专利名称：单晶光纤损耗测量仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种利用光学手段来测试或分析材料，特别是利用散射和光谱性质，根据所测试的材料性质来改变入射光的装置。
单晶光纤是一种新型光纤材料，属于短光纤，它兼容块状单晶材料和玻璃光纤的波导特性，可应用于制造线性和非线性光学器件，如制造传感器，激活器件，非线性光学器件，高能量密度的传输器件等。单晶光纤的主要质量指标是材料的光学损耗和材质的均匀性，单晶光纤损耗测量仪是为确定单晶光纤材料最佳生长条件和测试该材料性能而研制的测量仪器。
现有的光纤损耗测量方案是采用切断法或背向散射法。切断法是测量出整根光纤的输出光强后，在输入端部切下一段短光纤，按原有的光注入条件，测出短光纤的输出光强，以此作为被测光纤的注入光强，计算出整根光纤的总损耗系数，此方案测量精度高，但只适用于测量长光纤损耗而不适用短光纤测量；背向散射法是将大功率的窄脉冲光注入被测光纤，在注入端测出沿光纤背向返回的散射光功率，由于散射光功率与该处入射光强成正比，由此可获得光沿该光纤传输时的损耗信息，可测量沿光纤长度方向各点的损耗特性。该方案有较好的重复性，适用于测量均匀性好、宏观缺陷很少的光纤，但不适用于测量单晶光纤。
本发明的目的在于提供一种单晶光纤损耗测量仪，能同时测量单晶光纤的散射和透射损耗特性，测量过程由计算机自动控制，具有量程大、精度高、测量速度快的特点。
本单晶光纤损耗测量仪，包括光源，斩波器，单色仪，参考光纤，匹配液盒，被测光纤，光散射探测器，光透射探测器，其特征是设有程控锁相放大器7，A／D板8，微机控制系统9以及开关K，其中程控锁相放大器7的一个输入端通过开关K接光透射探测器6或光散射探测器5的输出端，其另两个输入端分别接斩波器2的光电探测器的输出端和微机控制系统9的电平输出端，其输出端接A／D板8的输入端，A／D板8的输出端与微机控制系统9的一个输入端连接，微机控制系统9的另一个输入端与单色仪3的输出端连接，微机控制系统9的另两个输出端分别与单色仪3和光散射探测器5的步进马达的驱动电路的输入端连接，A／D板采用0809；当开关K接通光透射探测器6时，测量被测光纤L的光透射损耗，开关K接通带有积分球的光散射探测器5时，测量被测光纤L的光散射损耗。
程控锁相放大器7由前置放大器71、一级程控放大器72、高低通滤波器73、二级程控放大器74、相敏检波器及直流放大器75以及参考通道76组成，光散射探测器5或光透射探测器6的输出经开关K接前置放大器71、前置放大器71的输出端依次通过一级程控放大器72、高低通滤波器73、二级程控放大器74接相敏检波器及直流放大器75的一个输入端，斩波器2的光电探测器输出端接参考通道76的输入端，参考通道76的输出端与相敏检波器及直流放大器75的另一个输入端连接，微机控制系统9的电压输出端PB0～PB3分别与一级程控放大器72和二级程控放大器74的控制端A、B、C、D连接，相敏检波器及直流放大器75的输出端与A／D板8的输入端连接。
微机控制系统9由IBM－PC机91、译码器92和接口93构成，其中译码器92采用74LS30，接口93采用8255，PC机91的数据总线D0～D7与接口93的双向数据总线D0～D7连接，PC机91地址线A0～A9经译码器92地址译码，其2个输出端分别与接口93的
端和A／D板8的START、ALE端连接，PC机91的
、RES、GND端分别与接口93的
、RES、GND端连接，A／D板8的端口D0～D7接接口93的输入口PA0～PA7，接口93的高位输出口PC4～PC6与单色仪3和光散射探测器5的步进电机的驱动电路连接，接口93的高位输出口PC7接A／D板8的输出允许端OE，接口93的端口PB0～PB3分别接一级程控放大器72和二级程控放大器74的控制端A、B、C、D，PC机91的IRQ2端与接口93的端口PC2及单色仪3的光电耦合器输出端连接，当PC机91的A4端为低电平时选通接口93，为高电平时选通A／D板8，A／D板8的IN端与相敏检波器及直流放大器75的输出端连接。
单晶光纤与普通通讯光纤不同，是一种无包层的短光纤，其长度通常为5～20cm，具有块状单晶的特性，而且通常掺有激活离子。本发明为单晶光纤光损耗特性提供一种快速而有效的测量方案。
测量单晶光纤光透射损耗的操作步骤1。将面板上的电源、锁相、斩波器、高压恒流源、马达的开关依次打开；2.置增益切换为手动，增益控制为0000，被测光纤置于光路中，调节供光散射探测器5和光透射探测器6的高压为700～1000V，调节恒流电流至读数指示为1000左右，增益开关置于适当的增益值，调节入射光至最佳状态；3.将运行程序送入微机控制系统9，增益开关切换到自动位置，选择主菜单上的透射谱测量项目，输入光纤类型，光纤长度，测量范围及起始波长后，计算机对单色仪3进行自动定位及扫描，并对程控锁相放大器7进行自动增益控制，使程控锁相放大器7输出电压在入射光波长变化过程中始终保持0.4～1.0V范围内；
4。去掉被测光纤L，测量参考光纤L0的透射光强，测得光透射探测器6输出电压与波长变化关系；5.计算机对被测光纤L和参考光纤L0的测量结果作归一化处理，得到被测光纤相对的透射谱。
测量单晶光纤光散射损耗的操作步骤1。将面板上的电源、锁相、斩波器、高压恒流源、马达的开关依次打开；2.将被测光纤L穿过光散射探测器5的积分球，选择程控锁相放大器7的放大倍数，调节光路至最佳状态；3.将编好的程序送入计算机，选择主菜单上的散射位置谱测量项目，输入光纤类型及光纤长度参数后，计算机送出控制信号驱动光散射探测器5的步进马达，带动积分球沿被测光纤L的轴向移动，测得光纤轴向的相对光散射损耗位置谱。
同现有技术比较本方案具有以下优点1。本测量仪既可测定单晶光纤的总损耗，又可测定沿单晶光纤轴向向外的散射损耗，能确定单晶光纤的损耗系数、透射谱、散射谱以及散射位置谱，而现有技术不同时具备这些功能。
2.测量范围广，可测波长范围从可见光至近红外，光纤芯径100～1000μm，光纤长度2～40cm，而现有技术只能测量可见光范围内的光纤，且其芯径是固定值。
3.整个系统控制及信息处理由计算机执行，由计算机自动调节程控锁相放大器的灵敏度，保证了系统能在较大的动态范围内对单晶光纤的损耗特性作精确的快速测量，该输出相对电压变化范围是1.0～10－3，获得各种连续的谱图，且由屏幕或打印输出的谱图范围可以任意选择。
图面说明
图1为本方案的结构示意图；图2为程序锁相放大器7的结构示意图；图3为微机控制系统9的连接关系图；图4～图9为几种实测的谱图。
实施例采用图1所示的单晶光纤损耗测量仪，实测多种单晶光纤损耗，获得图4～图9的谱图。图4～图8的横坐标为波长，单位μm，纵坐标为相对光强；图9横坐标为被测点距被测光纤端部的距离，单位mm，纵坐标为散射光强相对于入射光强的相对比例。
图4的被测光纤材料为NdYAG，长度为3cm，直径为840μm，图中显示测量波长范围为0.6～1.08μm范围的透射谱。
图5条件与图4相同，测量波长范围0.72～0.84μm，图面的透射谱中看出该波长范围内存在多个吸收峰。
图6是直径800μm，长5cm的Er3YAG单晶光纤的透射谱。
图7是直径400μm，长1cm的LiNbo3单晶光纤的透射谱。由于未掺杂，无吸收峰。
图8是直径840μm，长23.5cm的Al2O3单晶光纤的透射谱，由于未掺杂，无吸收峰。
图9是直径840μm，长23。5cm的Al2O3单晶光纤的散射位置谱。
权利要求1.一种单晶光纤损耗测量仪，包括光源，斩波器，单色仪，参考光纤，匹配液盒，被测光纤，光散射探测器，光透射探测器，其特征在于设有程控锁相放大器7，A/D板8，微机控制系统9以及开关K，其中程控锁相放大器7的一个输入端通过开关K接光透射探测器6或光散射探测器5的输出端，其另两个输入端分别接斩波器2的光电探测器的输出端和微机控制系统9的电平输出端，其输出端接A/D板8的输入端，A/D板8的输出端与微机控制系统9的一个输入端连接，微机控制系统9的另一个输入端与单色仪3的输出端连接，微机控制系统9的另两个输出端分别与单色仪3和光散射探测器5的步进马达的驱动电路的输入端连接，A/D板采用0809；当开关K接通光透射探测器6时，测量被测光纤L的光透射损耗，开关K接通带有积分球的光散射探测器5时，测量被测光纤L的光散射损耗。
2.根据权利要求1的测量仪，其特征在于所述的程控锁相放大器7由前置放大器71、一级程控放大器72、高低通滤波器73、二级程控放大器74、相敏检波器及直流放大器75以及参考通道76组成，光散射探测器5或光透射探测器6的输出经开关K接前置放大器71，前置放大器71的输出端依次通过一级程控放大器72、高低通滤波器73、二级程控放大器74接相敏检波器及直流放大器75的一个输入端，斩波器2的光电探测器输出端接参考通道76的输入端，参考通道76的输出端与相敏检波器及直流放大器75的另一个输入端连接，微机控制系统9的电压输出端PB0～PB3分别与一级程控放大器72和二级程控放大器74的控制端A、B、C、D连接，相敏检波器及直流放大器75的输出端与A／D板8的输入端连接。
3.根据权利要求1的测量仪，其特征在于所述的微机控制系统9由IBM－PC机91、译码器92和接口93构成，其中译码器92采用74LS30，接口93采用8255，PC机91的数据总线D0～D7与接口93的双向数据总线D0～D7连接，PC机91地址线A0～A9经译码器92地址译码，其2个输出端分别与接口93的
端和A／D板8的START、ALE端连接，PC机91的
、RES、GND端分别与接口93的
、RES、GND端连接，A／D板8的端口D0～D7接接口93的输入口PA0～PA7，接口93的高位输出口PC4～PC6与单色仪3和光散射探测器5的步进电机的驱动电路连接，接口93的高位输出口PC7接A／D板8的输出允许端OE，接口93的端口PB0～PB3分别接一级程控放大器72和二级程控放大器74的控制端A、B、C、D，PC机91的IRQ2端与接口93的端口PC2及单色仪3的光电耦合器输出端连接，当PC机91的A4端为低电平时选通接口93，为高电平时选通A／D板8，A／D板8的IN端与相敏检波器及直流放大器75的输出端连接。
专利摘要一种单晶光纤损耗测量仪，其特征是设有程控锁相放大器7和微机控制系统9，可测量单晶光纤的损耗系数、透射谱、散射谱以及散射位置谱，被测光纤芯径为100～1000μm，长度为2～40cm，波长从可见光至近红外。系统控制和信息处理由计算机执行，输出电压相对变化的动态范围为1.0～10
文档编号G01M11/02GK2155016SQ9221554
公开日1994年2月2日 申请日期1992年5月10日 优先权日1992年5月10日
发明者董绵豫, 张松斌, 童利民 申请人:浙江大学