一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估方法及设备的制作方法
【专利摘要】本发明涉及电子装备测试评估【技术领域】，公开一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估方法及设备，所述方法采用的电子装备电磁环境适应性能的测试设备，具有电磁环境因素的n个模拟信号源通过信号合成电路与待评估电子装备相连，待评估电子装备通过数据传输线缆与电磁环境适应性能评估装置相连，信号合成电路通过数据传输线缆与电磁环境适应性能评估装置相连。本发明具有寻求各种电磁环境信号因子和不同水平数之间的合理搭配，减少测试次数，具有将kn种电磁环境下待评估电子装备完成任务的能力数据存储于Flash数据存储器，并计算评估该待评估电子装备的电磁环境适应性能。该评估装置适用于商用雷达、电台等商用电子装备的电磁环境适应性能的测试评估。
【专利说明】一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估方法及设备
【技术领域】
[0001 ] 本发明涉及电子装备测试评估【技术领域】，尤其涉及一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估方法及设备。
【背景技术】
[0002]目前，电子装备电磁环境适应性能的测试评估一直是公认的难题之一。目前的评估方法以大量的定性评估为主，少量的电磁环境单个因素适应能力的定量评估为辅；而实际电子装备工作性能受到η个电磁环境因素的影响，还不能实现电磁环境适应性能的综合评估。其中η—般为大于等于2、小于10的自然数，本发明的目的就是实现电子装备对η个电磁环境因素的适应性能的综合评估。
【发明内容】
[0003]为克服现有技术的不足，本发明提供一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估方法及设备。
[0004]为实现如上所述的发明目的，本发明采用如下技术方案:
[0005]一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估设备，包括:电磁环境因素的η个模拟信号源、信号合成电路、待评估电子装备、电磁环境适应性能评估装置，所述电磁环境因素的η个模拟信号源通过数据传输线缆与信号合成电路相连，信号合成电路通过数据传输线缆与待评估电子装备相连，待评估电子装备通过数据传输线缆与电磁环境适应性能评估装置相连，信号合成电路通过数据传输线缆与电磁环境适应性能评估装置相连。
[0006]一种电子装备电磁环境适应性能的测试评估设备，所述电磁环境适应性能评估装置由数据接口电路、电源电路、复位电路、Flash数据存储器、基于FPGA的算法程序块、触摸屏及其接口电路组成，所述数据接口电路通过Flash数据存储器、基于FPGA的算法程序块与触摸屏接口电路相连，其中，基于FPGA的算法程序块与复位电路相连，触摸屏接口电路与触摸屏相连。
[0007]—种电子装备电磁环境适应性能的评估方法，其特征在于:采用η个信号源模拟电子装备所处的电磁环境信号，η个电磁环境模拟信号通过信号合成电路传输至待评估电子装备，处于这η个电磁环境模拟信号中的待评估电子装备完成任务的能力数据和η个电磁环境模拟信号传输至电磁环境适应性能评估装置，电磁环境适应性能评估装置根据测试方案设定、测试的电磁环境信号数据与待评估电子装备完成任务的能力数据能够对电子装备的给定电磁环境适应性能进行评估，其具体评估方法是:
[0008]电磁环境具有大小不同水平的电磁环境信号，当每一种电磁环境信号都有η个电磁环境信号，k个水平数，形成了 kn种的电磁环境，待评估电子装备在该电磁环境中完成任务的能力，是该待评估电子装备的电磁环境适应性能；
[0009]正交设计方法是设定所有电磁环境信号因子组合为样本空间，基于正交表从样本空间中挑选样本点进行电子装备电磁环境适应性能测试，然后根据测试结果分析各因子不同水平的效应，以此为基础针对各电磁环境信号因子、各水平搭配形成的电磁环境条件下对电子装备电磁环境适应性能进行正确评估:
[0010]正交表一般记为Lm(kn),其中L表不正交表，m表不正交表安排的测试次数，即正交表的行数，η表示运用该正交表可安排的电磁环境信号因子的个数，即正交表的列数，k表示各电磁环境信号因子的水平数；
[0011]在进行电子装备电磁环境适应性能测试时，首先选择对电子装备电磁环境适应性能结果有影响的电磁环境信号因子、因子的水平，或设计正交表，确定正交表的列数η稍大于或等于选择的电磁环境信号因子个数，随机地进行m个测试设置为测试序号m，测试结果为电子装备完成任务能力yu y2,…，ym，并记录于表中yu y2,…，ym ；
[0012]将测试数据对电子装备电磁环境适应性能进行评估，评估计算方法包括:计算总离差平方和、各列的离差平方和及其自由度、确定试验误差平方和，
[0013]①总离差平方和计算，假设给定不同电磁环境信号因子诸水平的搭配组合条件下的测试结果来自正态分布的样本与相互独立，且测试结果的期望值可能不同，但是方差相同。在该假设条件下，所得的m个测试结果yu y2,…，ym是m个相互独立的正态变量，期望和方差分别为
[0014]E(yj) = Uj, D(Yj) = o2，j = l，2，...，m (I)
[0015]把每个电磁环境信号因子第i(i = 1,2,-,k)水平所对应的测试结果分别相加，求出每个水平下的总和，用Tia = i,2,-,k)表示。并在正交表中增加相应的行表示。
[0016]计算测试结果的总平均值，即
[0017]
【权利要求】
1.一种电子装备电磁环境适应性能的测试设备，其特征在于:包括:电磁环境因素的η个模拟信号源、信号合成电路、待评估电子装备、电磁环境适应性能评估装置，所述电磁环境因素的η个模拟信号源通过数据传输线缆与信号合成电路相连，信号合成电路通过数据传输线缆与待评估电子装备相连，待评估电子装备通过数据传输线缆与电磁环境适应性能评估装置相连，信号合成电路通过数据传输线缆与电磁环境适应性能评估装置相连。
2.根据权利要求1所述的一种电子装备电磁环境适应性能的测试设备，其特征在于:所述电磁环境适应性能评估装置由数据接口电路、电源电路、复位电路、Flash数据存储器、基于FPGA的算法程序块、触摸屏及其接口电路组成，所述数据接口电路通过Flash数据存储器、基于FPGA的算法程序块与触摸屏接口电路相连，其中，基于FPGA的算法程序块与复位电路相连，触摸屏接口电路与触摸屏相连。
3.如权利要求1所述一种电子装备电磁环境适应性能测试设备的评估方法，其特征在于:米用η个信号源模拟电子装备所处的电磁环境信号,η个电磁环境模拟信号通过信号合成电路传输至待评估电子装备，处于这η个电磁环境模拟信号中的待评估电子装备完成任务的能力数据和η个电磁环境模拟信号传输至电磁环境适应性能评估装置，电磁环境适应性能评估装置根据测试方案设定、测试的电磁环境信号数据与待评估电子装备完成任务的能力数据能够对电子装备的给定电磁环境适应性能进行评估，其具体评估方法是: 电磁环境具有大小不同水平的电磁环境信号，当每一种电磁环境信号都有η个电磁环境信号，k个水平数，形成了 kn种的电磁环境，待评估电子装备在该电磁环境中完成任务的能力，是该待评估电子装备的电磁环境适应性能； 正交设计方法是设定所有电磁环境信号因子组合为样本空间，基于正交表从样本空间中挑选样本点 进行电子装备电磁环境适应性能测试，然后根据测试结果分析各因子不同水平的效应，以此为基础针对各电磁环境信号因子、各水平搭配形成的电磁环境条件下对电子装备电磁环境适应性能进行正确评估: 正交表一般记为Lm(kn)，其中L表示正交表，m表示正交表安排的测试次数，即正交表的行数，η表不运用该正交表可安排的电磁环境信号因子的个数，即正交表的列数，k表不各电磁环境信号因子的水平数； 在进行电子装备电磁环境适应性能测试时，首先选择对电子装备电磁环境适应性能结果有影响的电磁环境信号因子、因子的水平，或设计正交表，确定正交表的列数η稍大于或等于选择的电磁环境信号因子个数，随机地进行m个测试设置为测试序号m，测试结果为电子装备完成任务能力Y1, y2,…，ym，并记录于表中yu y2,…，ym ； 将测试数据对电子装备电磁环境适应性能进行评估，评估计算方法包括:计算总离差平方和、各列的离差平方和及其自由度、确定试验误差平方和； ①总离差平方和计算，假设给定不同电磁环境信号因子诸水平的搭配组合条件下的测试结果来自正态分布的样本与相互独立，且测试结果的期望值可能不同，但是方差相同。在该假设条件下，所得的m个测试结果yu y2,…，ym是m个相互独立的正态变量，期望和方差分别为
E(Yj) = U」,D(yj) = σ 2，j = 1，2，...，m (I) 把每个电磁环境信号因子第i(i = 1,2,-,k)水平所对应的测试结果分别相加，求出每个水平下的总和，用Ti (i = 1,2,-,k)表示。并在正交表中增加相应的行表示。计算测试结果的总平均值，即
【文档编号】G01R31/00GK103995192SQ201410179104
【公开日】2014年8月20日 申请日期:2014年4月29日 优先权日:2014年4月29日
【发明者】柯宏发, 夏斌, 赵继广, 杜红梅, 刘 东, 戴增刚 申请人:中国人民解放军装备学院