一种可用于表面污染监测仪校准的工具的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种可用于表面污染监测仪校准的工具，包括底座，底座的两端开有卡条活动槽，卡条活动槽中设有两个贯穿两端卡条活动槽的卡条，卡条的下方开有放射源槽。本实用新型的可用于表面污染监测仪校准的工具，通过调节卡条，可适用于不同尺寸规格的探测器，使表面污染监测仪整个校准过程更为便捷方便，极大改善和简化校准过程。
【专利说明】 —种可用于表面污染监测仪校准的工具
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及辐射监测与防护【技术领域】，具体涉及一种可用于表面污染监测仪校准的可用于表面污染监测仪校准的工具。
【背景技术】
[0002]在核电厂、后处理厂等含放射性操作的部门，放射性监管部门和相关放射性物质使用单位等都配备有表面污染监测仪。该仪器能够测量物体表面的α、β粒子污染情况，以便决定是否采取去污等处理措施，防止人员被放射性污染。
[0003]表面污染监测仪在放射性监控领域大量使用，生产厂家很多，或因为使用目的不同、或因为使用对象不同，造成表面污染监测仪的探测器尺寸有不同的规格，这给这些仪器的校准带来不少困扰。本实用新型正是针对该问题而提出的一种可用于表面污染监测仪校准的工具。
实用新型内容
[0004]针对现有技术中存在的缺陷，本实用新型的目的在于提供一种可用于表面污染监测仪校准的工具，通过该装置能够简化校准过程，提高表面污染监测仪的校准效率。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下:
[0006]一种可用于表面污染监测仪校准的工具，包括底座，底座的两端开有卡条活动槽，卡条活动槽中设有两个贯穿两端卡条活动槽的卡条，卡条的下方开有放射源槽。
[0007]进一步，如上所述的一种可用于表面污染监测仪校准的工具，所述的卡条与放射源槽的距离为5mm。
[0008]再进一步，如上所述的一种可用于表面污染监测仪校准的工具，所述的卡条与放射源槽的距离为10mm。
[0009]更进一步，如上所述的一种可用于表面污染监测仪校准的工具，所述的底座的长度为20cm，宽度为15cm。
[0010]本实用新型的有益效果在于:本实用新型的可用于表面污染监测仪校准的工具，通过调节卡条，可适用于不同尺寸规格的探测器，使表面污染监测仪整个校准过程更为便捷方便，极大改善和简化了校准过程。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为【具体实施方式】中一种可用于表面污染监测仪校准的工具的主视图；
[0012]图2为【具体实施方式】中一种可用于表面污染监测仪校准的工具的俯视图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合说明书附图与【具体实施方式】对本实用新型做进一步的详细说明。
[0014]图1和图2分别示出了本实用新型【具体实施方式】中一种可用于表面污染监测仪校准的工具的主视图和俯视图，该工具包括底座1，底座I的两端开有卡条活动槽4，卡条活动槽4中设有两个贯穿两端卡条活动槽4的卡条3，卡条3的下方开有放射源槽2。
[0015]本实用新型的可用于表面污染监测仪校准的工具，主要用于辅助表面污染监测仪的校准，在校准时，探测器置于卡条3上，放射源置于放射源槽2中，卡条3穿过两端的卡条活动槽4，即卡条3外露，以便在卡条活动槽4内自由调节卡条3，以适应不同尺寸的探测器。
[0016]表面污染监测仪在涉及放射性的领域大量使用，其探测器尺寸有很多的规格，我国相关标准及规程要求，检定/校准这些仪器时，探测器到放射源的距离是固定的，对α粒子为5mm，对β粒子来说是10mm。为了完成仪器的α粒子和β粒子的校准内容，本实施方式中可用于表面污染监测仪校准的工具的卡条3与放射源槽2的距离为5mm或者10mm，即探测器距放射源的距离设计为5mm或10mm。
[0017]本实施方式中整个辅助校准装置的长度为20cm，宽度为15cm，即底座I的长度为20cm,宽度为 15cm。
[0018]本实用新型的可用于表面污染监测仪校准的工具用于表面污染监测仪的α、β校准，α和β的表面污染单位以Bq/cm2给出，但实际上，探测器测量的是入射进探测器的α、β粒子个数，测量单位为cps (每秒钟计数)。探测器计数与表面污染值是成正比的，即存在一个比例系数将探测器计数和表面污染值联系起来，如何准确找到这个比例系数可通过校准实验来实现，这个比例系数称为表面活度响应。使用本实施方式中可用于表面污染监测仪校准的工具开展校准实验时，将放射源从放射源槽2内插入，表面污染监测仪放在卡条3上，移动卡条3以适应不同尺寸的探测器，开展校准实验。由于放射源的表面活度已知，通过与测量得到的探测器计数相比，即可得到仪器的表面活度响应。在实际使用中，通过探测器计数和校准的表面活度响应可以得到物体、墙壁、地面等的表面污染情况，保证测量数据的有效性。
[0019]此外，为了降低α、β的散射和β产生的韧致辐射，本实施方式的可用于表面污染监测仪校准的工具整体采用有机玻璃材料，从而降低校准时引起的干扰，更好的开展校准实验。
[0020]显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其同等技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
【权利要求】
1.一种可用于表面污染监测仪校准的工具，其特征在于，包括底座(1)，底座(I)的两端开有卡条活动槽(4)，卡条活动槽(4)中设有两个贯穿两端卡条活动槽(4)的卡条(3)，卡条(3)的下方开有放射源槽(2)。
2.如权利要求1所述的一种可用于表面污染监测仪校准的工具，其特征在于，所述的卡条(3)与放射源槽(2)的距离为5mm。
3.如权利要求1所述的一种可用于表面污染监测仪校准的工具，其特征在于，所述的卡条(3)与放射源槽(2)的距离为10mm。
4.如权利要求1至3之一所述的一种可用于表面污染监测仪校准的工具，其特征在于，所述的底座(I)的长度为20cm，宽度为15cm。
【文档编号】G01T1/169GK203773060SQ201320881203
【公开日】2014年8月13日 申请日期:2013年12月30日 优先权日:2013年12月30日
【发明者】王勇, 黄亚雯, 韦应靖, 李强, 冯梅, 杨慧梅, 牛蒙青, 陈立 申请人:中国辐射防护研究院