隧道式电容自动老化测试机的制作方法

本发明涉及电容老化测试技术领域，尤其涉及隧道式电容自动老化测试机。

背景技术：

电容算是一个消耗性的元器件，在电路里面是不可缺少的元件。通常电容要是受过压，过热以及电化学腐蚀都会导致电容的老化，具体表现为充放电的时间会很短，甚至会被击穿，造成电解质的泄露而固化造成直接的短路，原理是：不管是过压还是过热都会让电容里面电解粒子的流动超乎异常的活跃，从而形成逃逸极板的冲压，尤其是过热，这种现象更为明显，直接表现为电容烧掉，发黑，在某种程度上过压也会直接导致过热现象。

led元器件在使用过久的情况下，会产生老化现象但是生活中，只要是led元器件，比如led灯坏了的情况下，人们就会更换并且扔掉坏了的，但是这样则会造成资源浪费，重则造成环境污染，因此，解决方法就是需要对这些元器件进行回收再利用，但是又要考虑led元器件的损坏问题，检测是否是老化造成的，现有的技术对于这一块却得不到很好的处理。

技术实现要素：

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的隧道式电容自动老化测试机。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：隧道式电容自动老化测试机，包括隧道箱，所述隧道箱的两侧连接有操作台，所述操作台的上壁安装有传送滚轴，且隧道箱的一侧外壁安装有led灯组，所述隧道箱的上壁两侧设有影像传感器，且隧道箱的前壁一侧设有触控屏，所述隧道箱的前壁另一侧下方设有开关按钮，且隧道箱的下方固定有支脚，所述支脚之间通过支杆进行连接，所述操作台的下方安装有电配箱，所述电配箱的前壁固定有柜门，所述柜门通过卡扣固定在电配箱上，所述柜门的外壁一侧设有钥匙孔。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述隧道箱的内部以3-5cm间隔安装有高温灯管，所述高温灯管之间电导头，所述电导头之间连接有励磁线圈。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述支脚共设置有四个，且四个支脚均匀焊接在隧道箱的下方四个拐角处。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述开关按钮的输出端与触控屏的输入端电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述影像传感器共设置有四个，且以两个一组分别嵌设在隧道箱的上壁两侧处。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述开关按钮的输出端与影像传感器的输入端电性连接。

本发明中，该隧道式电容自动老化测试机，其主要通过隧道箱和操作台组成，led元器件放置在右侧操作台，经由传送滚轴传送到隧道箱中，通过隧道箱内的高温灯管迅速发热和励磁线圈瞬间产生高压，使得led元器件处于高温高压的环境中，通过设置的程序来控制其置于隧道箱中的时间，以保证led元器件可以达到过压和过热的状态，通过影像传感器的进出影像分析，从而判断led元器件是否老化，该隧道式led元器件电容自动老化测试机结构简单，设计合理，自动化运行，工作效率高值得大力推广。

附图说明

图1为本发明提出的隧道式电容自动老化测试机的外观结构示意图；

图2为本发明提出的隧道式电容自动老化测试机隧道箱内部结构示意图。

图例说明：

1-操作台、2-传送滚轴、3-led灯组、4-隧道箱、5-影像传感器、6-卡扣、7-电配箱、8-柜门、9-钥匙孔、10-支脚、11-支杆、12-触控屏、13-开关按钮、14-电导头、15-励磁线圈、16-高温灯管。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-2，隧道式电容自动老化测试机，包括隧道箱4，隧道箱4的两侧连接有操作台1，操作台1的上壁安装有传送滚轴2，主要用来传送led元器件，且隧道箱4的一侧外壁安装有led灯组3，能够根据检测到的状态发出相应的灯光，隧道箱4的上壁两侧设有影像传感器5，可以直接对进出的led元器件拍照分析，且隧道箱4的前壁一侧设有触控屏12，隧道箱4的前壁另一侧下方设有开关按钮13，且隧道箱4的下方固定有支脚10，支脚10之间通过支杆11进行连接，操作台1的下方安装有电配箱7，为主要的电力驱动系统，电配箱7的前壁固定有柜门8，柜门8通过卡扣6固定在电配箱7上，柜门8的外壁一侧设有钥匙孔9，隧道箱4的内部以3-5cm间隔安装有高温灯管16，能够瞬间产生高温，高温灯管16之间电导头14，电导头14之间连接有励磁线圈15，可以瞬间产生高压，支脚10共设置有四个，且四个支脚10均匀焊接在隧道箱4的下方四个拐角处，开关按钮13的输出端与触控屏12的输入端电性连接，影像传感器5共设置有四个，且以两个一组分别嵌设在隧道箱4的上壁两侧处，开关按钮13的输出端与影像传感器5的输入端电性连接。

工作原理：使用时，先将该机器通电，将待测led元器件放置在右侧的操作台1上，按下开关按钮13，通过传送滚轴2将其运送到隧道箱4中，通过触控屏12设置程序，通过控制传送滚轴2的运转速率，从而控制led元器件在隧道箱4内的留存时间，利用高温灯管16产生高温，使得led元器件过热，同时，电导头14激发电压，通过励磁线圈15产生磁场，使得led元器件处于高压的状态下，使其达到过压过热的状态，通过影像传感器5对进出的led元器件留存影像分析，如果出来时发黑，代表已老化，这时led灯组3闪红光，如果出来时未发黑，则代表正常，这时led灯组3闪绿光，从而完成测试过程。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

技术特征：

技术总结
本发明公开了隧道式电容自动老化测试机，包括隧道箱，所述隧道箱的两侧连接有操作台，所述操作台的上壁安装有传送滚轴，且隧道箱的一侧外壁安装有LED灯组，所述隧道箱的上壁两侧设有影像传感器，所述柜门通过卡扣固定在电配箱上。本发明中，该隧道式电容自动老化测试机，其主要通过隧道箱和操作台组成，LED元器件放置在右侧操作台，经由传送滚轴传送到隧道箱中，通过隧道箱内的高温灯管迅速发热和励磁线圈瞬间产生高压，使得LED元器件处于高温高压的环境中，通过设置的程序来控制其置于隧道箱中的时间，以保证LED元器件可以达到过压和过热的状态，通过影像传感器的进出影像分析，从而判断LED元器件是否老化。

技术研发人员：黄颖辉
受保护的技术使用者：南通大学
技术研发日：2017.03.17
技术公布日：2017.08.29