一种四探针电阻测试笔的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种四探针电阻测试笔，包括前端设置有探针的测试笔和保护套，其中，所述保护套的前端设置有保护头，该保护头上与所述探针相对应的位置设置有探针口；所述保护套的内部设置有弹簧，该弹簧的内孔内放置有所述测试笔，并且，所述测试笔上与所述弹簧的末端相对应的位置设置有弹簧座，所述保护套的后端设置有与所述弹簧座相对应的盖帽。本实用新型的有益效果为：通过设置带有保护套的四探针电阻测试笔，并且保护套的保护头形状与被测单晶硅的形状相适配，使得保护套和单晶棒表面良好贴合，保证了测试笔不会左右晃动，从而增加探针测试仪的使用寿命。
【专利说明】—种四探针电阻测试笔
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电阻测试【技术领域】，具体来说，涉及一种四探针电阻测试笔。
【背景技术】
[0002]随着锂离子光伏行业发展迅速，单晶硅的产量也日益增加，其中，单晶棒的需求量最大，对其的电阻性能要求也较高，。单晶棒出炉冷却以后，要对其电阻进行精确的测量。日常生产中，要求每隔10mm测量其表面一个点的电阻。而使用最为频繁的就是四探针电阻测试仪，其由测试笔、连接线和电脑显示屏构成，其测试探头采用的是高速钢针，探针后有伸缩装置。在使用时，探针接触到被测物体表面后，用力按下测试笔，四根探针便与物体表面接触良好，待液晶显示屏上数据稳定后读取数据。单晶棒表面光滑，且为曲面，在使用探针测试仪的过程中，探针常由于受力不均和滑动而断裂，且测试的工作量大，这使保护测试仪的难度又增加了许多，从而导致探针测试仪使用寿命短。
[0003]针对相关技术中探针测试仪使用寿命短的问题，目前尚未提出有效的解决方案。实用新型内容
[0004]针对现有技术中探针测试仪使用寿命短的问题，本实用新型提供一种四探针电阻测试笔，以保护电阻测试仪的探针，增加其使用寿命，从而降低其使用成本。
[0005]为实现上述技术目的，本实用新型的技术方案是这样实现的:
[0006]一种四探针电阻测试笔，包括前端设置有探针的测试笔和保护套，其中，所述保护套的前端设置有保护头，该保护头上与所述探针相对应的位置设置有探针口 ；所述保护套的内部设置有弹簧，该弹簧的内孔内放置有所述测试笔，并且，所述测试笔上与所述弹簧的末端相对应的位置设置有弹簧座；所述保护套的后端设置有与所述弹簧座相对应的盖帽。
[0007]进一步的，所述保护头的材质为橡胶。
[0008]进一步的，所述保护头的形状与被测单晶硅的形状相适配。
[0009]进一步的，所述保护头头为弧形。
[0010]本实用新型的有益效果为:通过设置带有保护套的四探针电阻测试笔，并且保护套的保护头形状与被测单晶硅的形状相适配，使得保护套和单晶棒表面良好贴合，保证了测试笔不会左右晃动，在使用测试笔的间歇，保护套也起到了保护作用，保证了外界物体不与探针直接接触，且测试笔撞击地面或其他物体时，保护头和保护套内的弹簧起到了缓冲作用，避免测试笔受损，从而增加探针测试仪的使用寿命。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是根据本实用新型实施例所述四探针电阻测试笔未加保护装置时测量示意图；
[0013]图2是根据本实用新型实施例所述四探针电阻测试笔剖面图；
[0014]图3是根据本实用新型实施例所述四探针电阻测试笔保护套的主视图。
[0015]图中:
[0016]1、盖帽；2、弹簧；3、探针；4、测试笔；5、保护套；6、保护头；7、弹簧座。
【具体实施方式】
[0017]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0018]如图1-3所示，本实用新型实施例的四探针电阻测试笔，包括前端设置有探针3的测试笔4和保护套5，其中，所述保护套5的前端设置有保护头6，该保护头6上与所述探针3相对应的位置设置有探针口 ；所述保护套5的内部设置有弹簧2，该弹簧2的内孔内放置有所述测试笔4，并且，所述测试笔4上与所述弹簧2的末端相对应的位置设置有弹簧座7 ；所述保护套5的后端设置有与所述弹簧座5相对应的盖帽I。
[0019]此外，在一个实施例中，所述保护头6的形状与被测单晶硅的形状相适配，优选的，所述保护头6为弧形。
[0020]在上述方案中，对于保护头6来说，所述保护头6的材质为橡胶。
[0021]本实用新型的有益效果为:通过设置带有保护套5的四探针电阻测试笔，并且保护套5的保护头6形状与被测单晶硅的形状相适配，使得保护套5和单晶棒表面良好贴合，保证了测试笔4不会左右晃动，在使用测试笔4的间歇，保护套5也起到了保护作用，保证了外界物体不与探针3直接接触，且测试笔4撞击地面或其他物体时，保护头6和保护套5内的弹簧2起到了缓冲作用，避免测试笔4受损，从而增加探针测试仪的使用寿命。
[0022]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种四探针电阻测试笔，其特征在于，包括前端设置有探针(3)的测试笔(4)和保护套(5)，其中，所述保护套(5)的前端设置有保护头(6)，该保护头(6)上与所述探针(3)相对应的位置设置有探针口 ；所述保护套(5)的内部设置有弹簧(2)，该弹簧(2)的内孔内放置有所述测试笔(4)，并且，所述测试笔(4)上与所述弹簧(2)的末端相对应的位置设置有弹簧座(7)，所述保护套(5)的后端设置有与所述弹簧座(7)相对应的盖帽(I )。
2.根据权利要求1所述的四探针电阻测试笔，其特征在于，所述保护头(6)的材质为橡胶。
3.根据权利要求1所述的四探针电阻测试笔，其特征在于，所述保护头(6)的形状与被测单晶硅的形状相适配。
4.根据权利要求3所述的四探针电阻测试笔，其特征在于，所述保护头(6)为弧形。
【文档编号】G01R1/067GK204154763SQ201420534982
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2014年9月17日 优先权日:2014年9月17日
【发明者】高珍, 邱敏敏 申请人:九江迅通新能源科技有限公司