Scr高压击穿检测器的制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种SCR高压击穿检测器，主要由可控硅测量端、外部测量端、限流电阻、发光二极管和检测工具组成，所述的可控硅测量端分别连接限流电阻、发光二极管和外部测量端，限流电阻分别连接发光二极管和外部测量端，外部测量端连接检测工具。本实用新型原理简单，易于实现，弥补了可控硅检测领域的不足，具有很好的市场前景。
【专利说明】SCR高压击穿检测器
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光电隔离技术和SCR检测【技术领域】，具体为一种SCR高压击穿检测器。
【背景技术】
[0002]SCR(单向可控硅)是一种可控整流电子元件，能在外部控制信号作用下由关断变为导通，但一旦导通，外部信号就无法使其关断，只能靠去除负载或降低其两端电压使其关断。单向可控硅是由三个PN结PNPN组成的四层三端半导体器件，与具有一个PN结的二极管相比，单向可控硅正向导通受控制极电流控制；与具有两个PN结的三极管相比，差别在于可控硅对控制极电流没有放大作用。SCR在工业生产中是易损件，但是由于可控硅处于高压工作环境中，对其性能检测十分危险。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的是根据上述现有技术中存在不足，提供一种SCR高压击穿检测器。
[0004]为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是:
[0005]一种SCR高压击穿检测器，主要由可控硅测量端、外部测量端、限流电阻、发光二极管和检测工具组成，所述的可控硅测量端分别连接限流电阻、发光二极管和外部测量端，限流电阻分别连接发光二极管和外部测量端，外部测量端连接检测工具。
[0006]所述的可控硅测量端连接可控硅的阴极和阳极。
[0007]所述的发光二极管有2个，2个发光二极管反向并联。
[0008]所述的检测工具为外部连接的检测工具。
[0009]本实用新型的有益效果是:本实用新型解决了在高压环境下，可控硅检测困难的问题。并且可以通过指示及时定位可控硅故障。本实用新型原理简单，易于实现，弥补了可控硅检测领域的不足，具有很好的市场前景。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图；
[0011]图2为本实用新型的电路原理图。
【具体实施方式】
[0012]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作具体说明。
[0013]如图1和图2所示，本实用新型是一种SCR高压击穿检测器，主要由可控硅测量端、外部测量端、限流电阻、发光二极管和检测工具组成，可控硅测量端分别连接限流电阻、发光二极管和外部测量端，限流电阻分别连接发光二极管和外部测量端，外部测量端连接检测工具。可控硅测量端连接可控硅的阴极和阳极。发光二极管有2个，2个发光二极管反向并联。检测工具为外部连接的检测工具。
[0014]将SCR高压击穿检测器接入可控硅阴极和阳极两端，当可控硅正常工作时，可控硅受控正向导通，则可控硅两端存在反向电压，而正向电压很小。此时两个反向并联的发光二极管会一个发亮一个不亮。当可控硅被高压击穿时，可控硅不受控双向导通，两个发光二极管都会亮起。
[0015]上述方案只是本实用新型的最佳实施方案，但在不改变本实用新型的精神背景下，所做的任何改进，均落在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种SCR高压击穿检测器，主要由可控硅测量端、外部测量端、限流电阻、发光二极管和检测工具组成，其特征在于:所述的可控硅测量端分别连接限流电阻、发光二极管和外部测量端，限流电阻分别连接发光二极管和外部测量端，外部测量端连接检测工具。
2.根据权利要求1所述的SCR高压击穿检测器，其特征在于:所述的可控硅测量端连接可控硅的阴极和阳极。
3.根据权利要求1所述的SCR高压击穿检测器，其特征在于:所述的发光二极管有2个，2个发光二极管反向并联。
4.根据权利要求1所述的SCR高压击穿检测器，其特征在于:所述的检测工具为外部连接的检测工具。
【文档编号】G01R31/27GK203688745SQ201320748873
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2013年11月25日 优先权日:2013年11月25日
【发明者】赵志忠, 王斌 申请人:淮北市华明工业变频设备有限公司