掺锡氧化铟的短路测试电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种掺锡氧化铟的短路测试电路，该测试电路包括放大电路、蜂鸣器、第一针灸银针和第二针灸银针；放大电路包括第一三极管和第二三极管，第一三极管和第二三极管的集电极均与第一针灸银针电连接，第一三极管的基极与第二针灸银针电连接，第一三极管的发射极与第二三极管的基极电连接，第二三极管的发射极与蜂鸣器的另一端电连接，蜂鸣器的另一端接地。本实用新型测试时，将两根针灸银针分别放在需要测试的ITO线上，如果两根ITO短路了，那么放大电路的输入端就与电源端连接，放大电路导通，输出电流驱动蜂鸣器报警，测试人员就可以判断该ITO短路。提高了测试的灵敏度及精确度，且测试不受ITO线走线粗细的影响，扩大了适用范围。
【专利说明】掺锡氧化铟的短路测试电路
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及Ι--检测领域，尤其涉及一种掺锡氧化铟的短路测试电路。
【背景技术】
[0002] 现有的LCD厂测试ΙΤ0时，测试人员都是采用万用表，利用万用表测试短路的功 能，将万用表的表笔放在需要测试的ΙΤ0上。ΙΤ0是掺锡氧化铟，英文全称是Indium Tin Oxide，是一种η型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好 的化学稳定性。
【发明内容】
[0003] 现有的万用表测试存在着部分的缺陷，若LCD的ΙΤ0电阻过大时，万用表的测试 灵敏度将得不到保证，这就导致生产出来产品的良率也得不到保证，在ITO PITCH值较小 时，即ΙΤ0走线细小时，万用表表笔过大，也不容易测试ΙΤ0短路现象。因此该万用表的使 用范围具有一定的局限性。
【发明内容】
[0004] 针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型提供一种电路简单、使用方便、灵敏 度高、精度准确、适用范围广及工作效果高的掺锡氧化铟的短路测试电路。
[0005] 为实现上述目的，本实用新型提供一种掺锡氧化铟的短路测试电路，包括放大电 路、蜂鸣器、第一针灸银针和第二针灸银针；所述放大电路包括第一三极管和第二三极管， 所述第一三极管和第二三极管的集电极均与第一针灸银针电连接，所述第一三极管的基 极与第二针灸银针电连接，所述第一三极管的发射极与第二三极管的基极电连接，所述第 二三极管的发射极与蜂鸣器的另一端电连接，所述蜂鸣器的另一端接地。
[0006] 其中，所述放大电路还包括第一电阻，所述第一三极管的发射极通过第一电阻与 第二三极管的基极电连接。
[0007] 其中，所述第一三极管的基极通过第二电阻与第二针灸银针电连接。
[0008] 其中，所述第一三极管的集电极通过第三电阻与第一针灸银针电连接。
[0009] 其中，所述第二三极管的集电极通过第四电阻与第一针灸银针电连接。
[0010] 本实用新型的有益效果是：与现有技术相比，本实用新型提供的掺锡氧化铟的短 路测试电路，主要利用两个三极管组成驱动蜂鸣器的放大电路，且增设两根针灸银针，第二 针灸银针外接第一三极管的基极即放大电路的输入端，两个三极管的集电极即放大电路的 电源端均与第一针灸银针连接，测试时，将两根针灸银针分别放在需要测试的ΙΤ0上，如果 两根ΙΤ0短路了，那么放大电路的输入端就与电源端连接，放大电路导通，输出电流驱动蜂 鸣器报警，测试人员就可以判断该ΙΤ0短路。通过该电路结构的改进，可根据蜂鸣器的工作 状态来判断ΙΤ0的异常与否，提高了测试的灵敏度及精确度，提高了产品检测的合格率，且 测试不受ΙΤ0走线粗细的影响，扩大了适用范围。本实用新型具有电路简单、使用方便、灵 敏度高、精度准确、适用范围广及工作效果高及减少产品报废等特点。
【专利附图】
【附图说明】
[0011] 图1为本实用新型的掺锡氧化铟的短路测试电路的电路图。
[0012] 主要元件符号说明如下：
[0013] 10、放大电路 11、第一针灸银针
[0014] 12、第二针灸银针 LS、蜂鸣器
[0015] Q1、第一三极管 Q2、第二三极管
[0016] R1、第一电阻 R2、第二电阻
[0017] R3、第三电阻 R4、第四电阻
【具体实施方式】
[0018] 为了更清楚地表述本实用新型，下面结合附图对本实用新型作进一步地描述。
[0019] 请参阅图1，本实用新型的掺锡氧化铟的短路测试电路，包括放大电路10、蜂鸣器 LS、第一针灸银针11和第二针灸银针12 ;放大电路10包括第一三极管Q1和第二三极管Q2， 第一三极管Q1和第二三极管Q2的集电极均与第一针灸银针11电连接，第一三极管Q1的 基极与第二针灸银针12电连接，第一三极管Q1的发射极与第二三极管Q2的基极电连接， 第二三极管Q2的发射极与蜂鸣器LS的一端电连接，蜂鸣器LS的另一端接地。
[0020] 相较于现有技术，本实用新型提供的掺锡氧化铟的短路测试电路，主要利用两个 三极管组成驱动蜂鸣器LS的放大电路10,且增设两根针灸银针，第二针灸银针12外接第 一三极管Q1的基极即放大电路10的输入端，两个三极管的集电极即放大电路10的电源端 均与第一针灸银针11连接，测试时，将两根针灸银针分别放在需要测试的ΙΤ0上，如果两根 ΙΤ0短路了，那么放大电路10的输入端就与电源端连接，放大电路10导通，输出电流驱动 蜂鸣器LS报警，测试人员就可以判断该ΙΤ0短路。通过该电路结构的改进，可根据蜂鸣器 LS的工作状态来判断ΙΤ0的异常与否，提高了测试的灵敏度及精确度，提高了产品检测的 合格率，且测试不受ΙΤ0走线粗细的影响，扩大了适用范围。本实用新型具有电路简单、使 用方便、灵敏度高、精度准确、适用范围广及工作效果高及减少产品报废等特点。
[0021] 在本实施例中，放大电路10还包括第一电阻R1，第一三极管Q1的发射极通过第一 电阻R1与第二三极管Q2的基极电连接；第一三极管Q1的基极通过第二电阻R2与第二针 灸银针12电连接。第一三极管Q1的集电极通过第三电阻R3与第一针灸银针11电连接； 第二三极管Q2的集电极通过第四电阻R4与第一针灸银针11电连接。
[0022] 本实用新型提供的掺锡氧化铟的短路测试电路，该电路的工作原理如下：为解决 常规测试方法带来的许多不便性，本实用新型利用常见的普通的第一三极管Q1和第二三 极管Q2,主要由第一三极管Q1和第二三极管Q2组成放大电路10,该放大电路10用来驱动 蜂鸣器LS，在测试时，将第一针灸银针11和第二针灸银针12分别放在需要测试的ΙΤ0上， 如果两根ΙΤ0短路了，那么放大电路10的输入端就跟电源端连接，放大电路10导通，输出 电流驱动蜂鸣器LS报警，测试人员就可以判断该ΙΤ0短路。使得采用该测试电路的LCD厂 可以在生产初期就检测出ΙΤ0短路，减少后期报废。
[0023] 以上公开的仅为本实用新型的几个具体实施例，但是本实用新型并非局限于此， 任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1. 一种掺锡氧化铟的短路测试电路，其特征在于，包括放大电路、蜂鸣器、第一针灸 银针和第二针灸银针；所述放大电路包括第一三极管和第二三极管，所述第一三极管和第 二三极管的集电极均与第一针灸银针电连接，所述第一三极管的基极与第二针灸银针电连 接，所述第一三极管的发射极与第二三极管的基极电连接，所述第二三极管的发射极与蜂 鸣器的另一端电连接，所述蜂鸣器的另一端接地。
2. 根据权利要求1所述的掺锡氧化铟的短路测试电路，其特征在于，所述放大电路还 包括第一电阻，所述第一三极管的发射极通过第一电阻与第二三极管的基极电连接。
3. 根据权利要求1所述的掺锡氧化铟的短路测试电路，其特征在于，所述第一三极管 的基极通过第二电阻与第二针灸银针电连接。
4. 根据权利要求1所述的掺锡氧化铟的短路测试电路，其特征在于，所述第一三极管 的集电极通过第三电阻与第一针灸银针电连接。
5. 根据权利要求1所述的掺锡氧化铟的短路测试电路，其特征在于，所述第二三极管 的集电极通过第四电阻与第一针灸银针电连接。
【文档编号】G01R31/02GK203894356SQ201420090460
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2014年3月2日 优先权日:2014年3月2日
【发明者】杨锦喜 申请人:龙川耀宇科技有限公司