一种电阻校验系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电阻校验系统。
【背景技术】
[0002]电阻是电子电路中必不可少的电子元器件，其精度的高低直接影响着电子电路的可靠性和电路性能，电阻由于标称精度的不同可以分为普通电阻和精密电阻，普通电阻的精度一般在5%左右，而精密电阻的精度至少要达到1%以上，甚至更高，且电阻值的大小受温度、电阻材料和导体长度等多种因素影响，故同一标称值的电阻实际上的阻值往往存在一定的差别，因此实际使用时对电阻的阻值校验是十分必要的，尤其是用于取样等电路中的电阻，取样电阻本身的误差会直接导致控制不准确。
【发明内容】
[0003]本发明针对以上问题的提出，而研制一种准确实用的电阻校验系统。
[0004]本发明的技术手段如下:
[0005]一种电阻校验系统，包括:
[0006]已知20°C时的电阻值的基准电阻；
[0007]待测电阻；
[0008]与待测电阻两端相连接，用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；
[0009]串接在待测电阻与恒压源构成的回路中，用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；
[0010]用于检测当前环境温度t的温度传感器；
[0011]连接恒压源、电流表和温度传感器，用于根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=u/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元;
[0012]连接温度传感器，用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；
[0013]连接温度传感器、第一计算单元和获取单元，用于根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(l+a (t_20))得出20°C时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；
[0014]连接第二计算单元和基准电阻，用于根据基准电阻的20°C时的电阻值对20°C时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；
[0015]连接校验单元，用于根据所述的校验差值显示校验结果的显示单元；
[0016]另外，还包括:
[0017]用于存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表的存储单元；
[0018]用于输入待测电阻导体材料和基准电阻的电阻值的输入单元；所述获取单元与存储单元和输入单元相连接；所述校验单元与输入单元相连接。
[0019]由于采用了上述技术方案，本发明提供的一种电阻校验系统，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
【附图说明】
[0020]图1是本发明所述系统的结构框图。
【具体实施方式】
[0021]如图1所示的一种电阻校验系统，包括:已知20°C时的电阻值的基准电阻；待测电阻；与待测电阻两端相连接，用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；串接在待测电阻与恒压源构成的回路中，用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；用于检测当前环境温度t的温度传感器；连接恒压源、电流表和温度传感器，用于根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；连接温度传感器，用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；连接温度传感器、第一计算单元和获取单元，用于根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(l+a (t_20))得出20°C时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；连接第二计算单元和基准电阻，用于根据基准电阻的20°C时的电阻值对20°C时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；连接校验单元，用于根据所述的校验差值显示校验结果的显示单元；另外，还包括:用于存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表的存储单元；用于输入待测电阻导体材料和基准电阻的电阻值的输入单元；所述获取单元与存储单元和输入单元相连接；所述校验单元与输入单元相连接。
[0022]本发明提供的一种电阻校验系统，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
[0023]以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种电阻校验系统，其特征在于包括: 已知20°C时的电阻值的基准电阻； 待测电阻； 与待测电阻两端相连接，用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源； 串接在待测电阻与恒压源构成的回路中，用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表; 用于检测当前环境温度t的温度传感器； 连接恒压源、电流表和温度传感器，用于根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=u/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；连接温度传感器，用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元； 连接温度传感器、第一计算单元和获取单元，用于根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(l+a (t_20))得出20°C时的待测电阻阻值R20的第二计算单元； 连接第二计算单元和基准电阻，用于根据基准电阻的20°C时的电阻值对20°C时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元； 连接校验单元，用于根据所述的校验差值显示校验结果的显示单元。
2.根据权利要求1所述的一种电阻校验系统，其特征在于还包括: 用于存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表的存储单元； 用于输入待测电阻导体材料和基准电阻的电阻值的输入单元；所述获取单元与存储单元和输入单元相连接；所述校验单元与输入单元相连接。
【专利摘要】本发明公开了一种电阻校验系统，包括：基准电阻；待测电阻；用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；用于检测当前环境温度t的温度传感器；连接恒压源、电流表和温度传感器，用于利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；用于利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；用于根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；本发明能够有效降低校验误差，准确实用。
【IPC分类】G01R27-02
【公开号】CN104698276
【申请号】CN201310655805
【发明人】王榕英
【申请人】大连东浦机电有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2013年12月4日