光箱还具有第三内壁,该第三内壁上设置有第三测试图样,用于供该拍摄装置拍摄,该第三内壁与该第一内壁及该第二内壁相邻接,该测试装置进一步包括:第三半穿半反式光学元件,与该第三测试图样相对设置,该第三半穿半反式光学元件具有第三光学临界面、第三主光路、第三反射光路和第三透射光路,经该第三测试图样的光线沿该第三主光路经该第三光学临界面形成沿该第三反射光路的第三反射光线和沿该第三透射光路的第三透射光线;其中,该测试装置具有对应于该第三反射光路的第五测试位置和对应于该第三透射光路的第六测试位置,当第五拍摄装置设置于该第五测试位置、且第六拍摄装置设置于该第六测试位置而测试时,经该第三测试图样的光线经该第三光学临界面反射该第三反射光线至该第五拍摄装置、且透射该第三透射光线至该第六拍摄装置。较佳的,该第一半穿半反式光学兀件为直角棱镜,该直角棱镜包括:第一入光面,与该第一测试图样相平行,且该第一入光面对应于该直角棱镜的直角边;第一出光面,与该第一入光面相垂直,且该第一出光面对应于该直角棱镜的另一直角边;其中,该第一光学临界面对应于该直角棱镜的斜边,且该第一光学临街面与该第一入光面及该第一出光面之间的夹角均为45度;经该第一测试图样的光线经第一入光面入射至该第一光学临界面并且经该第一光学临界面反射的该第一反射光线经该第一出光面透射至该第一拍摄装置,经该第一光学临界面透射的该第一透射光线直接透射至该第二拍摄装置。较佳的,该第一半穿半反式光学元件由两个三棱镜组成,该两个三棱镜通过光学胶相胶合,且该两个三棱镜的胶合面为该第一光学临界面。较佳的,该拍摄装置为具有拍摄功能的通讯装置或独立式摄像头。较佳的,经该第一测试图样的光线为经该第一测试图样反射或透射的光线,或者为该第一测试图样直接发出的光线。与现有技术相比,该测试装置可以同时测试多个拍摄装置的拍摄效果,提高了测试效率,且结构简单。


图1为现有技术的结构示意图。图2为另一种现有技术的结构示意图。图3为第三种现有技术的结构示意图。图4为本发明一种测试装置的第一实施例的结构示意图。图5为本发明一种测试装置的第二实施例的结构示意图。图6为本发明一种测试装置的第三实施例的结构示意图。
图7为本发明一种测试装置的第四实施例的结构示意图。图8为本发明一种测试装置的第五实施例的结构示意图。图9为本发明一种测试装置的第六实施例的结构示意图。
具体实施例方式为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解,兹配合实施例详细说明如下。参照图4示,为本发明一种测试装置的第一实施例的结构示意图。本发明测试装置包括遮光箱1、第一测试图样2以及第一半穿半反式光学元件3,可同时测试第一拍摄装置(图中未画出)和第二拍摄装置(图中未画出)。遮光箱1,为密闭的箱体,形成一个较佳的测试空间,以避免外界的光线或其它情况干扰测试的效果,且遮光箱I具有第一内壁10。第一测试图样2设置于该遮光箱I的内壁10上,可以反射或透射光源光线,用以供该第一拍摄装置和该第二拍摄装置拍摄。其中,若测试图样为无背光的测试图样,则需在该遮光箱I的箱体内设置光源以照亮该测试图样,且光源可在该测试图样前方选两个相对的侧面内壁安装即可,测试图样便可反射光源发出的光线,用以供该第一拍摄装置和该第二拍摄装置拍摄,如此一来,为保证测试效果,遮光箱I的内部最多安装两个测试图样,提供四个测试位置;若测试图样具有背光源,则该测试图样便可投射光源发出的光线,用以供该第一拍摄装置和该第二拍摄装置拍摄,且一个遮光箱内最多可安装三个测试图样,提供六个测试位置;此外,若光源安装在测试图样正对面的遮光箱的内壁,则测试图样亦可反射光源发出的光线供拍摄装置拍摄,且遮光箱内最多安装三个测试图样,提供六个测试位置。而具体使用哪种光源,则可依实际情况进行设计。第一半穿半反式光学元件3,与该第一测试图样2相对设置。该第一半穿半反式光学兀件3具有第一光学临界面30、第一主光路31、第一反射光路32和第一透射光路33,经该第一测试图样2的光线沿该第一主光路31经该第一光学临界面30形成沿该第一反射光路31的第一反射光线34和沿该第一透射光路的第一透射光线35。在此需要进一步说明的是,经该第一测试图样的光线可以为经该第一测试图样反射或透射的光线,亦或者为该第一测试图样直接发出的光线(例如该第一测试图样为发光材料制成可直接发射光线)。其中,该测试装置具有对应于该第一反射光路32的第一测试位置61和对应于该第一透射光路33的第二测试位置62,当第一拍摄装置设置于该第一测试位置61、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置62而测试时,经该第一测试图样2的光线经该第一光学临界面30反射该第一反射光线34至该第一拍摄装置、且透射该第一透射光线35至该第二拍摄装置。此外,在测试时,该第一拍摄装置及该第二拍摄装置与该第一半穿半反式光学元件3的距离、该第一测试图样与该第一半穿半反式光学元件3的距离,均依据该第一拍摄装置及该第二拍摄装置的光学参数及测试要求设置,此为业界技术人员的基本常识,在此不再细述。通过本实施例技术方案,该第一拍摄装置及该第二拍摄装置均能对应该第一测试图样的中心且可拍到完全相同的测试图样,便于测试人员的测试分析,因此本发明测试装置实现同时测试两个拍摄装置,保证了测试的效果的同时提高了测试的效率。此外,该第一半穿半反式光学元件3以及拍摄装置可以设置于遮光箱I的内部亦可设置于遮光箱I的外部,均能满足测试要求,达到测试效果。但是,较佳的,参照图5所示,该第一半穿半反式光学元件3’固定于该遮光箱I’的外侧,该遮光箱I’对应设有开口 14’以供经该第一测试图样2’的光线通过;该第一测试位置61’和该第二测试位置62’对应设置于该遮光箱I’的外侧,如此可使得该遮光箱I’内侧的测试环境保持相对的稳定,而且可便于测试人员取放该第一测试装置及该第二测试装置,进一步的保证了测试效果、提高测试效率。进一步,本发明测试装置的第一半穿半反式光学元件可为特定角度倾斜的平面镜、也可为三棱镜或四棱镜,只要其具备半穿半反的光学特性,均能达到本发明的效果。需要说明的是,三棱镜的架设固定容易且在仪器市场方便取得,而两组胶合的三棱镜更具有以下优点:半穿半反射面密封在内部,不易因环境因素如潮湿或擦拭而损坏,具有较长的使用寿命。参照图6所示,第一半穿半反式光学元件9为直角棱镜,具有第一光学临界面90、第一主光路91、第一反射光路92、第一透射光路93、第一入光面96、第一出光面97,其中,该第一光学临界面90与该第一入光面96及该第一出光面97之间的夹角均为45度,第一入光面及第一出光面分别对应于该直角棱镜的两条直角边。从该第一测试图样21出的光线自第一入光面96入射进该第一半穿半反式光学元件9,并沿该第一主光路91经该第一光学临界面90形成沿该第一反射光路92的第一反射光线94和沿该第一透射光路93的第一透射光线95。此外,测试装置设置的第一测试位置61对应于该第一反射光路91及该第一出光面97,第二测试位置62对应于该第一透射光路93,当第一拍摄装置(图中未画出)设置于该第一测试位置61、且第二拍摄装置(图中未画出)设置于该第二测试位置62而测试时,经该第一测试图样21的光线经该第一光学临界面90反射的该第一反射光线94经该第一出光面97后透射至该第一拍摄装置,经该第一测试图样21的光线经该第一光学临界面90透射的该第一透射光线95直接透射至该第二拍摄装置。此外,该第一半穿半反式光学元件可由两个三棱镜组成,该两个三棱镜通过光学胶相胶合,且该两个三棱镜的胶合面(结合面)为该第一光学临界面。如参照图7所示,该第一半穿半反式光学兀件包括第一棱镜9和第二棱镜900,两者通过光学胶相胶合在一起,该第二棱镜900与该直角棱镜9的胶合面即为该第一光学临界面。该第一棱镜9具有第一入光面96、第一出光面97和第一粘合面98,第一出光面97与该第一入光面96相垂直且与该第一测试位置61相对应设置;该第二棱镜900包括:第二粘合面901与第二出光面902,该第二粘合面901与该第一粘合面98平行设置且与该第一粘合面98相胶合以形成第一光学临界面,第二出光面902与该第二粘合面901的夹角为45度且与该第二测试位置62相对设置;自该第一光学临界面透射的该第一透射光线95经过该第二出光面902后透射至该第二测试位置62处的第二拍摄装置,自该第一光学临界面反射的该第一反射光线94经过该第一出光面97后透射至该第一测试位置61处的第一拍摄装置。参照图8所示,为本发明一种测试装置的第五实施例的结构示意图。与第一实施例的不同之处在于,本实施例中,本发明测试装置具有两个半穿半反式光学元件,可同时测试4个拍摄装置,详见下述描述。如图8示,该遮光箱I还具有与该第一内壁10相邻的第二内壁11,该第二内壁上11设置有第二测试图样20,用于供待测试的拍摄装置拍摄,该第二测试图样20和该第一测试图样2位于同一水平面上;该测试装置进一步包括:第二半穿半反式光学元件7,与该第二测试图样20相对设置,该第二半穿半反式光学元件7具有第二光学临界面70、第二主光路71、第二反射光路72和第二透射光路73,经该第二测试图样20的光线沿该第二主光路71经该第二光学临界面70形成沿该第二反射光路72的第二反射光线74和沿该第二透射光路73的第二透射光线75。此外,该测试装置进一步具有对应于该第二反射光路72的第三测试位置63和对应于该第二透射光路73的第四测试位置64,当第三拍摄装置(图中未画出)设置于该第三测试位置63、且第四拍摄装置(图中未画出)设置于该第四测试位置64而测试时,经该第二测试图样20的光线经该第二光学临界面70反射该第二反射光线74至该第三拍摄装置、且透射该第二透射光线75至该第四拍摄装置。需要说明的是,为充分利用空间,该第二主光路71与该第一主光路31可以垂直相交。通过本实施例,该第三拍摄装置及该第四拍摄装置可拍到完全相同的第二测试图样,便于测试人员的测试分析。此外,因本实施例中,测试装置所包括的第一半穿半反式光学元件3的结构及原理在第一实施例中已描述,故在此不再描述。综上所述,测试时,该第一测试图样2、第一半穿半反式光学元件3形成第一组测试元件,同时测试该第一拍摄装置和该第二拍摄装置;该第二测试图样20、第二半穿半反式光学元件7形成第二组测试元件,同时测试该第三拍摄装置和该第三拍摄装置;上述该第一组测试元件和该第二组测试元件可同时进行测试,实现同时测试4个拍摄装置,进一步的提高了测试的效率,满足了制造需求。其中,该第二半穿半反式光学元件7结构和该第一半穿半反式光学元件3的结构可以相同或不同,设计人员可以根据实际情况自行设计。在此需要进一步说明的是,经该第二测试图样的光线可以为经该第二测试图样反射或透射的光线,亦或者为该第二测试图样直接发出的光线(例如该第一测试图样为发光材料制成可直接发射光线),其光线的产生依据实际状况,与第一实施例类似,在此不再赘述。参照图9,为本发明一种测试装置的第六实施例的结构示意图。本实施例中,测试装置具有三个半穿半反式光学元件,可实现同时测试6个拍摄装置,更进一步的提高测试的效率。如图9所示,本发明测试装置具有第一测试图样(图中未画出)及对应第一半穿半反式光学元件3”、第二测试图样(图中未画出)及对应的第二半穿半反式光学元件7”、第三测试图样(图中未画出)及对应的第三半穿半反式光学元件8”,第一半穿半反式光学元件3”设置于遮光箱I”的第一外侧12”、第二半穿半反式光学元件7”设置于遮光箱I”的第二外侧13”,第三半穿半反式光学元件8”设置于遮光箱I”的第三外侧15”,其中该第一外侧12”与该第二外侧13”相邻,该第三外侧15”分别与该第一外侧12”及第二外侧13”相邻,本实施例中第三外侧15”为遮光箱I”的顶部,第一测试图样、第二测试图样及第三测试图样对应设置于该遮光箱I的内壁上。其中第一测试图样和第一半穿半反式光学元件3”组成第一组测试元件,第二测试图样和第二半穿半反式光学元件7”组成第二组测试元件,第三测试图样和第三半穿半反式光学元件8”组成第三组测试元件。其中上述每组测试元件的结构以及位置关系与图8所示的第五实施例类似,本领域的技术人员均可依据第五实施例得出本实施例的结构,在此不再细述。上述每组测试元件可同时测试两个拍摄装置,本实施例中,本发明测试装置可实现同时测试六个拍摄装置。另外,需要进一步说明的是,测试时为了避免工厂内的灯光干扰光路部分必须有遮光措施,例如可以将遮光箱的门设计成掀门、滑门或者以遮光布幔等;为了提高测试的效率,上述光学元件(半穿半反式光学元件)及拍摄装置最好固定在遮光箱外侧,而从遮光箱的开孔处往内拍摄即可。较佳的,本发明测试装置用于检测通讯装置的摄像头的拍摄效果,或者用于检测独立式摄像头的拍摄效果。本发明已由上述相关实施例加以描述,然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是,已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地,在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰,均属本发明的专利保护范围。
权利要求
1.一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置,其特征在于,该测试装置包括, 遮光箱,其具有第一内壁,该第一内壁上设置有第一测试图样,用于供该拍摄装置拍摄;以及 第一半穿半反式光学元件,与该第一测试图样相对设置,该第一半穿半反式光学元件具有第一光学临界面、第一主光路、第一反射光路和第一透射光路,经该第一测试图样的光线沿该第一主光路经该第一光学临界面形成沿该第一反射光路的第一反射光线和沿该第一透射光路的第一透射光线; 其中,该测试装置具有对应于该第一反射光路的第一测试位置和对应于该第一透射光路的第二测试位置,当第一拍摄装置设置于该第一测试位置、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置而测试时,经该第一测试图样的光线经该第一光学临界面反射该第一反射光线至该第一拍摄装置、且透射该第一透射光线至该第二拍摄装置。
2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该第一半穿半反式光学元件固定于该遮光箱的外侧,该遮光箱对应设有开口以供经该第一测试图样的光线通过;该第一测试位置和该第二测试位置对应设置于该遮光箱的外侧。
3.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该遮光箱还具有第二内壁,该第二内壁与该第一内壁相邻,该第二内壁上设置有第二测试图样,用于供该拍摄装置拍摄,该测试装置进一步包括: 第二半穿半反式光学元件,与该第二测试图样相对设置,该第二半穿半反式光学元件具有第二光学临界面、第二主光路、第二反射光路和第二透射光路,经该第二测试图样的光线沿该第二主光路经该第二光学临界面形成沿该第二反射光路的第二反射光线和沿该第二透射光路的第二透射光线; 其中,该测试装置具有对应于该第二反射光路的第三测试位置和对应于该第二透射光路的第四测试位置,当第三拍摄装置设置于该第三测试位置、且第四拍摄装置设置于该第四测试位置而测试时,经该第二测试图样的光线经该第二光学临界面反射该第二反射光线至该第三拍摄装置、且透射该第二透射光线至该第四拍摄装置。
4.如权利要求3所述的测试装置,其特征在于,该遮光箱还具有第三内壁,该第三内壁上设置有第三测试图样,用于供该拍摄装置拍摄,该第三内壁与该第一内壁及该第二内壁相邻接,该测试装置进一步包括: 第三半穿半反式光学元件,与该第三测试图样相对设置,该第三半穿半反式光学元件具有第三光学临界面、第三主光路、第三反射光路和第三透射光路,经该第三测试图样的光线沿该第三主光路经该第三光学临界面形成沿该第三反射光路的第三反射光线和沿该第三透射光路的第三透射光线; 其中,该测试装置具有对应于该第三反射光路的第五测试位置和对应于该第三透射光路的第六测试位置,当第五拍摄装置设置于该第五测试位置、且第六拍摄装置设置于该第六测试位置而测试时,经该第三测试图样的光线经该第三光学临界面反射该第三反射光线至该第五拍摄装置、且透射该第三透射光线至该第六拍摄装置。
5.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该第一半穿半反式光学元件为直角棱镜,该直角棱镜包括: 第一入光面,与该第一测试图样相平行,且该第一入光面对应于该直角棱镜的直角边; 第一出光面,与该第一入光面相垂直,且该第一出光面对应于该直角棱镜的另一直角边; 其中,该第一光学临界面对应于该直角棱镜的斜边,且该第一光学临街面与该第一入光面及该第一出光面之间的夹角均为45度; 经该第一测试图样的光线经第一入光面入射至该第一光学临界面,并且经该第一光学临界面反射的该第一反射光线经该第一出光面透射至该第一拍摄装置,经该第一光学临界面透射的该第一透射光线直接透射至该第二拍摄装置。
6.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该第一半穿半反式光学元件由两个三棱镜组成,该两个三棱镜通过光学胶相胶合,且该两个三棱镜的胶合面为该第一光学临界面。
7.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,该拍摄装置为具有拍摄功能的通讯装置或独立式摄像头。
8.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,经该第一测试图样的光线为经该第一测试图样反射或透射的光线,或者 为该第一测试图样直接发出的光线。
全文摘要
本发明提供了一种测试装置,用于同时测试多个拍摄装置,该测试装置包括,遮光箱的第一内壁上设置有第一测试图样;以及第一半穿半反式光学元件,与该第一测试图样相对设置,具有第一光学临界面、第一主光路、第一反射光路和第一透射光路,经该第一测试图样的光线沿该第一主光路经该第一光学临界面形成沿该第一反射光路的第一反射光线和沿该第一透射光路的第一透射光线;其中,该测试装置具有对应于该第一反射光路的第一测试位置和对应于该第一透射光路的第二测试位置,当第一拍摄装置设置于该第一测试位置、且第二拍摄装置设置于该第二测试位置而测试时,第一反射光线入射至该第一拍摄装置、该第一透射光线至该第二拍摄装置。
文档编号G01M11/00GK103207061SQ20131010374
公开日2013年7月17日 申请日期2013年3月27日 优先权日2013年3月27日
发明者谢泳村, 林志颖 申请人:苏州佳世达电通有限公司, 佳世达科技股份有限公司
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