一种采用7135芯片的高阻测试电路的制作方法

文档序号:6043682阅读:751来源:国知局
专利名称:一种采用7135芯片的高阻测试电路的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种高阻测试电路。
背景技术
在目前的一般高阻测试中,如果使用7135作为ad转换芯片,一般有2种常规接法:第一:是电压信号Vv接7135的第10脚(in+),电流信号Vi接第2脚(Vref ),第
9(in-)和第3脚(com)接地线可见图1。这样可利用7135本身带有的除法功能求出电阻值。第二:可以利用模拟开关把电压信号与电流信号都接入7135的第10脚(in+),第2脚接正常的Vref基准电压如图2。然后利用软件除法可求出电压值。这两种方法在实际测量中,当信号比较小是容易受到干扰信号的影响,而要去除这种影响是比较困难的。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种高阻测试电路,该电路可轻易的消除地线上的干扰,可以大大提高电阻值的测量精度,尤其是对于高阻,超高阻的测试精度更高;此电路结构简单,成本低。为了实现以上目的,本实用新型所采用的技术方案是:一种采用7135芯片的高阻测试电路,其特征在于,包括7135芯片、电容C、电阻R1、电阻R2 ;7135芯片的第2管脚与第9管脚并联电容C ;7135芯片的第2管脚连接电阻Rl的一端,电阻Rl的另一端用于输入待测电压Vi ;7135芯片的第9管脚连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端用于输入待测电压Vv。与现有技术相比,本实用新型的优点在于:可轻易的消除地线上的干扰,可以大大提高电阻值的测量精度,尤其是对于高阻,超高阻的测试精度更高;同样也可以推广到其他任何需要测试电阻的场合,具有非常好的效果;此电路结构简单,成本低,因此具有非常高的推广应用价值。

图1是现有采用7137芯片高阻测试电路原理示意图;图2是现有另一种采用7137芯片高阻测试电路原理示意图;图3是本实用新型的电路原理示意图。
具体实施方式
[0016]
以下结合附图对本实用新型做进一步说明。图1电路,可把电流信号接到7135的第2脚(Vref),把电压信号接到第9脚(in-),把第10脚(in+)和第3脚(com)相连接地。信号电压为V v,电流信号为V i (Vi其实在电压信号,会进一步换算为对应的电流信号,此处就用V i表示对应的电流信号了)。此时正常的电阻值r应该为r = V V / V i。如地线上存在干扰,比如干扰信号为正值V 1,则r = (V V + V I) / (V i +V I)比如干扰信号为负值V 1,则r = (V V — V I) / (V i — V I)此时算出来的r值偏大或者偏小。结果就有偏差。而且如果测量电阻越大,信号越小,那么相对干扰值就越大,测量结果的偏差也会越大。而且地线上的干扰总是客观存在的,是很难消除的。而在高阻测试时,电阻值都是几百G甚至到几百T。那么这时的干扰信号相对电流信号就非常可观了。如图3,采用7135芯片的高阻测试电路,包括7135芯片、电容C、电阻R1、电阻R2 ;7135芯片的第2管脚与第9管脚并联电容C ;7135芯片的第2管脚连接电阻Rl的一端,电阻Rl的另一端用于输入待测电压Vi ;7135芯片的第9管脚连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端用于输入待测电压Vv。当地线的干扰为V I时,虽然我们外部量到的电流信号V i +V 1,那实际上在7135内部的电流则是(V i +V D-V I。同样的7135第二脚(r e f)上的电压信号也是(V V+V I) —V I。则可明显看出地线的干扰被抵消了。此时算出来的值也就是真正的电阻值了。具体高阻值的计算由7135内部电路完成,都是现有技术不做进一步详细描述。综上所述:此实用新型可轻易的消除地线上的干扰,对于电阻值的测量精度的提高时非常明显的尤其是对于高阻,超高阻的测试需求。同样此发明方法也可以推广到其他任何需要测试电阻的场合。具有非常好的效果。且只需改变几根接线。对于经济成本和劳力成本也没有任何增加。因此具有非常高的推广价值。
权利要求1.一种采用7135芯片的高阻测试电路,其特征在于,包括7135芯片、电容C、电阻R1、电阻R2 ; 7135芯片的第2管脚与第9管脚并联电容C ; 7135芯片的第2管脚连接电阻Rl的一端,电阻Rl的另一端用于输入待测电压Vi ; 7135芯片的第9管脚连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端用于输入待测电压Vv。
专利摘要本实用新型公开了一种采用7135芯片的高阻测试电路,其特征在于,包括7135芯片、电容C、电阻R1、电阻R2;7135芯片的第2管脚与第9管脚并联电容C;7135芯片的第2管脚连接电阻R1的一端,电阻R1的另一端用于输入待测电压Vi;7135芯片的第9管脚连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端用于输入待测电压Vv。该电路可轻易的消除地线上的干扰,可以大大提高电阻值的测量精度,尤其是对于高阻、超高阻的测试精度更高;此电路结构简单,成本低。
文档编号G01R27/08GK203164299SQ20132002346
公开日2013年8月28日 申请日期2013年1月16日 优先权日2013年1月16日
发明者杨雪冬, 赵其, 李求龙, 杨少伟 申请人:南京民盛电子仪器有限公司
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