一种高精度测试模组的制作方法

1.本实用新型涉及一种高精度测试模组。


背景技术：

2.随着工业技术发展，消费群体对于电子产品性能及可靠性要求的提高，以及高要求的测试需求，对于各种消费类电子产品的稳定测试将成为保证和提升其性能和可靠性的重要手段。对于下针密集的b2b连接器测试要求更便捷，更高准确率的测试。现有技术的b2b测试结构因为需要结构紧凑，主要为整体性的，与整体结构嵌合的，不利于单独模组的维护和更换。因此目前需要研发出一种易于拆装及精度高的高精度测试模组。


技术实现要素：

3.本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种易于拆装及精度高的高精度测试模组。
4.本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括从下到上依次设置的针块固定块、下针块、上针块及转接板，所述下针块及所述上针块之间设置有第一弹簧，所述下针块上设置有第一定位型腔，所述上针块上设置有与所述第一定位型腔相配合的第一定位凸台，所述第一定位凸台上设置有探针，所述下针块上设置有第二定位凸台及与所述探针相配合的通孔，所述针块固定块上设置有第二定位型腔，所述第二定位凸台、所述下针块及所述上针块均与所述第二定位型腔相配合。
5.进一步，所述转接板上设置有固定压板及转接软排线，所述转接软排线的一端设置在所述固定压板及所述转接板之间。
6.进一步，所述针块固定块上设置有固定块，所述固定块与所述针块固定块之间设置有第二弹簧及等高螺丝。
7.进一步，所述第二定位型腔包括从下到上依次连通的第一定位槽、第二定位槽及第三定位槽，所述第一定位槽与所述第二定位凸台相配合，所述第二定位槽与所述下针块相配合，所述第三定位槽与所述上针块相配合。
8.进一步，所述上针块的上端面设置有第一定位销钉，所述转接板通过所述第一定位销钉定位在所述上针块上。
9.进一步，所述上针块的下端面设置有第二定位销钉，所述上针块通过第二定位销钉定位在所述针块固定块上。
10.本实用新型的有益效果是：由于本实用新型包括从下到上依次设置的针块固定块、下针块、上针块及转接板，所述下针块及所述上针块之间设置有第一弹簧，所述下针块上设置有第一定位型腔，所述上针块上设置有与所述第一定位型腔相配合的第一定位凸台，所述第一定位凸台上设置有探针，所述下针块上设置有第二定位凸台及与所述探针相配合的通孔，所述针块固定块上设置有第二定位型腔，所述第二定位凸台、所述下针块及所述上针块均与所述第二定位型腔相配合，所以，本实用新型为独立模组，维护更换方便；模
组是双层浮动提供较好的导向接触，针块凸台垂直下压与产品b2b连接器型腔高精度定位配合；同时可扣合转接板，将测试信号传递出去进行分析。
附图说明
11.图1是本实用新型的分解图；
12.图2是下针块及上针块的分解图；
13.图3是本实用新型测试时的立体结构示意图；
14.图4是图3的a部分的局部放大示意图。
具体实施方式
15.如图1至图4所示，在本实施例中，本实用新型包括从下到上依次设置的针块固定块1、下针块2、上针块3及转接板4，所述下针块2及所述上针块3之间设置有第一弹簧5，所述下针块2上设置有第一定位型腔6，所述上针块3上设置有与所述第一定位型腔6相配合的第一定位凸台7，所述第一定位凸台7上设置有探针8，所述下针块2上设置有第二定位凸台9及与所述探针8相配合的通孔10，所述针块固定块1上设置有第二定位型腔11，所述第二定位凸台9、所述下针块2及所述上针块3均与所述第二定位型腔11相配合。相对于现有技术的不足，在本实用新型中，所述上针块3通过所述第一定位凸台7及所述第一定位型腔6定位在所述下针块2上，并通过所述第一弹簧5实现所述上针块3与所述下针块2之间的浮动，所述针块固定块1通过所述第二定位型腔11对所述下针块2及所述上针块3进行定位，所述下针块2通过所述第二定位凸台9定位在所述针块固定块1上，通过高精度的凸台定位，实现所述探针8与连接器测试点良好对位扎针测试，使得本实用新型具有易于拆装及精度高的优点。
16.在本实施例中，所述转接板4上设置有固定压板12及转接软排线13，所述转接软排线13的一端设置在所述固定压板12及所述转接板4之间。所述转接软排线13一端通过连接器扣合在所述转接板4上并让所述固定压板12压制固定，所述转接软排线13的另一端通过连接器扣合在另一个电路板上，从而实现信号传递。
17.在本实施例中，所述针块固定块1上设置有固定块14，所述固定块14与所述针块固定块1之间设置有第二弹簧15及等高螺丝16。所述固定块14通过所述等高螺丝16固定在所述针块固定块1上，并通过所述第二弹簧15的设置实现所述固定块14与所述针块固定块1之间的浮动，使得本实用新型能够通过双层浮动提供较好的导向接触。
18.在本实施例中，所述第二定位型腔11包括从下到上依次连通的第一定位槽17、第二定位槽18及第三定位槽19，所述第一定位槽17与所述第二定位凸台9相配合，所述第二定位槽18与所述下针块2相配合，所述第三定位槽19与所述上针块3相配合。
19.在本实施例中，所述上针块3的上端面设置有第一定位销钉20，所述转接板4通过所述第一定位销钉20定位在所述上针块3上。
20.在本实施例中，所述上针块3的下端面设置有第二定位销钉21，所述上针块3通过第二定位销钉21定位在所述针块固定块1上。
21.虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。


技术特征：
1.一种高精度测试模组，其特征在于：其包括从下到上依次设置的针块固定块（1）、下针块（2）、上针块（3）及转接板（4），所述下针块（2）及所述上针块（3）之间设置有第一弹簧（5），所述下针块（2）上设置有第一定位型腔（6），所述上针块（3）上设置有与所述第一定位型腔（6）相配合的第一定位凸台（7），所述第一定位凸台（7）上设置有探针（8），所述下针块（2）上设置有第二定位凸台（9）及与所述探针（8）相配合的通孔（10），所述针块固定块（1）上设置有第二定位型腔（11），所述第二定位凸台（9）、所述下针块（2）及所述上针块（3）均与所述第二定位型腔（11）相配合。2.根据权利要求1所述的一种高精度测试模组，其特征在于：所述转接板（4）上设置有固定压板（12）及转接软排线（13），所述转接软排线（13）的一端设置在所述固定压板（12）及所述转接板（4）之间。3.根据权利要求1所述的一种高精度测试模组，其特征在于：所述针块固定块（1）上设置有固定块（14），所述固定块（14）与所述针块固定块（1）之间设置有第二弹簧（15）及等高螺丝（16）。4.根据权利要求1所述的一种高精度测试模组，其特征在于：所述第二定位型腔（11）包括从下到上依次连通的第一定位槽（17）、第二定位槽（18）及第三定位槽（19），所述第一定位槽（17）与所述第二定位凸台（9）相配合，所述第二定位槽（18）与所述下针块（2）相配合，所述第三定位槽（19）与所述上针块（3）相配合。5.根据权利要求1所述的一种高精度测试模组，其特征在于：所述上针块（3）的上端面设置有第一定位销钉（20），所述转接板（4）通过所述第一定位销钉（20）定位在所述上针块（3）上。6.根据权利要求1所述的一种高精度测试模组，其特征在于：所述上针块（3）的下端面设置有第二定位销钉（21），所述上针块（3）通过第二定位销钉（21）定位在所述针块固定块（1）上。

技术总结
本实用新型公开了一种高精度测试模组，旨在提供一种易于拆装及精度高的高精度测试模组。本实用新型包括从下到上依次设置的针块固定块、下针块、上针块及转接板，所述下针块及所述上针块之间设置有第一弹簧，所述下针块上设置有第一定位型腔，所述上针块上设置有与所述第一定位型腔相配合的第一定位凸台，所述第一定位凸台上设置有探针，所述下针块上设置有第二定位凸台及与所述探针相配合的通孔，所述针块固定块上设置有第二定位型腔，所述第二定位凸台、所述下针块及所述上针块均与所述第二定位型腔相配合。本实用新型应用于电子产品测试的技术领域。的技术领域。的技术领域。


技术研发人员：吴伟 朱彦飞 郗旭斌 李峰
受保护的技术使用者：珠海市运泰利自动化设备有限公司
技术研发日：2021.06.04
技术公布日：2022/1/18