一种用于纳米级金属粉末sem测试的辅助制样工具的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口。使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。
【专利说明】一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及化工制造领域，具体涉及一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具制样辅助工具。
【背景技术】
[0002]金属纳米粉在体积形态上处于纳米级别，在其粉末状态时，颗粒之间的间隙很容易形成“毛细管”而形成虹吸现象，能快速吸收空气中的水分，使得局部粉末吸水团聚，形成粉团，严重影响了粉末的分散效果。目前普遍借助手工过筛网的分散性检验手段来判断金属纳米粉的分散性，具体方法为取一定量的待检金属纳米粉，加入到一定量的有机溶剂中，然后再手工过一定目数的分样筛，最终收集残留在筛网上的物质，干燥后取样进行扫描电子显微镜分析。该方法是根据残留物的多少来判断金属纳米粉分散性是否合格的依据，但在扫描电子显微镜拍摄前取样就变得尤为关键。目前，是采取用称量纸收集样品并直接倒入在样品台上，样品落点面积不好控制，扫描电子显微镜拍摄的最大面积是固定的，导致部分样品拍摄不到，检测结果差异较大。
实用新型内容
[0003]本实用新型针对现有技术的不足，提供了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。
[0004]为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:
[0005]一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口。
[0006]进一步的，所述金属柱为圆柱体。
[0007]进一步的，所述金属柱下部设有圆形孔，所述圆台形孔下部通至圆形孔上部，圆台形孔与圆形孔组合成一通孔。
[0008]进一步的，所述金属柱的材质为不锈钢，内部抛光。
[0009]本实用新型的有益效果是:使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型的结构示意图。
[0011]图中:1、金属柱，2、圆台形孔，3、进样口，4、出样口，5、圆孔。
【具体实施方式】
[0012]下面将结合附图对实用新型作进一步说明。
[0013]辅助制样工具的主要目的是:将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。
[0014]如图1所示，本实用新型提供一种辅助制样工具，包括金属柱1，金属柱I为圆柱体，在金属柱I上部设有圆台形孔2，圆台形孔2上面是进样口 3，圆台形孔2下面是出样口
4。圆台形孔2上面的口大利于样品从中放入，圆台形孔锥面经过抛光，有利于样品下落，圆台形孔2下面的口小，样品沿着锥面向下运动经出样口落到样品台上形成较小面积。
[0015]进一步的，金属柱I下部设有圆柱形孔5。下部圆柱形孔5减小金属柱下面与样品台上导电胶的接触面积，金属柱I取下后，导电胶不粘连。
[0016]使用时，将先一块导电胶粘到样品台上，再将本工具出样口朝着导电胶按在样品台上，将收集在取样纸上的样品从进样口放入，轻轻向上移开制样辅助工具，制样完成。通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量。
【权利要求】
1.一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，其特征在于:所述工具包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口 ；所述金属柱下部设有圆形孔，所述圆台形孔下部通至圆形孔上部，圆台形孔与圆形孔组合成一通孔。
2.如权利要求1所述的工具，其特征在于:所述金属柱为圆柱体。
3.如权利要求1所述的工具，其特征在于:所述金属柱的材质为不锈钢，内部抛光。
【文档编号】G01N1/28GK204214709SQ201420705795
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2014年11月21日 优先权日:2014年11月21日
【发明者】蒋超, 彭家斌 申请人:江苏博迁新材料有限公司