一种-40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法与流程

本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法。

背景技术：

dml的激光器，由于没有tec稳定ld芯片的温度，而ld芯片的发光特性随温度变化而变化，同时波长也会睡着波长的变化而变化，为了满足特定的需求，在ld的工作范围内，需要确保ld的发光效率，ld的发光线性特性，监控二极管的功率稳定性以及波长的变化范围必须满足对应模块级别的应用标准，所以需要对ld进行高低温的测量，而当前的激光器，主要用于工业级，所以需要在-40℃-85℃温度环境下，能够为测试to正常供电，供电系统如果也放入烘箱内，则设计成本变高，设备老化快，同时工作状态也会受温度的影响。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，包括以下步骤：步骤一，设备检查；步骤二，插入to；步骤三，子板测试；步骤四，更换测试；步骤五，不同温度测试；步骤六，完成测试；

其中在上述步骤一中，设备检查包括以下步骤：

1）供电系统连接外部电源，使供电母板通电；

2）启动所有设备，运行软件；

3）检查设备是否处于正常工作状态；

4）对设备的异常状态进行分析处理，使之恢复正常；

5）设置设备的工作参数；

其中在上述步骤二中，将待测to插入子板上的插座中；

其中在上述步骤三中，将子板的安装在母板上，开始为to供电；

其中在上述步骤四中，更换测试包括以下步骤：

1）进行64pcsto测试；

2）测试完成后，打开恒温箱，拔下母板上的子板；

3）将另一个装了to的子板插入母板的连接器上进行测试，如此循环更换测试；

其中在上述步骤五中，温度测试包括以下步骤：

1）待一个温度点测试完成后，设置恒温箱的温度为下一个温度点；

2）待恒温箱温度稳定后进行当前温度下的测试；

其中在上述步骤六中，完成测试包括以下步骤：

1）待完成所有温度点的测试后将恒温箱恢复到常温；

2）取出测试完成的产品。

优选的，所述步骤一1）中，外部电源为220v，供电系统设置于恒温箱的外部，供电母板设置于恒温箱的内部，且供电母板与供电系统通过导线连接。

优选的，所述步骤一3）中，正常的工作状态包括供电系统供电稳定、恒温箱温度稳定和测试软件运行正常。

优选的，所述步骤二中，子板上设置有64个插座，一次性可以为64个pcsto同时供电。

优选的，所述步骤三中，子板通过金手指与母板的连接器进行插接。

优选的，所述步骤六2）中，取出测试完成的产品后，需关闭设备，断开供电系统与外部电源之间的连接。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明相较于现有的批量测试的供电方法，将供电系统与测试系统分离，确保供电系统能够工作在稳定环境下，确保了供电系统不受烘箱温度变化的影响，为测试系统提供稳定的电流，本发明使用子板形式给被测器件供电，每个子板提供多个插座，一次性可以为多个pcsto同时供电，实现批量测试，大大提高了测试的效率，供电母板带有插座，便于子模块插拔更换测试。

附图说明

图1为本发明的方法流程图；

图2为本发明的设备放置框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-2，本发明提供的一种实施例：一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，包括以下步骤：步骤一，设备检查；步骤二，插入to；步骤三，子板测试；步骤四，更换测试；步骤五，不同温度测试；步骤六，完成测试；

其中在上述步骤一中，设备检查包括以下步骤：

1）供电系统连接外部电源，使供电母板通电，外部电源为220v，供电系统设置于恒温箱的外部，供电母板设置于恒温箱的内部，且供电母板与供电系统通过导线连接；

2）启动所有设备，运行软件；

3）检查设备是否处于正常工作状态，正常的工作状态包括供电系统供电稳定、恒温箱温度稳定和测试软件运行正常；

4）对设备的异常状态进行分析处理，使之恢复正常；

5）设置设备的工作参数；

其中在上述步骤二中，将待测to插入子板上的插座中，子板上设置有64个插座，一次性可以为64个pcsto同时供电；

其中在上述步骤三中，将子板的金手指与母板的连接器进行插接，开始为to供电；

其中在上述步骤四中，更换测试包括以下步骤：

1）进行64pcsto测试；

2）测试完成后，打开恒温箱，拔下母板上的子板；

3）将另一个装了to的子板插入母板的连接器上进行测试，如此循环更换测试；

其中在上述步骤五中，温度测试包括以下步骤：

1）待一个温度点测试完成后，设置恒温箱的温度为下一个温度点；

2）待恒温箱温度稳定后进行当前温度下的测试；

其中在上述步骤六中，完成测试包括以下步骤：

1）待完成所有温度点的测试后将恒温箱恢复到常温；

2）取出测试完成的产品，关闭设备，断开供电系统与外部电源之间的连接。

基于上述，本发明的优点在于，该发明使用时，供电系统设置于恒温箱外部，并与供电母板分离，确保供电系统不受烘箱温度变化的影响，为测试系统提供稳定的电流，供电母板带有插座，有利于多个子模块插拔更换测试，每个子板提供64个插座，一次性可以为64个pcsto同时供电，实现批量测试。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

技术特征：

1.一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，包括以下步骤：步骤一，设备检查；步骤二，插入to；步骤三，子板测试；步骤四，更换测试；步骤五，不同温度测试；步骤六，完成测试；其特征在于：

其中在上述步骤一中，设备检查包括以下步骤：

1）供电系统连接外部电源，使供电母板通电；

2）启动所有设备，运行软件；

3）检查设备是否处于正常工作状态；

4）对设备的异常状态进行分析处理，使之恢复正常；

5）设置设备的工作参数；

其中在上述步骤二中，将待测to插入子板上的插座中；

其中在上述步骤三中，将子板的安装在母板上，开始为to供电；

其中在上述步骤四中，更换测试包括以下步骤：

1）进行64pcsto测试；

2）测试完成后，打开恒温箱，拔下母板上的子板；

3）将另一个装了to的子板插入母板的连接器上进行测试，如此循环更换测试；

其中在上述步骤五中，温度测试包括以下步骤：

1）待一个温度点测试完成后，设置恒温箱的温度为下一个温度点；

2）待恒温箱温度稳定后进行当前温度下的测试；

其中在上述步骤六中，完成测试包括以下步骤：

1）待完成所有温度点的测试后将恒温箱恢复到常温；

2）取出测试完成的产品。

2.根据权利要求1所述的一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，其特征在于：所述步骤一1）中，外部电源为220v，供电系统设置于恒温箱的外部，供电母板设置于恒温箱的内部，且供电母板与供电系统通过导线连接。

3.根据权利要求1所述的一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，其特征在于：所述步骤一3）中，正常的工作状态包括供电系统供电稳定、恒温箱温度稳定和测试软件运行正常。

4.根据权利要求1所述的一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，其特征在于：所述步骤二中，子板上设置有64个插座，一次性可以为64个pcsto同时供电。

5.根据权利要求1所述的一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，其特征在于：所述步骤三中，子板通过金手指与母板的连接器进行插接。

6.根据权利要求1所述的一种-40℃到85℃环境下to56_to38批量测试的供电方法，其特征在于：所述步骤六2）中，取出测试完成的产品后，需关闭设备，断开供电系统与外部电源之间的连接。

技术总结
本发明公开了一种‑40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法，包括以下步骤：步骤一，设备检查；步骤二，插入TO；步骤三，子板测试；步骤四，更换测试；步骤五，不同温度测试；步骤六，完成测试；所述步骤二中，子板上设置有64个插座，一次性可以为64个PCS TO同时供电，本发明相较于现有的批量测试的供电方法，将供电系统与测试系统分离，确保供电系统能够工作在稳定环境下，确保了供电系统不受烘箱温度变化的影响，为测试系统提供稳定的电流，本发明使用子板形式给被测器件供电，每个子板提供多个插座，一次性可以为多个PCS TO同时供电，实现批量测试，大大提高了测试的效率，供电母板带有插座，便于子模块插拔更换测试。

技术研发人员：金春晓;翟海峰;龚国星
受保护的技术使用者：南通汉瑞通信科技有限公司
技术研发日：2021.04.10
技术公布日：2021.07.13