一种薄单砂层厚度预测方法
【专利摘要】本发明提供了一种薄单砂层厚度预测方法，属于油藏储层预测技术，是利用高精度三维地震提取的平均反射强度属性简单、快捷定量描述薄单砂层厚度的有效预测方法，包括地震属性的优选、确定提取属性的时窗范围、提取平均反射强度属性并归一化处理、建立平均反射强度值与单砂层厚度的关系式、单砂层厚度计算及极值校正、编制单砂层厚度图。本发明利用小时窗沿层提取平均反射强度预测薄单砂层厚度及平面展布的方法，提高了薄单砂层预测的效率和有效性，解决了井间的注采矛盾，使得单砂层厚度预测吻合率大于80%。
【专利说明】一种薄单砂层厚度预测方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种薄单砂层厚度预测方法，属于油藏地震储层预测【技术领域】。
【背景技术】
[0002] 陆相断陷湖盆，一般具有构造复杂、断块小而碎，多物源、小物源的特点，常见河 流及三角洲砂体多期叠置类型，沉积地层纵向上常呈频繁的砂泥岩薄互层韵律组合，砂岩 储层发育但单层厚度薄，横向上砂岩储层分布连续性差、变化大，单个砂体横向展布范围有 限。利用相邻钻井钻遇的砂体对比不能有效区分是否是同一砂体，影响了对砂体横向分布 的认识。受地震分辨率的限制，如何利用地震资料有效描述单砂层平面展布特征一直是困 扰物探技术的难题，尤其是针对复杂断块油藏密集井网区小于1/4波长厚度的单砂层的预 测更是困难，常规的地震方法不能有效识别和预测。
[0003] 目前预测单砂层的厚度及平面展布的方法有限，主要有多井单砂层勾画厚度图、 波阻抗反演技术、三维可视化解释技术。
[0004] 多井单砂层勾画厚度图：是通过读取多口井的同一沉积环境下的单砂层厚度值标 于这些井的井位坐标图上，将相同值的点连成等值线，形成砂岩等厚图。该方法直观，缺陷 是不能有效识别和描述单砂层在井间及无井区的变化分布，且同一等值线的砂层厚度值不 能保证是代表的同一个砂体。
[0005] 波阻抗反演技术：反演技术预测单砂层的方法是利用地震数据信息与井数据信息 建立一种联系并在构造模型约束的基础上进行处理，计算出波阻抗体，再利用不同岩性对 应不同波阻抗值的特点预测砂体的厚度与平面展布。优点，在测井约束下对模型进行迭代 修改，得到高分辨率的地层波阻抗资料，为储层厚度、物性等精细解释提供了一种可能性解 答，但是反演结果的可靠性受到地质条件和测井资料的控制，在断层发育、尖灭频繁、薄互 层分布的复杂地质条件下，断层边界效应的影响使得断层附近的反演精度受到影响，反演 建模受到限制、效率降低。
[0006] 三维可视化解释主要是面块切片的快速扫描、透视、雕刻，主要是以地震剖面上的 波形变化点作为砂体的边界，其优点是快速、直观，但是种子点追踪时易串层，厚度预测精 度偏低。
[0007] 专利申请号201310088179. 6公开了"一种基于地震基准弧长对数属性的砂岩厚 度预测方法"，其优点是快捷、准确预测砂岩厚度，但是仅适用于少井地区的油气勘探中，对 复杂断块密集井网区的薄单砂层不适用。申请号200610126807. 5公开了"基于地震属性的 煤层厚度分析方法"，该方法优点是考虑了多属性参数，更接近实际，反映地震属性预测煤 层厚度效果较好。但是它不是针对的单砂层，且工序步骤较多。
[0008] 综上所述，目前针对复杂断块密集井网区的薄单砂层预测研究甚少，存在由于断 块破碎，砂层地震反射特征及其位置难以确定；受地震分辨率限制，储层界面难以分辨；由 于断层多，建模难度大、断层边界效应影响大，地震反演技术应用受到限制、效果不好的问 题。为解决上述问题及现有技术的不足，我们发明一种利用高精度三维地震资料快捷、简 单、有效的预测复杂断块密集井网区薄单砂层的方法。
【发明内容】
[0009] 本发明在于克服现有技术存在的由于断块破碎，砂层地震反射特征及其位置难以 确定；受地震分辨率限制，储层界面难以分辨；由于断层多，建模难度大、断层边界效应影 响大，地震反演技术应用受到限制、效果不好的问题。建立一种利用利用高精度三维地震资 料中提取的平均反射强度预测单砂层厚度，为复杂断块密集井网区井间单砂层的变化提供 一种简便可行、快捷有效的方法，解决开发区井间注采矛盾。
[0010] 本发明通过以下步骤实现：利用高精度三维地震信息的空间连续性，在复杂断块 油藏密集井网区通过平均反射强度属性简单快速有效的对薄单砂体的厚度及平面展布进 行定量描述，包括以下步骤：
[0011] ①地震属性的优选：通过优选确定平均反射强度属性为对砂岩变化最敏感的地震 属性；
[0012] ②确定提取时窗范围：根据步骤①确定平均反射强度属性，结合统计的已钻井同 一沉积旋回的单砂层厚度范围，确定提取平均反射强度的时窗范围；
[0013] ③提取平均反射强度属性并归一化处理：沿追踪的目标单砂层顶或底在确定的时 窗范围内提取平均反射强度，并对平均反射强度进行归一化处理。
[0014] ④建立平均反射强度值与单砂层厚度的关系式：根据单砂层厚度值与对应的平均 反射强度值数据表形成交汇图，并拟合线性关系，即y=kx+b其中：y为平均反射强度，X为单 砂层厚度，k为随不同沉积时期的单砂层而变化的可变常数，b为单砂层厚度为0时的平均 反射强度值。
[0015] ⑤单砂层厚度计算与极值矫正：利用步骤④的线性关系式将平均反射强度值换算 出单砂层厚度值；再利用经验公式低值区的经验公式为
[0016] Dn= (Cn-Cfflin)/P
[0017] 其中：Dn为校正量，（；为低值区高限点A向最小值方向的第η个数的厚度值，C min 为最小厚度值，P为依据换算后厚度保留两位小数情况下的相邻两个数的差为0. 01，η为正 整数。
[0018] En=Cn-DnX Δ h
[0019] 其中：En为校后的单砂层厚度值，Λ h为厚度校正增量。
[0020]
【权利要求】
1. 一种薄单砂层厚度预测方法，其特征包括以下步骤： ① 地震属性的优选：通过优选确定平均反射强度属性为对砂岩变化最敏感的地震属 性； ② 确定提取时窗范围：根据步骤①确定平均反射强度属性，参考已钻井同一沉积旋回 的单砂层厚度变化范围，确定提取平均反射强度的时窗范围； ③ 提取平均反射强度属性并归一化处理：沿追踪的目标单砂层顶或底在确定的时窗范 围内提取平均反射强度，并对平均反射强度进行归一化处理； ④ 建立平均反射强度值与单砂层厚度的关系式：根据单砂层厚度值与对应的平均反射 强度值数据表形成交汇图，并拟合线性关系； ⑤ 单砂层厚度计算与极值矫正：利用步骤④的线性关系式将平均反射强度值换算出单 砂层厚度值，对低值区和高值区单砂层厚度值进行校正； ⑥ 编制单砂层厚度图：将步骤⑤所得的一组数据在作图软件里形成平面等值线图并填 充颜色，形成单砂层的平面展布图。
2. 根据权利要求1所述的一种薄单砂层厚度预测方法，其特征是：上述权利要求1中 步骤②所述的时窗选取原则是：采用包含单砂层厚度在内的合适时窗提取平均反射强度对 薄单砂层进行预测，在提取平均反射强度时，单砂层的位置必须与参考标准层在一个沉积 旋回内；确定时窗选取范围要大于最厚单砂层厚度；保证采样间隔小于最薄目标单砂层的 厚度。
3. 根据权利要求1或2所述的一种薄单砂层厚度预测方法，其特征是：所述的提取平 均反射强度属性并归一化处理的方法是：通过平均反射强度与单砂层厚度统计表，按照不 同砂层厚度的变化范围将地震属性归一化到〇- h的量纲范围内进行加权运算，保证属性 最大值与砂层厚度关系最大限度的符合实际，其中，h为一个旋回内最厚单砂体厚度值。
4. 根据权利要求1或2所述的一种薄单砂层厚度预测方法，其特征是：建立平均反射 强度值与单砂层厚度的关系式为y=kx+b，其中：y为平均反射强度，X为单砂层厚度，k为随 不同沉积时期的单砂层而变化的可变常数，b为单砂层厚度为0时的平均反射强度值。
5. 根据权利要求1或2所述的一种薄单砂层厚度预测方法，其特征是：所述的单砂层 厚度计算与极值矫正中，低值区的校正经验公式为：D n=(Cn-Cmin)/P，其中：Dn为校正量，(；为 低值区高限点A向最小值方向的第η个数的厚度值，C min为最小厚度值，P为步长，η为正整 数； En=Cn-DnX Δ h 其中：En为校后的单砂层厚度值，Λ h为厚度校正增量； 高值区的校正经验公式：Dn= (Cmax-Cn)/P 其中：Dn为校正量，Cn为高值区低限点B向最大值方向的第η个数的厚度值，Cmax为高 值区最大厚度值，P为步长，η为正整数； En=Cn-DnX Δ h 其中：En为校后的砂层厚度值，Λ h为厚度校正增量。
【文档编号】G01V1/30GK104142516SQ201310517846
【公开日】2014年11月12日 申请日期:2013年10月28日 优先权日:2013年10月28日
【发明者】刘忠亮, 李勤英, 蔡其新, 郝加良, 苗翠芝, 王同锤, 陈喜萍, 李清辰 申请人:中国石油化工股份有限公司, 中国石油化工股份有限公司中原油田分公司物探研究院