光学玻璃析晶性能测试样品容器的制造方法

文档序号:6049999阅读:410来源:国知局
光学玻璃析晶性能测试样品容器的制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种能够提高玻璃析晶性能测试准确性的样品容器。光学玻璃析晶性能测试样品容器,包括主体,在所述主体的中心设置有样品槽。本实用新型通过将样品放置在样品槽中,并采用烧结陶瓷制作的盖片遮蔽,有效排除析晶性能测试过程中外界粉渣的影响,以及熔体高温挥发和侵蚀等误差因素,提高了玻璃析晶性能测试的准确性;热电偶可插入样品容器内测试校准,实现了对样品温度梯度分布测试,绘制温度分布曲线,更加真实方便地进行校验,扩大了样品容器的使用范围。
【专利说明】光学玻璃析晶性能测试样品容器

【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种样品容器,特别是涉及一种光学玻璃析晶性能测试样品容器。

【背景技术】
[0002]光学玻璃在熔体冷却成型的过程中,玻璃处于较高能态,具有自发放热转化为内能较低的晶体的倾向,玻璃会析晶,严重影响玻璃性能。因此,玻璃析晶性能的测定,对于玻璃研发、生产和品质管理具有重要意义。
[0003]目前一般采用梯度炉对玻璃析晶性能进行测试,需要将一节玻璃试样装载在样品容器内,放入梯度炉进行测试,但在玻璃熔化测试过程中,炉体和样品容器高温下会产生粉渣,掉入玻璃熔体中,产生杂质析晶,导致误测。另外,玻璃熔体高温下挥发以及侵蚀,都会影响玻璃析晶性能的检测。
实用新型内容
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够提高玻璃析晶性能测试准确性的样品容器。
[0005]本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是:光学玻璃析晶性能测试样品容器,包括主体,在所述主体的中心设置有样品槽。
[0006]进一步的,在所述样品槽的开口端设置有盖片。
[0007]进一步的,所述主体和盖片采用烧结陶瓷制成。
[0008]进一步的,在所述主体的一端面开有通孔。
[0009]本实用新型的有益效果是:通过将样品放置在样品槽中,并采用烧结陶瓷制作的盖片遮蔽,有效排除析晶性能测试过程中外界粉渣的影响,以及熔体高温挥发和侵蚀等误差因素,提高了玻璃析晶性能测试的准确性;热电偶可插入样品容器内测试校准,实现了对样品温度梯度分布测试,绘制温度分布曲线,更加真实方便地进行校验,扩大了样品容器的使用范围。

【专利附图】

【附图说明】
[0010]图1是本实用新型的主视图。
[0011]图2是图1的A-A剖视图。
[0012]图3是另一种结构的剖视图。

【具体实施方式】
[0013]如图1-图2所示,本实用新型的样品容器包括主体1,在所述主体I的中心根据试样尺寸设置有样品槽2,试样可直接放置在样品槽2内,也可在样品槽2内放置其它容器,以提高对高腐蚀性试样测试的可靠性。
[0014]在样品容器的样品槽2的开口端设置有盖片3,在保证温度传导的同时,可以有效遮蔽外界粉渣的影响,还可以降低熔体高温挥发。
[0015]上述主体I以及盖片3最好都采用烧结陶瓷制成,烧结陶瓷质地紧密、高温稳定性好、耐腐蚀性能好、易于放置,调整拿取都不会产生粉渣污染。
[0016]由于光学玻璃析晶性能测试,对温度梯度精度要求比较高,一般梯度炉的校正是将热电偶插入炉体内测试校准。测试的炉体温度并不代表样品容器内的试样温度,存在一定误差。为了提高试样温度控制的准确性,本实用新型的样品容器在主体I的一端面开有通孔4,如图3所示。这样热电偶可通过通孔4插入样品容器内测试校准,实现对样品容器内温度梯度分布的测试,绘制温度分布曲线,可以更加真实方便地对样品温度梯度进行校验,提高光学玻璃析晶性能测试的准确性,同时也扩大了样品容器的使用范围。
【权利要求】
1.光学玻璃析晶性能测试样品容器,包括主体(I),其特征在于:在所述主体(I)的中心设置有样品槽(2),在所述样品槽(2)的开口端设置有盖片(3),所述主体(I)和盖片(3)采用烧结陶瓷制成。
2.如权利要求1所述的光学玻璃析晶性能测试样品容器,其特征在于:在所述主体(I)的一端面开有通孔(4)。
【文档编号】G01N1/36GK203929480SQ201420129528
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2014年3月21日 优先权日:2014年3月21日
【发明者】周佺佺, 王竑 申请人:成都光明光电股份有限公司
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