非色散原子荧光激发光源杂质检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本专利是一种非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。是一种结构合理、方便快捷的判断激发光源是否含有杂质并确认杂质元素的装置。
[0002]原子荧光法是一种元素检测分析方法，由于其快速、灵敏、简便，被广泛地应用于环境、生物、冶金、地矿、石油、食品、医疗卫生等很多领域中的多种元素的分析。其工作原理是用一定强度的激发光源照射含有一定浓度的待测元素的原子蒸汽时，将产生一定强度的荧光，测定原子荧光的强度即可求得待测样品中该元素的含量。目前我国在用的原子荧光光度计大多都是非色散原子荧光光度计，非色散原子荧光光度计本身无任何色散元件，如果激发光源不纯，含有两种或两种以上元素光波，而样品中也含有此种元素，则产生荧光强度为多种荧光强度之和，从而导致测量结果过高的错误结论。只有当激发光源足够纯，可以做到对目标元素的选择性激发时，测量结果才准确可靠。因此光源的纯度(是否含杂质)是影响非色散原子荧光技术建立及达到准确测定的先决条件。
【背景技术】
[0003]目前国内外掌握的49个相关数据库中未发现对非色散原子荧光激发光源纯度的研究，也没有针对光源检测方法、杂质分析的研究报导。我国颁发了适用于非色散原理的原子荧光光度计国家计量检定规程(JJG939-2009)和产品标准(GB/T21191-2007)，其中均未涉及到对激发光源纯度的检测指标，如果激发光源不纯，含有两种或两种以上杂质元素，而样品中也含有此种元素，则产生荧光强度为多种荧光强度之和，从而导致测量结果过高的错误结论。致使非色散原子荧光技术几乎丧失了其赖以存在的技术前提条件，存在由于激发光源含杂导致分析结果错误的危险。
【发明内容】
[0004]
【发明内容】
是通过研制出的原子荧光光源杂质检测装置，来实现原子荧光激发光源纯度的检测，即激发光源是否含有杂质，如果含有，给出杂质元素名称。
[0005]本发明的有益效果是:该项目研究成果为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，可为非色散原子荧光光度计激发光源生产企业提供改进方向，对非色散原子荧光法测量结果的分析具有重要意义。
【附图说明】
[0006]图1为非色散原子荧光激发光源杂质检测装置图。(1.机壳2.电源开关3.支架安装结构4.光源插座5.透镜测试结构6.衰减窗7.光谱探测器8.电源插座9.USB接P )
[0007]图2为非色散原子荧光激发光源灯架图。(1.阴极灯2下灯架3.调节螺钉4.锁盖5.上灯架6.拉簧)
【具体实施方式】
[0008]仪器操作步骤:
[0009]仪器开机后，将被测光源固定在光源支架3上，并用3上面的压片和螺丝固定，把光源的电接口与4电源插座接通，关闭机壳I暗箱上盖，由7光谱探测器采集光源光谱，如果需要可适当调节6衰减窗，以获得最佳信噪比光谱图。电脑自动判断分别标出光源光谱和杂质光谱，指出杂质元素。
【主权项】
1.本专利中公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置，包括:暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和电脑处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，安装结构固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，已达到光谱探测系统获得信噪比合适的光谱图，有电脑处理器处理检测数据，输出光源是否含杂和杂质元素的确认等测试结果。2.根据权利要求1所述的暗箱机壳，其特征在于具有全黑涂层，边缘处有凹槽设计，关闭后无杂散光进入。3.根据权利要求1所述的光源固定支架，其特征在于有光源固定支架，有夹槽固定出光平面，有螺丝和压片可根据被测灯粗细作适当调节，测试过程中保持牢固固定。4.根据权利要求1所述的光源电控装置，其特征在于电路封装在装置的内部，只在暗箱下面板上留有被测光源电源接口，供电调节由主机处理器控制。5.根据权利要求1所述的透镜和衰减窗，其特征在于位置固定不可调，根据光源的不同强度可配合调节衰减窗，已达到光谱探测系统获得信噪比合适的光谱图。6.根据权利要求1所述的紫外光谱探测部件，其特征在于光路部分全封闭并固定，无专用工具不可调，探测器输出信号进入数据采集卡，并封装在暗箱下面板下，在机壳上通过USB 口电缆与主机处理器进行通讯。7.根据权利要求1所述的主机处理器，其特征在于将被测光源光谱和杂质光谱区分标出，保存谱图并输出，方便快速地实现非色散原子荧光激发光源杂质元素的确认和纯度检定。
【专利摘要】本发明公开了非色散原子荧光激发光源杂质检测装置。所述装置包括：暗箱机壳、光源固定支架、光源电控装置、透镜、衰减窗、紫外光谱探测部件和主机处理器。暗箱机壳关闭后无杂散光进入，安装结构固定被测光源，有螺丝和压片可根据被测灯作适当调节，根据光源的不同强度配合使用透镜和衰减窗，有电脑处理器处理检测数据，能够直接给出光源是否含杂和杂质元素的确认等测试结果。本发明的有益效果是：该项目研究成果为非色散原子荧光光度计的生产厂家及使用者提供激发光源筛选依据，可为非色散原子荧光激发光源生产企业提供改进方向，对非色散原子荧光法测量结果的分析有重要意义。
【IPC分类】G01M11/02
【公开号】CN105092215
【申请号】CN201510483974
【发明人】贾亚青, 吴红, 沈正生, 赵海波
【申请人】北京市计量检测科学研究院
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2015年8月10日