用于测量倒角台的平整度的方法
【专利摘要】一种用于测量倒角台的平整度的方法包括以下步骤：在该倒角台上放置基板；利用倒角轮对该基板的边缘进行多次倒角，同时改变该倒角轮相对于该基板的高度的相对高度；定位对称倒角点，在对称倒角点处被倒角的边缘是上下对称的；将该倒角轮的相对高度的值与所得到的对称倒角点进行匹配；以及根据倒角轮的与对称倒角点相匹配的相对高度的值，得到该倒角台的平整度。
【专利说明】用于测量倒角台的平整度的方法
[0001] 相关申请的交叉引用
[0002] 本申请要求于2013年5月28日提交的韩国专利申请No. 10-2013-0060440的优 先权，为了所有目的，该韩国专利申请的全部内容通过该引用并入本申请。
【技术领域】
[0003] 本发明涉及用于测量倒角台的平整度的方法，更具体地，涉及用于测量倒角台的 平整度的方法，其中该倒角台的平整度可以被提供为量化结果。
【背景技术】
[0004] 在多个领域中，需要对基板的边缘进行倒角。例如，应用于诸如液晶显示器（LCD)、 等离子体显示面板（PDP)和电致发光显示器（ELD)之类的平板显示器的玻璃基板，可以通 过熔化、成形、切割以及倒角工艺制造而成。也就是说，通过对玻璃原材料进行熔化，通过使 熔化玻璃凝固而将其成形成板，根据预定尺寸切割该玻璃板，以及对所切割的玻璃的边缘 进行倒角，来制造玻璃基板是可能的。
[0005] 基板边缘是在该基板被放置在倒角台上的状态下被倒角的。优选的是，沿自上而 下的方向对基板的边缘进行对称倒角。然而，当倒角台不平时，在基板边缘上形成非对称的 倒角点，即局部区域被非对称地倒角。
[0006] 传统上，当对基板进行非对称倒角时，执行替换设备的用于固定基板的经非对称 倒角的部分的组件的操作，或执行利用薄钢板精确地调整倒角台的局部高度的操作。然而， 不能执行量化补偿，因为实际上确定倒角台变化多少是不可能的。相应地，存在一个问题， 即因为重复地执行试验和误差，由该操作的结果导致工人的劳动和时间浪费。
[0007] 在本发明的【背景技术】部分中公开的信息仅用于更好地理解本发明的背景，而不应 当被认为承认或以任何形式暗示该信息形成本领域技术人员已知的现有技术。
【发明内容】
[0008] 本发明的各方面提供一种用于测量倒角台的平整度的方法，其中倒角台的平整度 可以被监测并且结果可以被显示为量化结果。
[0009] 在本发明的一个方面中，提供一种用于测量倒角台的平整度的方法。所述方法包 括下列步骤：在所述倒角台上放置基板；利用倒角轮对所述基板的边缘进行多次倒角，同 时改变所述倒角轮相对于所述基板的高度的相对高度；定位对称倒角点，在所述对称倒角 点处被倒角的边缘是上下对称的，并且将所述倒角轮的所述相对高度的值与所得到的对称 倒角点进行匹配；并且根据所述倒角轮的与所述对称倒角点匹配的所述相对高度的值，得 到所述倒角台的平整度。
[0010] 根据本发明的实施例，监测所述倒角台的平整度并且以量化值表示结果是可能 的。具体地，本发明使得有可能迅速地确定由于重复的倒角操作而持续劣化的倒角台的劣 化程度，并且直接采取必要措施。这具有能够最小化劳动损失和时间损失的优势，从而提高 倒角操作的效率。具体地，本发明可以使测量平整度的操作自动化，从而消除与测量有关的 操作的加载。
[0011] 此外，根据本发明的实施例，间接地测量而非直接测量倒角台的平整度是可能的。 直接测量倒角台的平整度的操作是危险的操作，其必须在生产线短暂地停止之后在设备中 间执行。本发明可以使设备保持停止的时间（加工大约10个基板所需的时间：5分钟）最 小化，并且保护工人不受危险环境影响。
[0012] 而且，由于相对于倒角轮或者进行倒角操作的对象限定倒角台的平整度，所以将 倒角轮沿上下方向的震动反映为误差因素是可能的。因此，有可能迅速地发现和了解在倒 角后对质量有影响的任何现象，并且直接采取必要措施。
[0013] 此外，当使用分离的测量设备时，可能产生测量误差，这是因为测量设备的测量点 可能与由倒角轮倒角的实际点不对准。相比之下，本发明通过限定相对于倒角轮的平整度， 可以防止这种测量误差。
[0014] 本发明的方法和装置具有其它特征和优势，这些其它特征和优势根据包含在本发 明中的附图以及本发明的下面【具体实施方式】是显而易见，或者这些其它特征和优势在附图 中以及在本发明的下面【具体实施方式】中更详细地被阐述，附图和【具体实施方式】共同用于说 明本发明的特定原理。
【专利附图】
【附图说明】
[0015] 图1是示出对基板的一个边缘进行倒角的过程的示意图；
[0016] 图2是示出基板的一个边缘上的倒角的非对称变化的侧面剖视图；
[0017] 图3是示出根据本发明实施例的测量方法的示意图；以及
[0018] 图4是示出倒角台平整度的测量结果的图。
【具体实施方式】
[0019] 现在将详细地参考本发明的各实施例，其中在附图中图示出并且在下面描述各实 施例的示例，使得具有与本发明相关的领域普通技能的人可以容易地将本发明付诸实践。
[0020] 在全文中，会参考附图，在附图中相同的附图标记和符号在不同的附图中用来表 示相同或类似的组件。在本发明的下面描述中，当本发明中包含的已知功能和组件的详细 描述可能使本发明的主题不清楚时，将省略对已知功能和组件的详细描述。
[0021] 图1是示出对基板的一个边缘进行倒角的操作的示意图。
[0022] 在倒角台30上放置基板10。本文中，术语"上（向上）"、"下（向下）"、"左"和 "右"被用来描述位置关系，而不表示相对于地球表面的绝对位置。因此，在倒角台30上或 上方放置基板10的描述，仅意味着基板10是沿被指定为从倒角台30起向上的方向上放置 的，但该向上的方向不一定表不其面向离开地球表面。尽管基板10可以是用于显不设备的 玻璃基板，但是本发明不局限于此。根据本发明的基板10可以由任何材料制成，只要该基 板应被倒角。
[0023] 倒角轮20由比基板10更坚硬的材料制成。当待倒角的对象是玻璃基板10时，倒 角轮20典型地包含金刚石研磨片。通常，将倒角轮20提供为盘型。在倒角轮20的外周沿 其圆周方向形成凹槽。槽的内侧抵靠基板10的边缘，从而对基板10的边缘进行均匀倒角。 倒角轮20被专用研磨机夹持，从而以高速旋转。
[0024] 通常，移动基板10,并且倒角轮20在适当位置旋转。然而，这不旨在是限制性的。 例如，基板10是固定的且倒角轮20是可移动的布置是可能的，或者基板10和倒角轮20都 是可移动的布置是可能的。响应于基板10与倒角轮20之间的相对运动，倒角轮20在沿边 缘移动的同时对基板10的边缘进行倒角。
[0025] 图2是示出基板边缘上倒角的非对称变化的侧面剖视图。
[0026] 例如，因为玻璃板薄（具有大约1_或更小的厚度），因此由于倒角台的平整性的 原因以及在玻璃板重量的影响下，玻璃板沿倒角台的上表面的形状弯曲。在此状态下，玻璃 板紧密地邻接倒角台的上表面。因此，当倒角台30不平时，基板10的中心点与倒角轮20 的中心点局部未对准。当倒角台30的局部高度低于基准高度时，基板10边缘的中心点被 放置得比倒角轮20的中心点低，如图2所示。在此情况下，基板的下表面比基板的上表面 更多地被倒角，使得下表面的倒角宽度变得大于上表面的倒角宽度。相比之下，当倒角台30 的局部高度大于基准高度时，基板10边缘处剖面的局部中心点被放置得高于倒角轮20的 中心点。在此情况下，基板的上表面比基板的下表面更多地被倒角，使得上表面的倒角宽度 变得大于下表面的倒角宽度。
[0027] 图3是示出根据本发明实施例的测量方法的示意图。
[0028] 通过将倒角轮放置在预定的相对高度，对基板进行倒角。本文中，术语"相对高度" 表示倒角轮相对于基板高度的相对高度。如上面描述的，应当理解，使用"高度"，是为了描 述相对位置关系而不是为了表示绝对位置。在完成倒角之后，定位对称倒角点，即基板10 边缘上的沿上下方向被对称倒角的点。根据示例性实施例，基板10的上表面的倒角宽度和 基板10的下表面的倒角宽度彼此相等所在的点被定位为对称倒角点。然而，本发明不限于 此。例如，通过从侧面直接检查基板10的边缘的剖面来定位对称倒角点，是可能的。可以 利用如视觉相机或距离传感器的多种设备，来定位对称倒角点。
[0029] 当定位每个对称倒角点时，将倒角轮20的相对高度的值与对称倒角点进行匹配。 这里，尽管工人可以记住倒角轮20的相对高度的值和对称倒角点，或者通过将每个相对高 度的值与对应的对称倒角点进行匹配来将它们记录在笔记簿上，但是优选地利用计算机的 帮助进行匹配。换言之，优选的是，应当构造一种系统，使得当定位对称倒角点时，与该对称 倒角点对应的倒角轮20的相对高度被自动地输入到计算机中，从而建立数据库。
[0030] 这里，根据本发明的实施例，用于形成该数据库的信息包括每个对称倒角点的位 置信息，具体地，对称倒角点的X坐标和对称倒角点的y坐标（X轴沿基板10边缘的方向延 伸，并且y轴沿倒角轮20的相对高度的方向延伸）。
[0031] 通过改变倒角轮20相对于基板10的高度的相对高度，对基板10的边缘依次进行 倒角。尽管同一基板10的边缘可以被再次倒角，但是优选使用另一基板10。也就是说，对 多个基板10的边缘进行倒角，同时改变倒角轮20相对于每个基板10的高度的相对高度。
[0032] 这里，尽管可以通过向上和/或向下移动倒角轮，改变相对位置，但这不旨在是限 制性的。例如，在固定倒角轮的同时向上和/或向下移动基板，或者向上和/或向下移动倒 角轮和基板，是可能的。
[0033] 如上面描述的，对基板的边缘进行多次倒角，同时改变倒角轮相对于基板高度的 相对高度，定位对称倒角点，并且将倒角轮的相对高度的值与所定位的对称倒角点进行匹 配。当在具体高度值处不再存在对称倒角点时，该值被视作此高度的最高极限值或最低极 限值。也就是说，需要设置倒角轮20的相对高度的值，使得在此高度的最高限制和最低限 制之间不存在对称点。
[0034] 最后，根据与对称倒角点有关的信息和倒角轮20的与该对称倒角点匹配的相对 高度的值，得到倒角台30的平整度。
[0035] 例如，在利用倒角轮进行倒角的步骤之后，利用视觉相机定位对称倒角点，并且构 造一种基于根据对称倒角点所获得的信息自动地建立数据库的系统，是可能的，从而最小 化或消除了关于测量的操作的加载。
[0036] 图4是示出倒角台30的平整度的测量结果的图。
[0037] 通过用直线、内插曲线等连接对称倒角点，可以获得倒角台30的平整度的近似分 布。
[0038] 已关于特定实施例和附图提供了本发明特定示例性实施例的上面描述。它们不旨 在是排它的或将本发明局限于所公开的特定形式，并且显而易见地，鉴于上面的教导，对具 有本领域普通技能的人员来说，许多修改和变形是可能的。
[0039] 因此，本发明的范围旨在不局限于上述实施例，而是由所附权利要求和权利要求 的等同物限定。
【权利要求】
1. 一种用于测量倒角台的平整度的方法，包括： 在所述倒角台上放置基板； 利用倒角轮对所述基板的边缘进行多次倒角，同时改变相对于所述基板的高度的相对 高度，使得所述倒角轮每次具有所述相对高度的不同值； 定位对称倒角点，在所述对称倒角点处被倒角的边缘是上下对称的，并且将所述倒角 轮的所述相对高度的值与所定位的对称倒角点进行匹配；以及 根据所述倒角轮的与所述对称倒角点匹配的所述相对高度的值，得到所述倒角台的平 整度。
2. 根据权利要求1所述的方法，其中定位对称倒角点包括：定位所述基板的上表面的 倒角宽度与所述基板的下表面的倒角宽度相等所在的点。
3. 根据权利要求1所述的方法，其中对多个基板的边缘进行相应次数的倒角，同时改 变所述倒角轮的所述相对高度，使得所述倒角轮关于相应基板具有所述相对高度的不同 值。
4. 根据权利要求1所述的方法，其中所述倒角轮的所述相对高度的值被设置为，使得 所述相对高度的最高值和最低值均不与所述对称倒角点中的任何一个匹配。
5. 根据权利要求1所述的方法，其中所述基板包括用于显示器的玻璃基板。
6. 根据权利要求1所述的方法，其中所述倒角台的平整度根据所述对称倒角点的X坐 标和所述倒角轮的所述相对高度的值的y坐标得到，其中X轴沿所述基板的边缘方向延伸， 并且y轴沿所述倒角轮的所述相对高度的方向延伸。
7. 根据权利要求1所述的方法，其中所述倒角轮沿其圆周方向在所述倒角轮的外表面 中具有凹槽。
【文档编号】G01B21/30GK104215212SQ201410229811
【公开日】2014年12月17日 申请日期:2014年5月28日 优先权日:2013年5月28日
【发明者】韩明宝 申请人:康宁精密素材株式会社