一种硬件测试平台的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种硬件测试平台，其中，包括测试台面、显示屏安装窗和测试系统储藏室，所述测试系统储藏室位于所述测试台面下方且具有两扇设在所述测试系统储藏室背面的开合门，所述显示屏安装窗竖直搭在所述测试台面上的靠背处，所述显示屏安装窗内装设有显示屏；所述测试系统储藏室内布设有器件测试线路，所述测试台面上设有若干孔，用于连通所述测试系统储藏室内部空间与所述测试台面上方空间。本实用新型可以同时测试控制系统和显示系统，解决了以往测试系统凌乱、不稳定、系统性差的问题。
【专利说明】一种硬件测试平台
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种硬件测试平台。
【背景技术】
[0002]通常情况下，产品测试和调试是以计算机、电源、线束、待测试设备、开关等设备为硬件载体，由工程师自己搭建，整体测试系统较为凌乱，缺少稳定性和系统性，容易造成测试的干扰。在此背景下亟需一个硬件平台载体将所有的除了待测设备外的其他硬件集成到一起，同时方便更换和兼容不同待测设备的测试台，此测试台具有安全，可靠，稳定。
实用新型内容
[0003]有鉴于此，本实用新型提出一种硬件测试平台，以解决现有技术中的不足。
[0004]为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的:
[0005]一种硬件测试平台，其中，包括测试台面、显示屏安装窗和测试系统储藏室，所述测试系统储藏室位于所述测试台面下方且具有两扇设在所述测试系统储藏室背面的开合门，所述显示屏安装窗竖直搭在所述测试台面上的靠背处，所述显示屏安装窗内装设有显示屏；所述测试系统储藏室内布设有器件测试线路，所述测试台面上设有若干孔，用于连通所述测试系统储藏室内部空间与所述测试台面上方空间。
[0006]上述硬件测试平台，其中，所述测试台面的前侧设有向内倾侧的斜面。
[0007]上述硬件测试平台，其中，所述测试台面上的孔分别为三个矩形孔。
[0008]上述硬件测试平台，其中，所述显示屏安装窗的背面下方设有散热窗，所述散热窗后方装有散热风扇。
[0009]上述硬件测试平台，其中，所述测试台面上还设有待测控制器复位按钮、待测显示屏复位按钮和直流电源开关按钮。
[0010]上述硬件测试平台，其中，所述测试系统储藏室内部为层格结构。
[0011]相对于现有技术，本实用新型具有以下优势:
[0012]可以同时测试控制系统和显示系统，解决了以往测试系统凌乱、不稳定、系统性差的问题。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
[0014]图1为本实用新型硬件测试平台的正面结构示意图；
[0015]图2为本实用新型硬件测试平台的背面结构示意图；
[0016]图3为本实用新型硬件测试平台的测试系统储藏室层格结构的结构示意图。【具体实施方式】
[0017]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0018]需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0019]参照图1和图2，本实用新型硬件测试平台包括测试台面1、显示屏安装窗2和测试系统储藏室3，测试系统储藏室3位于测试台面I下方且具有两扇设在测试系统储藏室背面的开合门11，显示屏安装窗2竖直搭在测试台面I上的靠背处，显示屏安装窗2内装设有显示屏。测试系统储藏室3内布设有器件测试线路，测试台面I上设有若干孔4，用于连通测试系统储藏室3内部空间与测试台面I上方空间，具体地，若干孔4分别为三个矩形孔，以连通测硬件产品与测试系统储藏室3内部的器件测试线路。
[0020]在本实用新型的优选实施例中，测试台面I的前侧设有向内倾侧的斜面，以方便操作人员的站立，为操作人员的站立提供额外空间。
[0021]显示屏安装窗2的背面下方设有散热窗5，散热窗5后方装有散热风扇，以供散热使用。测试台面I上还设有待测控制器复位按钮6、待测显示屏复位按钮7和直流电源开关按钮8。另外，测试台面I上还设有总电源开关9等。
[0022]测试系统储藏室3内部为层格结构，参看图3所示，在本实用新型的最优选实施例中，层格结构包含多个不同大小的格子，具体为五个格子，布置方式参照图3所示，以便放置测试用主机、直流电源、辅助测试控制器、继电器，也可采用其他布局方式。
[0023]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种硬件测试平台，其特征在于，包括测试台面、显示屏安装窗和测试系统储藏室，所述测试系统储藏室位于所述测试台面下方且具有两扇设在所述测试系统储藏室背面的开合门，所述显示屏安装窗竖直搭在所述测试台面上的靠背处，所述显示屏安装窗内装设有显示屏；所述测试系统储藏室内布设有器件测试线路，所述测试台面上设有若干孔，用于连通所述测试系统储藏室内部空间与所述测试台面上方空间。
2.根据权利要求1所述硬件测试平台，其特征在于，所述测试台面的前侧设有向内倾侧的斜面。
3.根据权利要求1所述硬件测试平台，其特征在于，所述测试台面上的孔分别为三个矩形孔。
4.根据权利要求1所述硬件测试平台，其特征在于，所述显示屏安装窗的背面下方设有散热窗，所述散热窗后方装有散热风扇。
5.根据权利要求1所述硬件测试平台，其特征在于，所述测试台面上还设有待测控制器复位按钮、待测显示屏复位按钮和直流电源开关按钮。
6.根据权利要求1所述硬件测试平台，其特征在于，所述测试系统储藏室内部为层格结构。
【文档编号】G01D11/00GK203615953SQ201320835026
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年12月16日 优先权日:2013年12月16日
【发明者】杨国勋, 方毅, 吉艳青 申请人:上海华兴数字科技有限公司