一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统，包括半导体激光器，所述半导体激光器出射端依次设置有组合光路、偏振棱镜和功率探测器，所述偏振棱镜通过皮带或齿轮传动与电机控制转动装置内的电机连接，所述电机控制转动装置包括所述电机和电机控制器，所述偏振棱镜通过限位开关与所述电机控制器连接，所述电机控制转动装置与所述功率探测器分别连接电脑。本实用新型操作简单，可避免不同探测器之间的误差，准确测量P、S方向功率值，即准确测量TM、TE两种激光模式的功率，棱镜固定装置带有90°限位，准确实现P、S分光的对应，即同一光束TM、TE两种模式的准确分离。
【专利说明】一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种半导体激光器偏振测试系统，具体涉及一种简易自动化半导体激光器偏振测试系统。
【背景技术】
[0002]高功率、高效率、高亮度半导体激光二极管因其体积小、效率高寿命长、稳定可靠、使用成本低等优点，被广泛的应用于固体激光器及光纤激光器制造、工业、医疗、娱乐显示、国防、激光通讯与基础研究等领域。高功率、高效率、高亮度半导体激光二极管的应用对于我国工业、医疗、娱乐显示、国防等领域的产业升级换代至关重要，它不但能帮助提高工业等的生产效率，还能降低产品使用成本，既节能，又环保。
[0003]大功率半导体激光器均采用应变量子阱结构，输出为线偏振光，测试输出激光的偏振，可以反应器件的半导体材料与谐振腔内部结构特性；半导体激光器的工业应用中，为提高半导体激光器的光束质量，常利用偏振耦合技术，将线偏振光耦合为圆偏振光。因此半导体激光器偏振的测量对激光器的性能检测和后期使用有非常重要的意义。
[0004]《中国激光》“半导体激光器阵列偏振特性及其与应力关系的实验研究”(Vol.36，N0.5，May, 2009)中介绍了一种半导体激光器阵列偏振特性的测试方法，是激光光束经过偏振片照射到CCD相机上，将偏振片旋转90°，记录结果，得到偏振度的值，此方法无法判断偏振模式，偏振片无法承受大功率激光，难以测试大功率半导体激光器的偏振度。
[0005]中华人民共和国国家知识产权局于2012年5月2号公开了
【发明者】徐昊, 李超 申请人:中国科学院苏州生物医学工程技术研究所