β射线法大气颗粒物监测仪校准装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及校准装置，尤其涉及3射线法大气颗粒物监测仪校准装置。
【背景技术】
[0002] 目前对大气颗粒物的检测主要使用的是P射线法，依靠射线穿过被测量的富集 颗粒时引起变化计算等效浓度，因此必须有一套等效于颗粒物质量的膜片来进行前期仪器 校准。质量校准的原理是0射线的吸收定律。原子核在发生0衰变时，放出0粒子，它的 穿透能力较强，当它穿过一定厚度的吸收物质时，其强度随吸收层厚度的增加而逐渐减弱， 这种现象称之为0吸收。当吸收物质的厚度比0粒子的射程小得多时，0粒子在物质中 的吸收近似为：
【主权项】
1.3射线法大气颗粒物监测仪校准装置，其特征是它包括放出0粒子的0源（1)和 接收3粒子的探测器（2)，在所述3源和探测器之间设有滤纸（3)，在所述3源和滤纸之 间设有固接膜片（4)的支架（5)，所述0源放出的0粒子依次经过膜片和滤纸射入探测 器。
2. 如权利要求1所述的3射线法大气颗粒物监测仪校准装置，其特征是所述膜片由高 分子聚合超薄材料制成。
3. 如权利要求1所述的3射线法大气颗粒物监测仪校准装置，其特征是所述滤纸是定 量分析滤纸。
【专利摘要】本发明公开了β射线法大气颗粒物监测仪校准装置，它包括放出β粒子的β源（1）和接收β粒子的探测器（2），在所述β源和探测器之间设有滤纸（3），在所述β源和滤纸之间设有固接膜片（4）的支架（5），所述β源放出的β粒子依次经过膜片和滤纸射入探测器。本发明的有益效果是通过设置多个固接有不同厚度膜片的支架来实现对测量仪器的多点校准，测量结果准确；制作简单，操作方便；膜片的质量稳定。校准时拟合度和精确度高。
【IPC分类】G01N15-06
【公开号】CN104655534
【申请号】CN201310593190
【发明人】张帅, 潘焕双, 吕长彬, 周亮, 江瑞平
【申请人】安徽蓝盾光电子股份有限公司
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2013年11月23日