本发明涉及一种花键外圆尺寸测量器具,具体涉及一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具。
背景技术:
由于齿数为奇数的外花键,其外圆尺寸无法采用外径千分尺测量,目前对于奇数齿花键外圆尺寸的测量主要采用三点定位测量法和“v”型相切测量法。三点定位测量法的测量精度较低,无法满足加工精度要求较高的花键轴检测。对于外圆尺寸较小,加工精度要求高的奇数齿花键外圆的检测,目前的“v”型相切法由于测量时存在“v”型块定位不便的问题,即不易将“v”型块的左右两平面调整到正好与花键轴的齿顶外圆部分相切,或即使“v”型块的左右两平面未与花键齿的齿顶外圆部分相切,测量者也难以发现该问题,从而导致测量结果严重偏离真实值。
技术实现要素:
为了解决采用“v”型块测量奇数齿花键外圆尺寸时,存在“v”型块定位不便,而导致测量结果不准确的技术问题,本发明提供了一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具。
本发明的技术解决方案是:
一种奇数齿花键外圆尺寸测量检具,包括“v”型块和千分表,其特殊之处在于:还包括定位块、压缩弹簧和压盖。
所述定位块为阶梯轴,定位块的大端设置与千分表的测头外径相适配的测头过孔,小端设置能与被测件的花键齿相适配的豁口。
所述“v”型块的小端中心设置沉孔,定位块的小端穿过沉孔下部小孔后用于定位被测件最高位的花键齿,其大端置于沉孔上部大孔内;所述“v”型块的小端设置压盖,压盖中心设有通孔,千分表(4)的测头依次穿过压盖(5)、“v”型块(1)和定位块(2)后与被测件(6)最高位的花键齿相接触;压盖与定位块的大端端面之间设置压缩弹簧。
进一步地,为了结构更简单,所述压缩弹簧的数量为一个,与定位块2同轴设置。
进一步地,为了受力更均匀,所述压缩弹簧的数量为两个,两个压缩弹簧相对于定位块的轴线对称设置。
进一步地,为了安装更方便,所述压盖通过螺钉连接在所述“v”型块上。
进一步地,为了压缩弹簧能够更好的限位,所述定位块的大端端面上设有凹槽,凹槽的直径与所述压缩弹簧的外径相适配。
本发明相比现有技术的有益效果是:
1、本发明在现有“v”型块上增设定位块、压缩弹簧和压盖,测量奇数齿花键外圆尺寸时,“v”型块可快速定位,测量效率高。
2、本发明中的两个压缩弹簧相对于定位块的轴线对称设置,压缩弹簧受力更均匀。
3、本发明中的压盖通过螺钉连接在所述“v”型块的上,安装更方便。
4、本发明中定位块的大端端面上设有凹槽,凹槽的直径与压缩弹簧的外径相适配,压缩弹簧能够更好的限位。
附图说明
图1是本发明一个实施例的结构示意图;
图2是本实施例中定位块的结构示意图;
图中附图标记为:1-“v”型块,101-沉孔上部大孔,102-沉孔下部小孔,2-定位块,201-测头过孔,202-豁口,3-压缩弹簧,4-千分表,5-压盖,6-被测件。
具体实施方式
以下结合附图及具体实施例对本发明做进一步的描述。
参照图1,本检具包括“v”型块1、定位块2、压缩弹簧3、千分表4和压盖5。定位块2为阶梯轴,定位块2的大端设置与千分表4的测头外径相适配的孔201,小端设置能将被测件6的花键齿嵌入的豁口202。
“v”型块1的小端中心设置沉孔,定位块2的小端穿过沉孔下部小孔102后用于定位被测件6最高位的花键齿,大端置于沉孔上部大孔101内。“v”型块1的小端端部通过螺钉连接压盖5,压盖5中心设有通孔,千分表4的测头依次穿过压盖5、“v”型块1和定位块2后与被测件6最高位的花键齿相接触;压盖5与定位块2的大端端面之间设置压缩弹簧3。
压缩弹簧3的数量可以为一个,与定位块2同轴设置;压缩弹簧3的数量也可以为两个,两个压缩弹簧3相对于定位块2的轴线对称设置;压缩弹簧3的数量还可以为两个以上的偶数个,各压缩弹簧3绕定位块2的轴线环形布置。本实施例中采用两个压缩弹簧3相对于定位块2的轴线对称设置,且为了测量更准确,两个压缩弹簧3工作状态的压力之和小于“v”型块1、千分表4和压盖5的重力之和10n。
本检具的检测过程如下:
1)将本检具安装在圆柱体校准件上,对该检具进行校准;
2)将本检具安装在被测件6需要测量的部位;定位块2先与被测件6任意一个齿的左右齿面相接触以实现定位,然后在本检具整体重力作用下除定位块2之外的其余零件向被测件6的中心移动,“v”型块1的两侧面与被测件6齿顶外圆部分相切,此时,千分表4的测头与被测件6的齿顶外圆接触;
3)读取千分表4的相对移动量;
4)通过公式1计算得到被测件6的外圆直径尺寸;
d=d1+2*δx*sin(α/2)……(1)
其中,d:被测件6的外圆尺寸;
d1:校准件的直径;
δx:千分表的相对移动量;
α:“v”型块1两侧面的夹角;
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的保护范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均包括在本发明的专利保护范围内。