光电探测器的最佳本振光功率的测量方法
【专利摘要】光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，为了解决过强的本振光会使光电探测器损坏的问题。它包括：步骤一：利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频,求得待测光电探测器输出的电流id；步骤二：根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光功率S和噪声功率N，求出信噪比步骤三：求取当步骤二求得的信噪比最大时的本振光功率，所述本振光功率为待测光电探测器的最佳本振光功率。它用于光电探测器的最佳本振光功率。
【专利说明】光电探测器的最佳本振光功率的测量方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种最佳本振光功率的测量方法，特别涉及一种光电探测器的最佳本振光功率的测量方法。
【背景技术】
[0002]在外差探测系统中，通常利用本振光和待测区域目标的后向散射信号光的匹配混频来提取待测参数的信息。所谓的匹配过程有偏振态匹配、振幅匹配以及相位匹配三种。
[0003]振幅匹配并不困难，通过选择适当的本振光功率就可达到较好的匹配。对于相干激光多普勒测风雷达而言，本振光噪声是影响光外差探测的重要因素，从转换增益的角度考虑，希望本振光强，但是这又会使本振光噪声增加，使信噪比降低。从光电探测器角度讲，过强的本振光功率会造成探测器灵敏度的变化，使光电探测器进入非线性工作区域，进而影响信噪比。另外，过强的本振光会使光电探测器损坏，所以存在一个最佳的本振光功率使系统的信噪比达到最大。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是为了解决过强的本振光会使光电探测器损坏的问题，本发明提供一种光电探测器的最佳本振光功率的测量方法。
[0005]光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，它包括如下步骤:
[0006]步骤一:利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频，求得待测光电探测器输出的电流id;
[0007]步骤二:根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光
功率S和噪声功率N，求出信噪比
【权利要求】
1.光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，其特征在于，它包括如下步骤: 步骤一:利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频，求得待测光电探测器输出的电流id; 步骤二:根据待测光电探测器与任意后接放大器的等效电路、所述待测光电探测器输出的电流id和平方率探测原理，求得信号光功率S和噪声功率N，并根据求得的信号光功率S和噪声功率N，求出信噪比
2.根据权利要求1所述的光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，其特征在于， 所述步骤一中利用外差接收机结构，信号光和本振光在待测光电探测器光敏面上发生混频，求得待测光电探测器输出的电流id的方法为: 光电探测器的二极管的光电流的合理模型为:
3.根据权利要求1或2所述的光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，其特征在于，所述步骤二中求出信噪比
4.根据权利要求3所述的光电探测器的最佳本振光功率的测量方法，所述步骤三中，求取当步骤二求得的信噪比Ir最大时的本振光功率的方法为:
【文档编号】G01S7/497GK103616674SQ201310698120
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年12月18日 优先权日:2013年12月18日
【发明者】李彦超, 高扬, 杨九如, 冉玲苓, 柳春郁, 丁群, 朱勇, 王春晖 申请人:黑龙江大学