样品分子特性谱线分析仪的制作方法
【专利摘要】样品分子特性谱线分析仪，其特征在于，主要包括：进样装置，样品导入装置，样品预处理装置，样品微粒化装置，流体控制装置，样品热处理装置，特征谱线分析装置，信号放大装置，信号显示与记录装置，其中，样品导入装置含有样品导流管，该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金，样品微粒化装置含有颗粒降解电极，该电极材料为氧化铌钷合金，流体控制装置含有流体离子筛选板，该筛选板材料为六硅烷溴化镨铹纳米复合材料，特征谱线分析装置含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜，该透镜表面镀有厚度为30μm的偏硅酸氟化镤纳米复合透光膜。
【专利说明】样品分子特性谱线分析仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及特性谱线分析领域，尤其涉及样品分子特性谱线分析仪。
【背景技术】
[0002]分子特性谱线分析，主要通过分子的内部运动状态发生变化所产生的吸收或发射光谱，从紫外到远红外直至微波谱，包括整个分子的转动，分子中原子在平衡位置的振动以及分子内电子的运动，包括转动光谱、振动光谱和电子光谱。分子中的电子在不同能级上的跃迁产生电子光谱，由于它们处在紫外与可见区，为紫外可见光谱，电子跃迁常伴随能量较小的振转跃迁带状光谱。与同一电子能态的不同振动能级跃迁对应振动光谱，这部分光谱处在红外区。振动伴随着转动能级的跃迁，光谱有较多较密谱线，由分子转动能级间的跃迁产生转动光谱，这部分光谱位于波长较长的远红外区和微波区。但是现有分析技术，对于分子光谱与分子的转动惯量、分子的键长和键强度以及分子离解能、分子的结构的分析准确度还不够高，因此，需要对现有技术加以改进。
【发明内容】
[0003]为了克服现有装置的不足之处，本发明采用的技术方案如下:
[0004]样品分子特性谱线分析仪，其特征在于，主要包括:
[0005]1-进样装置，2—样品导入装置，3—样品预处理装置，4一样品微粒化装置，5-流体控制装置，6—样品热处理装置，7-特征谱线分析装置，8—信号放大装置，9一信号显示与记录装置，
[0006]其中，
[0007]样品导入装置(2)含有样品导流管，该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金，
[0008]样品微粒化装置(4)含有颗粒降解电极，该电极材料为氧化铌钷合金，
[0009]流体控制装置(5)含有流体离子筛选板,该筛选板材料为六娃烧溴化镨镑纳米复合材料，
[0010]特征谱线分析装置(7)含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜，该透镜表面镀有厚度为30um的偏硅酸氟化镤纳米复合透光膜。
[0011]进样装置(I)主要用于样品的进样筛选，使符合规格颗粒要求的样品能够进入，样品导入装置(2)主要用于样品的导流传输，保证检测分析的连续进行，样品预处理装置
(3)主要用于样品的初步颗粒控制与粒径细化，提高后续分子特征谱线分析的准确程度，样品微粒化装置(4)主要用于样品颗粒的初步裂解，保证其粒径降低到微米级，流体控制装置(5)主要用于样品离子流束体离子电荷与粒径控制，进一步筛选掉颗粒尺寸超标的样品分析粒子，样品热处理装置(6)主要用于样品分子化学键的断裂以及分子主要基团特征谱线的辐射产生，特征谱线分析装置(7)主要用于分析样品分子特征辐射谱线的分析，信号放大装置(8)主要用于分析样品特征谱线的信号放大与稳定传输，避免信号衰减速度过快，信号显示与记录装置(9)主要用于分子基团与辐射谱线分析信号的显示与记录。[0012]本发明与现有技术相比具有的有益效果是:
[0013](I)通过样品微粒化装置实现样品颗粒的初步裂解，保证其粒径降低到微米级；
[0014](2)通过流体控制装置用于样品离子流束体离子电荷与粒径控制，进一步筛选掉颗粒尺寸超标的样品分析粒子；
[0015](3)通过样品热处理装置实现样品分子化学键的断裂以及分子主要基团特征谱线的辐射产生。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]图1是样品分子特性谱线分析仪的示意图
[0017]如图1所示，本发明所述的样品分子特性谱线分析仪，主要包括:
[0018]1-进样装置，2-样品导入装置，3-样品预处理装置，
[0019]4-样品微粒化装置，5-流体控制装置，6—样品热处理装置，
[0020]7-特征谱线分析装置，8—信号放大装置，9一信号显示与记录装置，
[0021]下面结合附图对本发明的【具体实施方式】作进一步详细的描述。
【具体实施方式】
[0022]首先，通过进样装置(I)实现样品的进样筛选，使符合规格颗粒要求的样品能够进入，结合样品导入装置(2)进行样品的导流传输，保证检测分析的连续进行，采用样品预处理装置(3)实现样品的初步颗粒控制与粒径细化，提高后续分子特征谱线分析的准确程度，借助于样品微粒化装置(4)进行样品颗粒的初步裂解，保证其粒径降低到微米级，通过流体控制装置(5)实现样品离子流束体离子电荷与粒径控制，进一步筛选掉颗粒尺寸超标的样品分析粒子，采用样品热处理装置(6)进行样品分子化学键的断裂以及分子主要基团特征谱线的辐射产生，结合特征谱线分析装置(7)用于分析样品分子特征辐射谱线的分析，通过信号放大装置(8)实现分析样品特征谱线的信号放大与稳定传输，避免信号衰减速度过快，最后，借助于信号显示与记录装置(9)进行分子基团与辐射谱线分析信号的显示与记录。
【权利要求】
1.样品分子特性谱线分析仪，其特征在于，主要包括: 1--进样装置，2-样品导入装置，3-样品预处理装置，4-样品微粒化装置，5-流体控制装置，6—样品热处理装置，7—特征谱线分析装置，8—信号放大装置，9一信号显示与记录装置， 其中， 样品导入装置(2)含有样品导流管，该导流管材料为偏铬酸氧化钐镉合金， 样品微粒化装置(4)含有颗粒降解电极，该电极材料为氧化铌钷合金， 流体控制装置(5)含有流体离子筛选板，该筛选板材料为六硅烷溴化镨镑纳米复合材料， 特征谱线分析装置(7)含有九棱柱型偏振特征谱线分析透镜，该透镜表面镀有厚度为30um的偏硅酸氟化嬉镤纳米复合透光膜。
【文档编号】G01N21/25GK104020111SQ201410232279
【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年5月29日 优先权日:2014年5月29日
【发明者】储冬红, 彭飞, 郭睦庚 申请人:成都中远千叶科技有限公司