专利名称：双界限电接触检测仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及了一种检测仪器，具体地说是一种用于对高精度的机械加工产品尺寸进行检测的仪器。
现有的双界限电接触传感器主要用于测量高精度的工业产品的几何尺寸，测量范围1mm，示值精度0.002mm，用传感器对调定尺寸的上下界限，输出一个微安级的电信号，然后经过外围设备的放大和逻辑运算，通过显示装置显示出结果。由于传感器必需配备有一套外围设备，使得它体积大、成本高，使用不方便，又因传感器输出是一个微安级信号，使得它易受干扰，不便于自动检测及自动控制。
本实用新型的目的就是提供一种将传感器、放大器、逻辑运算、显示器装为一体的电接触检测仪，以克服上述的不足。
为实现上述目的本实用新型采取的方案是将装有逻辑放大器，显示器的电路板1作为检测仪的一片盖板直接固定在传感器的背面。
上述电路板所装的逻辑放大器、显示器是将传感器的上、下界限触头分别与逻辑放大集成块IC的二个输入端IC1、IC2相连，并分别通过电阻器R2、R3与电源E的负极相接；传感器的动触头通过限流电阻R1与上述电源E的正极相连；一个表示超上界限的发光二极管FGr的正极与一个表示超下界限的发光二极管FGg的正极和一个表示合格的发光二极管FGO的正极相连，其公共点通过一个电阻器R4与上述电源E的正极相接、上述发光二极管FGr、FGg的负极分别与上述逻辑放大集成块IC的二个反向输出端IC3、IC5对应相连；上述发光二极管FGO的负极与上述逻辑放大集成块IC的同向输出端IC4相接；一个输入、输出插座CZ的接线端分别与上述电源E的正、负极、上述逻辑放大集成块IC的三个输出端相连。
本实用新型由于将传感器，逻辑运算和放大器，显示装置安装成一体，取消了原传感器原来必需配备的仪器大电箱，而使整套装置体积缩小，而成本亦降至原电子装置的百分之十以内。装置的输出电流达20mA以上，使本实用新型的抗干扰能力及带负载能力都大大提高，为机械加工设备的自动检测控制提供了条件。同时装置采用了集成电路块及高亮发光的二极管显示和少量的外围元件，可靠性提高，工作寿命延长，故障率低而仪器的功耗却仅约200MW为原装置的百分之一左右，在有特殊要求的工作场合，可在装置上附上5号可充电池供电，用于无交流供电的场地，使用方便，应用范围扩大。
图1为本实用新型的电路原理图。
图2为本实用新型的结构示意图。
图3为本实用新型的实施例之一双界限电接触百分表结构示意图。
以下结合附图及实施例进一步描述本实用新型。
双界限电接触百分表，是对机械加工产品的尺寸公差进行检测的一种量具，它除了有一个表盘能显示被测产品的公差尺寸外，还有一个输出插座，提供给外围仪器设备一对上下界限的开关触头，由外围仪器设备对通过触头的微小电信号，进行逻辑运算和放大，并用色灯显示出测量结果，表示被测产品是超过上公差限或者是合格或者是超过下公差限。本实用新型是将装有逻辑放大的集成块IC和外围元件及三种色彩的发光二极管FG的印刷电路板1，作为原双界限百分表的背盖板，固定于原表上，组成本实用新型，使用时将本实用新型固定在表支架上，将一件经标准规(或量块)校对好的二件标准样品，置于测量座上，通过调整，使本实用新型测头2正好接触到标准样品的被测点，然后根据被测产品的尺寸公差要求，调整检测仪上、下界限－－触头3、校准仪器无误后进入测量状态。测量时，当被测产品合格时、检测仪的动触头与已调定的上下界限触头没有接触，逻辑放大集成块IC的两个输入端IC1、IC2为低电位，使两个反向输出端IC3、IC5为高电位，发光二极管FGr、FGg截止不亮，而集成块IC的同向输出端IC4为低电位，使发光二极管FGO导通发光，即表示产品合格；当被测产品的尺寸超出公差范围时，检测仪的动触头就会与上界限触头或下界限触头接触，与上界限触头接触后，逻辑放大集成块IC的上界限输入端IC1为高电位，其上界限的输出端IC3为低电位，发光二极管FGr导通发光，即表示产品尺寸过大，此时集成块IC的另两个输出端IC4、IC5均为高电位，发光二极管FGO、FGg截止不亮；同样当检测仪的动触头与下界限触头接触后，发光二极管FGg导通发光，表示被测产品尺寸过小。
本实用新型可直接装在加工设备上，其输入输出插座CZ的输入端接电源E的正、负极，其输出端可直接作为控制设备的输入端。以便对加工设备进行自动控制。本实用新型的双界限触头的结构和调整触头的结构均利用原传感器的结构。
权利要求1.一种双界限电接触检测仪，它由双界限电接触传感器及电路板1组成，其特征在于装有放大器、显示器的电路板1固定在传感器的背面。
2.根据权利要求1所述的双界限电接触检测仪，其特征在于上述电路板1上所装的电路是a、传感器的上、下界限触头分别与一个逻辑放大集成块IC的两输入端IC1、IC2相连，并分别通过电阻器R2、R3与电源E的负极相接，传感器的动触头通过限流电阻R1与电源E的正极相连接；b、一个表示超上界限的发光二极管FGr的正极与一个表示超下界限的发光二极管FGg的正极和一个表示产品合格的发光二极管FGO的正极相连，其公共点通过一个电阻器R4与上述电源E的正极相接，发光二极管FGr、FGg的负极分别与上述逻辑放大集成块IC的二个反向输出端IC3、IC5对应相连接，发光二极管FGO的负极与上述逻辑放大集成块IC的同向输出端IC4相连接；c、输入端出插座CZ的接线端分别与上述电源E的正、负极、上述逻辑放大集成块IC的三个输出端IC3、IC4、IC5相连接。
专利摘要本实用新型涉及了一种双界限电接触检测仪，它是在原来的双界限电接触传感器的背面装上一片装有逻辑放大及显示功能的电路板，使传感器、逻辑运算、放大、显示器装成一体。本实用新型体积小、成本低、功耗小，将原有传感器的输出电流微安级提高到20毫安以上，使本实用新型的抗干扰能力及其负载的能力大大提高，为测量高精度的工业产品的几何尺寸及机械加工设备的自动控制提供了方便。
文档编号G01B21/02GK2124459SQ9222238
公开日1992年12月9日 申请日期1992年5月15日 优先权日1992年5月15日
发明者方裕慷 申请人:方裕慷