一种超声波探伤中动态细分延迟的方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及超声波探伤术领域，具体而言，本发明涉及一种超声波探伤中动态细分延迟的方法及装置，其中方法包括获取阵元的采样点数据；获取整数延迟量和分数延迟量；对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变化量；根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序列；根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟处理，得到精确细分延迟后的采样点数据。通过本发明实施例，通过差分处理可以使得输入的采样序列连续，不会出现有技术中的跳变和噪声，并且通过多组分数延迟系数可以提高延迟分辨率的效果。
【专利说明】一种超声波探伤中动态细分延迟的方法及装置
【技术领域】
[0001] 本发明涉及超声波探伤术领域，具体而言，本发明涉及一种超声波探伤中动态细 分延迟的方法及装置。
【背景技术】
[0002] 超声相控阵技术是近年来无损检测领域的研究热点。通过对超声阵列换能器中各 个阵元施加独立的相位控制，可实现超声声束的聚焦和偏转。它可以灵活地采用多种扫描 方式进行检测，具有检测速度快，灵敏度、分辨力与信噪比高等特点，能检测形状复杂的物 体。
[0003] 在超声相控阵检测中，根据一定的聚焦法则，通过对超声换能器阵列中的各阵元 进行延迟激发，即可产生声束聚焦或偏转效果。与此同时，接收系统也需要依据各阵元与散 射体的距离，对各阵元的回波信号进行相应程度的延迟，以使各阵元回波信号相干累加，波 束成形技术是超声相控阵接收部分的关键技术，主要完成各阵元的相控发射、延迟接收、波 束合成等工作，是实现超声声束聚焦、偏转的关键，是超声成像质量的决定因素之一。
[0004] 偏转即控制声束扫描的方向，聚焦是指控制声束的能量集中点。从某种意义上说 偏转是一种焦点在某个方向上无穷远处的聚焦。偏转常与聚焦结合使用。超声成像中的各 种聚焦方法也代表着波束形成技术的不断进步。
[0005] 相控阵系统分辨力依赖于相控精度，而相控精度又取决于发射和接收的延迟分辨 力。发射部分的延迟分辨率可以用提高时钟频率、采用精密延迟线等方法较容易的实现，而 接收部分因为涉及到高速数据采集和数据处理，解决方案直接影响了系统的复杂程度。
[0006] 为了在较大测量范围内形成清晰的像，相控阵检测技术一般采用动态聚焦方法。 动态聚焦要求接收部分可以随时间动态的改变各阵元回波信号的延迟量，同时要在延迟量 改变时不引入跳变噪声，保证输出信号的准确连续有效。
[0007] 但是现有技术中采用FIFO或者双口 RAM实现整数延迟，这样方案简单可靠，但是 无法达到细分延迟的效果，延迟分辨率只能达到采样周期，要提高延迟分辨率需提高采样 频率。
[0008] 采用数值内插的办法在不提高硬件采样速率的情况下提高延迟分辨率，问题在于 需要较多的运算单元，数据量也成倍提升，增加了后续数据处理难度。
[0009] 采用可控时钟延迟和分数FIR滤波器相结合的办法，这种办法中经过可控时钟延 迟后的数据序列可能不是连续的数据序列，即两个相邻数据点之间的时间间隔不是采样周 期，从而经过FIR滤波器后会引入跳变噪声。
【发明内容】
[0010] 为了解决现有技术中延迟分辨率低，并且容易出现跳变信号出现噪声的问题，提 供了一种超声波探伤中动态细分延迟的方法及装置，可以输出连续的采样序列去除动态延 迟中的噪声，提高超声波探伤的准确度。 toon] 本发明实施例提供了一种超声波探伤中动态细分延迟的方法，包括，
[0012] 获取阵元的采样点数据；
[0013] 获取整数延迟量和分数延迟量；
[0014] 对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变化量；
[0015] 根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序列；
[0016] 根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟处理，得到精确细分延迟后的 采样点数据。
[0017] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟方法的一个进一步的 方面，在获取整数延迟量和分数延迟量中还进一步包括，根据所述获取采样点数据时的写 指针的位置加上所述整数延迟量得到读指针的位置。
[0018] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟方法的再一个进一步 的方面，所述差分处理包括，计算阵元当前整数延迟量和后续整数延迟量的变化得到所述 整数延迟量变化量，所述整数延迟量变化量为〇、1或2。
[0019] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟方法的另一个进一步 的方面，所述根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序列中进一步包 括，
[0020] 当所述整数延迟量变化量为0时，所述读指针的位置向采样序列尾部采样点的下 一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列的尾部，所述采样 序列向头部移动一个米样点数据；
[0021] 当所述整数延迟量变化量为1时,保持当前采样序列；
[0022] 当所述整数延迟量变化量为2时，所述读指针的位置向采样序列头部采样点的前 一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列的头部，所述采样 序列向尾部移动一个米样点。
[0023] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟方法的另一个进一步 的方面，所述分数延迟处理包括，预先存储η组分数延迟的系数，所述每一组分数延迟系数 以1/η采样周期为步进。
[0024] 本发明实施例还提供了一种超声波探伤中动态细分延迟装置，包括，
[0025] 采样点数据获取单元，延迟量获取单元，差分处理单元,整数延迟单元，分数延迟 单元；
[0026] 所述采样点数据获取单元用于获取阵元采样点数据；
[0027] 所述延迟量获取单元用于获取整数延迟量和分数延迟量；
[0028] 所述差分处理单元用于对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变化 量；
[0029] 所述整数延迟单元用于根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采 样序列；
[0030] 所述分数延迟单元用于根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟处理， 得到精确细分延迟后的采样点数据。
[0031] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置的一个进一步的 方面，所述整数延迟单元根据所述获取阵元采样点数据时的写指针的位置加上所述整数延 迟量得到读指针的位置。
[0032] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置的再一个进一步 的方面，所述差分处理单元进一步计算当前整数延迟量和后续整数延迟量的变化得到所述 整数延迟量变化量，所述整数延迟量变化量为〇、1或2。
[0033] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置的另一个进一步 的方面，
[0034] 当所述整数延迟量变化量为0时，所述整数延迟单元将所述读指针的位置向采样 序列尾部采样点的下一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样 序列的尾部，所述采样序列向头部移动一个采样点；
[0035] 当所述整数延迟量变化量为1时，所述整数延迟单元保持当前采样序列；
[0036] 当所述整数延迟量变化量为2时，所述整数延迟单元将所述读指针的位置向采样 序列头部采样点的前一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样 序列的头部，所述采样序列向尾部移动一个采样点。
[0037] 根据本发明实施例所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置的另一个进一步 的方面，预先存储η组分数延迟的系数，所述分数延迟单元根据所述每一组分数延迟系数 以1/η采样周期为步进。
[0038] 通过上述本发明实施例的方法及装置，通过差分处理可以使得输入的采样序列连 续，不会出现有技术中的跳变和噪声，并且通过多组分数延迟系数可以提高延迟分辨率的 效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0039] 结合以下附图阅读对实施例的详细描述，本发明的上述特征和优点，以及额外的 特征和优点，将会更加清楚。
[0040] 图1所示为发明实施例一种超声波探伤中动态细分延迟的方法流程图；
[0041] 图2所示为本发明实施例一种超声波探伤中动态细分延迟装置的流程图；
[0042] 图3所示为本发明实施例中延迟量示意图；
[0043] 图4所示为本发明实施例中采样序列延迟示意图；
[0044] 图5所述为本发明实施例中动态细分延迟处理示意图。
【具体实施方式】
[0045] 下面的描述可以使任何本领域技术人员利用本发明。具体实施例和应用中所提供 的描述信息仅为示例。这里所描述的实施例的各种延伸和组合对于本领域的技术人员是显 而易见的，在不脱离本发明的实质和范围的情况下，本发明定义的一般原则可以应用到其 他实施例和应用中。因此，本发明不只限于所示的实施例，本发明涵盖与本文所示原理和特 征相一致的最大范围。
[0046] 下面的详细说明以流程图、逻辑模块和其他的符号操作表达的形式给出，可以在 计算机系统上执行。一个程序、计算机执行步、逻辑块，过程等，在这里被设想为得到所希望 的结果的一个或多个步骤或指令的自洽序列。这些步骤是对物理量的物理操作。这些物 理量包括电、磁或者无线电信号，它们在计算机系统中被存储、传输、组合、比较以及其他操 作。这些信号可是比特、数值、元素、符号、字符、条件、数字等。每个步骤都可以通过硬件、 软件、固件或它们的组合执行。
[0047] 如图1所示为发明实施例一种超声波探伤中动态细分延迟的方法流程图。
[0048] 相控阵超声进行各种聚焦和偏转的扫查时，都需要找一个起始基准点，一般以中 心阵元为基准点，所以各阵元回波信号的延迟一般也以中心阵元回波信号为基准点。如图 所示，设定采样频率为F，声速为V，则每次采样间隔代表的声程即为1 = v/F，以中心阵元为 出发点设定的扫描线上的声程间距为1的点为预想的聚焦点，为了使得各阵元收到的来自 聚焦点的回波相干叠加，需对各阵元收到的波形进行准确延迟，各阵元与中心阵元到聚焦 点的声时差即为各阵元的延迟量，由图中可以看出最初的延迟量由各阵元与中心阵元的距 离决定。
[0049] 随着扫描时间的延续，预想聚焦点沿着扫描线延伸，同时各个阵元各自的延迟量 也在逐渐变化，根据三角关系，各阵元延迟量随着预想聚焦点的延伸逐渐减少，每个采样周 期内，延迟量的减少值不大于2个采样点。
[0050] 包括步骤101，获取阵元的采样点数据。
[0051] 步骤102,获取整数延迟量和分数延迟量。
[0052] 步骤103,对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变化量。
[0053] 步骤104,根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序列。
[0054] 步骤105,根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟，得到精确细分延迟 后的采样点数据。
[0055] 其中所述整数延迟量和分数延迟量可以通过现有技术中的方式获得，在本发明申 请中不做赘述。
[0056] 作为本发明的一个实施例，在所述步骤102之后还包括，根据所述获取采样点数 据时的写指针的位置加上所述整数延迟量得到读指针的位置。
[0057] 作为本发明的一个实施例，所述步骤103中的差分处理包括，计算阵元当前整数 延迟量和后续整数延迟量的变化得到所述整数延迟量变化量，所述整数延迟量变化量为〇、 1或2。
[0058] 作为本发明的一个实施例，在所述步骤104中还包括，当所述整数延迟量变化量 为0时，所述读指针的位置向采样序列尾部采样点的下一个采样点移动，执行读数据操作， 读入的采样点数据排入所述采样序列的尾部，所述采样序列向头部移动一个采样点数据；
[0059] 当所述整数延迟量变化量为1时,保持当前采样序列；
[0060] 当所述整数延迟量变化量为2时，所述读指针的位置向采样序列头部采样点的前 一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列的头部，所述采样 序列向尾部移动一个米样点。
[0061] 作为本发明的一个实施例，所述步骤105中的分数延迟包括，预先存储η组分数延 迟的系数，所述每一组分数延迟系数以1/η采样周期为步进。
[0062] 通过上述实施例，通过差分处理可以使得输入的采样序列连续，不会出现有技术 中的跳变和噪声，并且通过多组分数延迟系数可以提高延迟分辨率，从而提高超声波探伤 成像准确度的效果。
[0063] 如图2所示为本发明实施例一种超声波探伤中动态细分延迟装置的流程图。
[0064] 包括采样点数据获取单元201，延迟量获取单元202,差分处理单元203,整数延迟 单元204,分数延迟单元205。
[0065] 所述采样点数据获取单元201用于获取阵元采样点数据。
[0066] 所述延迟量获取单元202用于获取整数延迟量和分数延迟量。
[0067] 所述差分处理单元203用于对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变 化量。
[0068] 所述整数延迟单元204用于根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后 的采样序列。
[0069] 所述分数延迟单元205用于根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟 处理，得到精确细分延迟后的采样点数据。
[0070] 作为本发明的一个实施例，所述整数延迟单元204根据所述获取阵元采样点数据 时的写指针的位置加上所述整数延迟量得到读指针的位置。
[0071] 作为本发明的一个实施例，所述差分处理单元203进一步计算当前整数延迟量和 后续整数延迟量的变化得到所述整数延迟量变化量，所述整数延迟量变化量为〇、1或2。
[0072] 作为本发明的一个实施例，当所述差分处理结果为0时，所述整数延迟单元204将 所述读指针的位置向采样序列尾部采样点的下一个采样点移动，执行读数据操作，读入的 采样点数据排入所述采样序列的尾部，所述采样序列向头部移动一个采样点；
[0073] 当所述整数延迟量变化量为1时，所述整数延迟单元204保持当前采样序列；
[0074] 当所述整数延迟量变化量为2时，所述整数延迟单元204将所述读指针的位置向 采样序列头部采样点的前一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述 采样序列的头部，所述采样序列向尾部移动一个采样点。
[0075] 作为本发明的一个实施例，预先存储η组分数延迟的系数，所述分数延迟单元205 根据所述每一组分数延迟系数以1/η采样周期为步进。
[0076] 通过上述实施例，通过差分处理可以使得输入的采样序列连续，不会出现有技术 中的跳变和噪声，并且通过多组分数延迟系数可以提高延迟分辨率的效果。
[0077] 如图3所示为本发明实施例中延迟量示意图，相控阵超声进行各种聚焦和偏转的 扫查时，都需要找一个起始基准点，一般以中心阵元为基准点（如图中阵元Α)，所以各阵元 回波信号的延迟一般也以中心阵元回波信号为基准点。设定采样频率为F，声速为V，则每 次采样间隔代表的声程即为1 = v/F，以中心阵元为出发点设定的扫描线（Κ)上的声程间距 为1的点为预想的聚焦点，为了使得各阵元收到的来自聚焦点的回波相干叠加，需对各阵 元收到的波形进行准确延迟，各阵元与中心阵元到聚焦点的声时差即为各阵元的延迟量， 由图中可以看出最初的延迟量由各阵元与中心阵元的距离决定。
[0078] 随着扫描时间的延续，预想聚焦点（图中扫描线K上的点1、2…8)沿着扫描线延 伸，同时各个阵元各自的延迟量也在逐渐变化，根据三角关系，各阵元延迟量随着预想聚焦 点的延伸逐渐减少，每个采样周期内，延迟量的减少值不大于2个采样点。
[0079] 计算出各阵元各时刻的延迟量后可以对各自阵元的采样序列进行延迟处理，从而 保证各阵元对来自预想聚焦点的回波信号进行相干叠加。
[0080] 如图4所示为本发明实施例中采样序列延迟示意图，以中心阵元为基准，预想聚 焦点1的回波到达中心阵元A的声程为1，对应于中心阵元的第A1个采样值；经过测量，预 想聚焦点1的回波到达左边阵元B的声程大约为61，对应于左边阵元B的第B6个采样值； 预想聚焦点1的回波到达右边阵元C的声程大约为81，对应于左边阵元C的第C8个采样 值；对左边阵元的第B6个采样值，中心阵元的第A1个，右边阵元的第C8个的叠加即起到了 预想聚焦点1的回波的相干叠加，达到对相控聚焦的效果。对应于预想聚焦点2、3、4同理， 不再赘述。在现有技术中，针对预想聚焦点1、2、3、4来说，中心阵元输出序列为A1、A2、A3、 A4,左边阵元B经过整数延迟后输出的采样序列为B6、B6、B5、B5,右边阵元C经过整数延迟 后输出的采样序列为C8、C9、C9、C10,由于输出的采样序列不连续，使得后继的分数延迟处 理时造成噪声和跳变，影响探伤的准确性。
[0081] 为实现自动的相干叠加，需要根据各阵元延迟量对各阵元的采样序列进行动态延 迟，使得经过动态延迟后的输出采样序列都是相干回波的采样值，便于实现后续的相干叠 加操作。为了简便说明本发明的方法，以后均以中心阵元A和左边阵元B为例进行说明。
[0082] 在本发明实施例中输入的采样序列均存储于双口 RAM存储器中，作为其它的实施 例还可以存储于其它类型的存储器中。所述分数延迟可以主要由FIR滤波器构成，还包括 一数据表单，其中存储有η组具有分数延迟效果的FIR系数，各组系数的分数延迟以1/n采 样周期为步进。
[0083] 整数延迟单元对输入的采样序列数据进行缓存，同时根据差分处理单元计算得到 的差分处理结果，即整数延迟量变化量，对采样序列数据延迟后得到一个整数延迟后的连 续采样序列，送入分数延迟单元进行分数延迟处理。分数延迟单元依据分数延迟量选择不 同的FIR系数进行FIR滤波处理得到分数延迟后的采样序列数据。整数延迟量和分数延迟 量可动态改变，从而达到了动态细分延迟的效果。具体过程如图5中的动态细分延迟处理 示意图所示：
[0084] 采样序列数据输入后通过双口 RAM的写端口写入到RAM中，每写入一个数据，写入 指针加1。在初始状态时，确保RAM中已有足够的数据，否则将会发出相应报警提示，依据初 始的整数延迟量设置读指针位置，其与当前写入指针之间的地址差为整数延迟量。
[0085] 完成初始设置后，在动态改变延迟阶段，对整数延迟量进行差分处理，即为计算当 前整数延迟量和后续整数延迟量的变化，根据整数延迟量的变化对读指针的读出位置进行 调整。当延迟量不变化时，读指针指向当前采样序列尾部采样点（s a+3)的下个采样点（sa+4)， 执行读数据操作，即如图中读指针2读入Sa+4位置的采样点数据，读入的采样点数据排入采 样序列尾部，采样序列向头部移动一个采样点数据(移动后采样序列的头部采样点数据为 sa-3)。
[0086] 当延迟量减小1时，不执行任何操作，保持当前输出的采样序列。
[0087] 当延迟量减2时，读指针指向当前采样序列头部采样点（Sa_4)的前一个采样点 (S a_5)，执行读数据操作，即如图中读指针1读入Sa_5位置的采样点数据，读入数据排入采样 序列的头部，采样序列向尾部移动一个采样点数据(移动后采样序列的尾部采样点数据为 Sa+2)。
[0088] 由此可以保证输出的采样序列为整体延迟整数延迟后的连续采样序列。
[0089] 经过整数延迟单元处理后得到的整数延迟后的连续采样序列，送入分数延迟单 元。分数延迟单元中的FIR滤波器对连续采样序列进行FIR滤波，FIR系数表预先存入η 组具有分数延迟效果的FIR系数，各组系数的分数延迟以1/n采样周期为步进。其中以 Delay=X+l/4f为例，X为FIR滤波器整数基本延迟，f为1个采样周期。
[0090] 根据分数延迟量选择对应的FIR系数，进行FIR滤波处理，从而达到提高延迟分辨 率的效果。
[0091] 在另一个实施例中以图4中左边的阵元B为例说明其回波的整数延迟后的采样序 列，在该例中以中心阵元A为基准，左边阵元B和中心阵元A对应于各预想聚焦点的回波的 采样值分别为 ：
[0092] 表1 :阵元B对应的延迟量及延迟量变化表
[0093]
【权利要求】
1. 一种超声波探伤中动态细分延迟的方法，其特征在于包括， 获取阵元的采样点数据； 获取整数延迟量和分数延迟量； 对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变化量； 根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序列； 根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟处理，得到精确细分延迟后的采样 点数据。
2. 根据权利要求1所述的一种超声波探伤中动态细分延迟的方法，其特征在于，在获 取整数延迟量和分数延迟量中还进一步包括，根据所述获取采样点数据时的写指针的位置 加上所述整数延迟量得到读指针的位置。
3. 根据权利要求2所述的一种超声波探伤中动态细分延迟的方法，其特征在于，所述 差分处理包括，计算阵元当前整数延迟量和后续整数延迟量的变化得到所述整数延迟量变 化量，所述整数延迟量变化量为〇、1或2。
4. 根据权利要求3所述的一种超声波探伤中动态细分延迟的方法，其特征在于，所述 根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序列中进一步包括， 当所述整数延迟量变化量为〇时，所述读指针的位置向采样序列尾部采样点的下一个 采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列的尾部，所述采样序列 向头部移动一个采样点数据； 当所述整数延迟量变化量为1时，保持当前采样序列； 当所述整数延迟量变化量为2时，所述读指针的位置向采样序列头部采样点的前一个 采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列的头部，所述采样序列 向尾部移动一个米样点。
5. 根据权利要求1所述的一种超声波探伤中动态细分延迟的方法，其特征在于，所述 分数延迟处理包括，预先存储η组分数延迟的系数，所述每一组分数延迟系数以1/n采样周 期为步进。
6. -种超声波探伤中动态细分延迟装置，其特征在于包括， 采样点数据获取单元，延迟量获取单元，差分处理单元，整数延迟单元，分数延迟单 元； 所述采样点数据获取单元用于获取阵元采样点数据； 所述延迟量获取单元用于获取整数延迟量和分数延迟量； 所述差分处理单元用于对所述整数延迟量进行差分处理得到整数延迟量变化量； 所述整数延迟单元用于根据所述整数延迟量变化量得到连续的整数延迟后的采样序 列； 所述分数延迟单元用于根据所述分数延迟量对所述采样序列进行分数延迟处理，得到 精确细分延迟后的采样点数据。
7. 根据权利要求6所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置，其特征在于所述整数 延迟单元根据所述获取阵元采样点数据时的写指针的位置加上所述整数延迟量得到读指 针的位置。
8. 根据权利要求7所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置，其特征在于所述差分 处理单元进一步计算当前整数延迟量和后续整数延迟量的变化得到所述整数延迟量变化 量，所述整数延迟量变化量为〇、1或2。
9. 根据权利要求8所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置，其特征在于， 当所述整数延迟量变化量为〇时，所述整数延迟单元将所述读指针的位置向采样序列 尾部采样点的下一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列 的尾部，所述采样序列向头部移动一个采样点； 当所述整数延迟量变化量为1时，所述整数延迟单元保持当前采样序列； 当所述整数延迟量变化量为2时，所述整数延迟单元将所述读指针的位置向采样序列 头部采样点的前一个采样点移动，执行读数据操作，读入的采样点数据排入所述采样序列 的头部，所述采样序列向尾部移动一个采样点。
10. 根据权利要求6所述的一种超声波探伤中动态细分延迟装置，其特征在于，预先存 储η组分数延迟的系数，所述分数延迟单元根据所述每一组分数延迟系数以1/n采样周期 为步进。
【文档编号】G01N29/44GK104251886SQ201310258597
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2013年6月26日 优先权日:2013年6月26日
【发明者】曹永超, 彭雪莲, 杨长江, 孙磊 申请人:北京时代之峰科技有限公司