小功率单向双向可控硅测试装置制造方法

小功率单向双向可控硅测试装置制造方法
【专利摘要】本发明是关于一种小功率单向双向可控硅测试装置，其特征包括：集成电路DIP插座、测试性能显示电路、可控硅触发信号回路、直流电源电路；所述的测试性能显示电路由转换开关K-1、红色发光二极管LED1和电阻R2、绿色发光二极管LED2和电阻R1组成；所述的可控硅触发信号回路由转换开关K-2、电阻R3和电阻R4组成；所述的直流电源电路由转换开关K-3、6V直流电源、9V直流电源和电源开关SW组成，所述的集成电路DIP插座的A插孔（T1插孔）接转换开关K-1的3脚，集成电路DIP插座的K插孔（T2插孔）接转换开关K-3的3脚，集成电路DIP插座的G插孔（G1插孔）通过按钮开关AN接转换开关K-2的3脚。
【专利说明】小功率单向双向可控硅测试装置【技术领域】
[0001]本发明属于电子元器件测量【技术领域】，是关于一种小功率单向双向可控硅测试装置。
【背景技术】
[0002]在电子设计或维修工作中，经常需要使用电压500V以下，电流5A以内的小功率可控硅元件。用于测量单向可控硅(SCR)或双向可控硅(BCR)性能的方法和仪器很多，专业用于测量单向可控硅(SCR)或双向可控硅(BCR)的专用仪器虽然性能优良，但存在着售价高，非专业单位或人员难于接受等缺陷。为了弥补和克服这些问题，有必要研制一种电路结构简洁、制作成本低、工作性能稳定、且实用的测量单向可控硅(SCR)或双向可控硅(BCR)性能的仪器。
[0003]小功率单向双向可控硅测试装置可快捷地测试这两种可控硅的性能，并能直观判断其好坏及触发性能，其测量结果能够满足一般技术要求，它具有电路结构简单、工作性能稳定、制作成本低等特点。
[0004]以下详细说明本发明所述的小功率单向双向可控硅测试装置在制作过程中所涉及的有关技术内容。

【发明内容】

[0005]发明目的及有益 效果:用于测量单向可控硅(SCR)或双向可控硅(BCR)性能的方法和仪器很多，专业用于测量单向可控硅(SCR)或双向可控硅(BCR)的专用仪器虽然性能优良，但存在着售价高，非专业单位或人员难于接受等缺陷。小功率单向双向可控硅测试装置可快捷地测试这两种可控硅的性能，并能直观判断其好坏及触发性能，其测量结果能够满足一般技术要求，它具有电路结构简单、工作性能稳定、制作成本低等特点。
[0006]电路工作原理:转换开关K (即:三刀双掷转换开关)扳至下方时，用作测试单向可控娃SCR,转换开关K扳至上方时,用作测试双向可控娃BCR0在测试前,先把被测可控娃各引脚插入对应插孔(两种可控硅为共用插孔，单向可控硅SCR引脚插孔分别标注为:A插孔(阳极)、K插孔(阴极)、G插孔(栅极)，双向可控硅BCR的标注是Tl插孔(第一阳极)、T2插孔(第二阳极)、G插孔(栅极)。
[0007]当转换开关K扳至下方时，接通单极开关SW后，单向可控硅SCR的阳极A、阴极K之间加正电压；当转换开关K扳至上方时，双向可控硅BCR的第一阳极Tl、第二阳极T2极之间加正电压。在上述两种情况下，红色发光二极管LED1，或绿色发光二极管LED2都不应该点亮。如红色发光二极管LEDl点亮，表明单向可控硅SCR损坏，其阳极A和阴极K已短路；如绿色发光二极管LED2点亮，则表明双向可控硅BCR损坏，其第一阳极Tl和第二阳极T2已短路。
[0008]当转换开关K扳至下方时，再按一下按钮开关AN，给单向可控硅SCR的栅极G (转换开关K扳至上方时，双向可控硅BCR的栅极Gl)外加一个触发信号，在正常情况下，红色发光二极管LEDl或绿色发光二极管LED2应立即点亮，且在按钮开关AN松开后，红色发光二极管LEDl或绿色发光二极管LED2继续保持点亮，即:表示单向可控硅SCR或双向可控硅BCR性能完好。如果按下按钮开关AN后，红色发光二极管LEDl或绿色发光二极管LED2均不能点亮，则表示单向可控硅SCR或双向可控硅BCR已经损坏，不具有触发功能。按下按钮开关AN后，红色发光二极管LEDl或绿色发光二极管LED2点亮，而松开按钮开关AN后，红色发光二极管LEDl或绿色发光二极管LED2又立即熄灭，则表明单向可控硅SCR或双向可控硅BCR不具有触发保持功能，其同样不能使用。
[0009]技术方案:小功率单向双向可控硅测试装置，它包括集成电路DIP插座、测试性能显示电路、可控硅触发信号回路、直流电源电路，其特征在于:
[0010]测试性能显示电路:它由转换开关κ-1、红色发光二极管LEDl和电阻R2、绿色发光二极管LED2和电阻Rl组成，转换开关K-1的I脚通过电阻Rl接绿色发光二极管LED2的负极，绿色发光二极管LED2的正极接电路正极VCC，转换开关Kl的2脚通过电阻R2接红色发光二极管LEDl的负极，红色发光二极管LEDl的正极接电路正极VCC ；
[0011]可控硅触发信号回路:它由转换开关K-2、电阻R3和电阻R4组成，转换开关K2的I脚通过电阻R3接电路正极VCC，转换开关K-2的2脚通过电阻R4接电路正极VCC ；
[0012]直流电源电路:它由转换开关K_3、6V直流电源、9V直流电源和单极开关SW组成，转换开关K-3的I脚接6V直流电源的正极和9V直流电源的负极，9V直流电源的正极通过单极开关SW接电路正极VCC，转换开关K-3的2脚接6V直流电源的负极；
[0013]集成电路DIP插座的A插孔(Tl插孔)接转换开关K-1的3脚，集成电路DIP插座的K插孔(T2插孔)接转换开关K-3的3脚，集成电路DIP插座的G插孔(Gl插孔)通过按钮开关AN接转换开关K-2的3脚。
【专利附图】

【附图说明】
[0014]附图1是本发明提供一个小功率单向双向可控硅测试装置的实施例电路工作原理图；转换开关K扳至下方时，用作测试单向可控硅SCR;转换开关K扳至上方时，用作测试双向可控硅BCR。
【具体实施方式】
[0015]按照附图1所示的小功率单向双向可控硅测试装置电路工作原理图和【专利附图】

【附图说明】，并按照
【发明内容】
所述的各部分电路中元器件之间连接关系，以及实施方式中所述的元器件技术参数要求和电路制作要点进行实施即可实现本发明，以下结合实施例对本发明的相关技术作进一步的描述。
[0016]元器件的选择及其技术参数
[0017]电阻Rl的阻值780 Ω ；电阻R2的阻值1.8K Ω ；电阻R3的阻值82 Ω ；电阻R4的阻值 15ΚΩ ；
[0018]LEDl为红色发光二极管，LED2为绿色发光二极管，选用直径C 5mm高亮发光二极管；
[0019]K为转换开关，它包括K-1、Κ_2和K-3，选用三刀双掷转换开关；
[0020]AN为按钮开关，选用常开式按键开关；SW为单极开关；[0021 ] 单向可控硅SCR和双向可控硅BCR使用公共插孔，公共插孔采用集成电路DIP插座；
[0022]两组直流电源的电压分别为9V、6V。
[0023]电路制作要点、电路调试及使用方法
[0024]因小功率单向双向可控硅测试装置的电路结构比较简单，制作比较容易，一般情况下只要选用的电子元器件性能完好，并按照说明书附图1中的元器件连接关系进行焊接，物理连接线及焊接质量经过仔细检查正确无误后，本发明的电路基本不需要进行任何调试即可正常工作；
[0025]在使用单向可控硅SCR或双向可控硅BCR公共插孔时，要根据可控硅的技术资料和使用经验，一定不要将单向可控硅SCR或双向可控硅BCR的引脚插错，否则难以得到正确的测试结果；
[0026]快速掌握小功率单向双向可控硅测试装置的使用方法，需要在使用过程中不断地积累测试经验；
[0027]使用方法详见电路工作原理中所述的具体内容。
【权利要求】
1.一种小功率单向双向可控硅测试装置，它包括集成电路DIP插座、测试性能显示电路、可控硅触发信号回路、直流电源电路，其特征在于: 所述的测试性能显示电路由转换开关K-1、红色发光二极管LEDl和电阻R2、绿色发光二极管LED2和电阻Rl组成，转换开关K-1的I脚通过电阻Rl接绿色发光二极管LED2的负极，绿色发光二极管LED2的正极接电路正极VCC，转换开关Kl的2脚通过电阻R2接红色发光二极管LEDl的负极，红色发光二极管LEDl的正极接电路正极VCC ； 所述的可控硅触发信号回路由转换开关K-2、电阻R3和电阻R4组成，转换开关K2的I脚通过电阻R3接电路正极VCC，转换开关K-2的2脚通过电阻R4接电路正极VCC ； 所述的直流电源电路由转换开关K-3、6V直流电源、9V直流电源和单极开关SW组成，转换开关K-3的I脚接6V直流电源的正极和9V直流电源的负极，9V直流电源的正极通过单极开关SW接电路正极VCC，转换开关K-3的2脚接6V直流电源的负极； 所述的集成电路DIP插座的A插孔(Tl插孔)接转换开关K-1的3脚，集成电路DIP插座的K插孔(T2插孔)接转换开关K-3的3脚，集成电路DIP插座的G插孔(Gl插孔)通过按钮开关AN接转换开关K-2的3脚。
【文档编号】G01R31/26GK103698683SQ201310740377
【公开日】2014年4月2日 申请日期:2013年12月29日 优先权日:2013年12月29日
【发明者】王志 申请人:王志