一种晶体熔点的测定装置和测定方法
【专利摘要】本申请涉及一种晶体熔点的测定装置和测定方法，利用在一定压强下任何晶体的凝固点与其熔点相同的原理，将熔点的测量转化为凝固点的测量。在晶体样品全熔一段时间后，利用校准的温差电偶代替温度计进入晶体样品中测定温度，并用电位差计来测量温差电偶的电势差，只要电位差计示数在一段时间内保持不变，此示数对应的电偶温度即为晶体的熔解点。
【专利说明】一种晶体熔点的测定装置和测定方法
【技术领域】
[0001]本申请属于生物制药与工业生产领域，涉及一种晶体熔点的测定装置和相应的测定方法。
【背景技术】
[0002]熔点是晶体的重要物理参数之一，晶体熔点的准确测定，除了能够鉴别物质是否纯净外，在生物制药及工业生产中也有着广泛的应用。目前晶体熔点的测定方法，普遍采用的是毛细管法，其基本测定过程如下:装在毛细管中的少量晶体样品通过传温介质吸收热量溶化，温度计绑定在毛细管上测量晶体样品温度，最后取初熔到全熔过程中的温度平均值作为晶体的熔点测定值。
[0003]上述方法存在如下缺陷:首先，需要靠人眼判别晶体样品的熔解程度和读取温度计温度，因此必然存在观测上的误差；再者，温度计绑定在毛细管上而不能进入样品中测量也会带来一定误差；另外，需要人为控制晶体样品初熔后的加热升温速度，以避免读取到的温度滞后于实际升温速度，而人为控制升温速度也是一件比较棘手的事，如果控制不当会带来很大误差。
[0004]
【发明者】宋宏伟, 王启银, 杨永刚, 杨保东, 赵锐, 张金晔 申请人:国家电网公司, 山西省电力公司大同供电分公司