透镜光轴偏移测量方法

文档序号:6169671阅读:2134来源:国知局
透镜光轴偏移测量方法
【专利摘要】一种透镜光轴偏移测量方法,其用于测量一透镜的光轴偏移量。该透镜包括相对设置的底面和顶面,该底面形成一入光面,所述底面还设置有至少三个固定脚。该透镜光轴偏移测量方法包括以下几个步骤:利用影像感测器判别出透镜的各个固定脚的中心点位置,并以各固定脚的中心点构建出一个圆;利用影像感测器判别出入光面的中心点;比较固定脚所构建的圆的圆心与入光面的中心点之间的偏移量,得到透镜的光轴偏移量。
【专利说明】透镜光轴偏移测量方法

【技术领域】
[0001]本发明涉及一种透镜光轴偏移测量方法。

【背景技术】
[0002]发光二极管作为一种新型的发光源,已经被越来越广泛地应用在各个领域。例如在背光模组中就会大量运用到发光二极管。传统背光模组中的光源模组通常包括基板、设置在该基板上的发光二极管以及设置在该基板上并罩设发光二极管上的光学透镜,该透镜用于扩散发光二极管光源发出的光线,使背光模组的出光更加均匀化,减少发光二极管的使用数量。所述光学透镜一般包括三个固定脚,而基板上对应开设有三个固定孔,光学透镜通过其固定脚对应嵌合于固定孔中而被固定于基板上。由于基板上的固定孔与光学透镜的固定脚相对应,因此发光二极管是设置在基板上的固定孔所构成的圆的圆心处,从而使得发光二极管的光轴与光学透镜的光轴一致。但是,由于工艺上的原因,光学透镜的三个固定脚所构成的圆的圆心与光学透镜本身的光轴通常会存在偏移,如此会造成当光学透镜固定于基板上时,发光二极管的光轴与光学透镜的光轴会出现偏移,从而影响背光模组的出光效果。


【发明内容】

[0003]有鉴于此,有必要提供一种可测量透镜光轴与透镜的固定脚所构成的圆的圆心之间的偏移量的透镜光轴偏移测量方法。
[0004]—种透镜光轴偏移测量方法,其用于测量一透镜的光轴偏移量。该透镜包括相对设置的底面和顶面,该底面形成一入光面,所述底面还设置有至少三个固定脚。该透镜光轴偏移测量方法包括以下几个步骤:
利用影像感测器判别出透镜的各个固定脚的中心点位置,并以各固定脚的中心点构建出一个圆;
利用影像感测器判别出入光面的中心点;
比较固定脚所构建的圆的圆心与入光面的中心点之间的偏移量,得到透镜的光轴偏移量。
[0005]上述的透镜光轴偏移测量方法利用影像感测器判别出透镜的各个固定脚的位置,并以各固定脚构建出一个圆,通过比较该圆的圆心与入光面的中心点之间的偏移量,从而能得出透镜光轴与透镜的固定脚所构成的圆的圆心之间的偏移量。

【专利附图】

【附图说明】
[0006]图1为本发明实施方式中的光源模组的组装结构示意图。
[0007]图2为图1中的光源模组的分解结构示意图。
[0008]图3为图1中的光源模组的透镜的沿II1-1II方向的截面图。
[0009]图4为图1中的光源模组的透镜的倒置结构示意图。
[0010]图5为本发明实施方式中的透镜光轴偏移测量方法的示意图。
[0011]主要元件符号说明

【权利要求】
1.一种透镜光轴偏移测量方法,其用于测量一透镜的光轴偏移量,该透镜包括相对设置的底面和顶面,该底面形成一入光面,所述底面还设置有至少三个固定脚,该透镜光轴偏移测量方法包括以下几个步骤: 利用影像感测器判别出透镜的各个固定脚的中心点位置,并以各固定脚的中心点构建出一个圆; 利用影像感测器判别出入光面的中心点; 比较固定脚所构建的圆的圆心与入光面的中心点之间的偏移量,得到透镜的光轴偏移量。
2.如权利要求1所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述透镜用于固定于一基板上,所述基板上设有与透镜的固定脚相对应并供该固定脚嵌入的多个固定孔。
3.如权利要求2所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述基板上还设置有光源,所述透镜的入光面罩设所述光源。
4.如权利要求3所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述光源设置在基板上的位置通过所测量的透镜的光轴偏移量来进行调整,使得光源的光轴与入光面的中心点一致。
5.如权利要求1所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述透镜的底面为一平面,所述透镜的顶面为一朝远离透镜的底面方向突出的凸面,所述顶面为透镜的出光面。
6.如权利要求1所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述入光面由所述透镜底面中心朝顶面方向凹陷形成。
7.如权利要求6所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述入光面在透镜底面上的轮廓为圆形,所述入光面的中心点为该圆形的圆心。
8.如权利要求1所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述透镜的顶面中心朝底面方向凹陷形成一凹部。
9.如权利要求1所述的透镜光轴偏移测量方法,其特征在于:所述光源为发光二极管。
【文档编号】G01B11/14GK104132620SQ201310158213
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2013年5月2日 优先权日:2013年5月2日
【发明者】郭章纬 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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