一种晶闸管芯片门极测试工装的制作方法

文档序号:9416163阅读:555来源:国知局
一种晶闸管芯片门极测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明主要涉及到晶闸管芯片领域,特指一种用来对晶闸管芯片进行门极测试的工装。
【背景技术】
[0002]晶闸管芯片的门极参数ICT、Vct是晶闸管的重要参数。如图1所示,为行业标准中用来测试门极触发电流Ict和触发电压Vct的电路原理示意图。从测试电路原理图中可以看出,门极触发电流ICT、门极触发电压Vct的测试需要在被测管芯的门阴极之间施加电信号,被测管芯阴阳极之间也需施加规定的断态电压。为了完成测试,需要有分别给予门极、阴极、阳极信号的接触部件。因此,为了获得晶闸管管芯的门极触发电流Ict和触发电压VCT,目前行业中普遍采用工装来完成门极触发电流、电压的测试。这类传统的工装包括升降台、阴极顶针、门极顶针及阳极接触铜块。通过升降台的上下动作来完成测试,门极信号、阴极信号通过导线输出到被测管芯,管芯阳极面置于阳极接触铜块上,阳极信号由阳极接触铜块下方的导线给出。
[0003]但是,现有的工装在使用过程中存在一些明显的不足:
(O顶针接触不良:顶针容易老化,使用一段时间后,不能达到100%良好接触管芯门极;
(2)对心不准:工装中无定位点,测试门极对准管心完全是凭手感,准确率不高,效率低下;
(3)易刮伤管芯:测试时需要双手同时操作测试,左手提顶针,右手取管芯,节奏的配合不当便会刮伤管芯表面。

【发明内容】

[0004]本发明要解决的技术问题就在于:针对现有技术存在的技术问题,本发明提供一种结构简单紧凑、制作方便、操作简便、可提高测试效率和测试效果的晶闸管芯片门极测试工装。
[0005]为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:
一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具,所述测试夹具包括底座、蝶形定位器、门极顶针、阴极顶针及阴极顶针移动组件,所述蝶形定位器位于底座的上方,所述蝶形定位器上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽,所述阴极顶针和门极顶针均安装于底座内且位于蝶形定位器的下方,所述门极顶针位于底座的中部且固定不动,所述芯片卡槽上设有与门极顶针配合的门极配合孔,所述阴极顶针安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器的径向方向运动,所述芯片卡槽上沿着径向方向开设有供阴极顶针运动的阴极顶针移动槽。
[0006]作为本发明的进一步改进:所述芯片卡槽位于蝶形定位器的中间,呈圆形状。
[0007]作为本发明的进一步改进:所述阴极顶针移动组件包括丝杆和移动部件,所述移动部件通过螺纹连接于丝杆上,所述阴极顶针安装于移动部件上。
[0008]作为本发明的进一步改进:所述丝杆穿设于底座的侧壁上,在所述丝杆远离底座的一侧上还设有调节旋钮。
[0009]作为本发明的进一步改进:所述门极顶针通过安装部件连接于丝杆上,所述安装部件空套连接于丝杆上。
[0010]作为本发明的进一步改进:在芯片卡槽上设有限位部件,用来对放入芯片卡槽中的待测试芯片的放置位置进行限位。
[0011]作为本发明的进一步改进:所述蝶形定位器上设置一根以上的弹簧,所述弹簧的高度高于阴极顶针和门极顶针。
[0012]与现有技术相比,本发明的优点在于:本发明的晶闸管芯片门极测试工装,结构简单紧凑、制作方便、操作简便,利用蝶形定位器可以确保待测试芯片的摆放位置,门极顶针设置在夹具内固定不动,保证了对准性和接触效果;可移动式的阴极顶针则是其适用于各种规格的管芯,大大扩展了其适用性。
【附图说明】
[0013]图1是测试门极触发电流和触发电压的电路原理示意图。
[0014]图2是本发明的结构原理示意图。
[0015]图例说明:
1、调节旋钮;2、阴极顶针;3、底座;4、蝶形定位器;401、芯片卡槽;5、阴极顶针移动槽;6、门极顶针;7、丝杆;8、移动部件;9、侧壁;10、测试夹具。
【具体实施方式】
[0016]以下将结合说明书附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。
[0017]如图2所示,本发明的一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具10,该测试夹具10包括底座3、蝶形定位器4、门极顶针6、阴极顶针2及阴极顶针移动组件,蝶形定位器4位于底座3的上方,蝶形定位器4上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽401,用来确定待测试芯片的位置。阴极顶针2和门极顶针6均安装于底座3内且位于蝶形定位器4的下方。其中,门极顶针6位于底座3的中部且固定不动,芯片卡槽401上设有与门极顶针6配合的门极配合孔。阴极顶针2则安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器4的径向方向运动,芯片卡槽401上沿着径向方向开设有供阴极顶针2运动的阴极顶针移动槽5。
[0018]芯片卡槽401位于蝶形定位器4的中间,呈圆形状,起到定位的作用,可根据被测管芯的直径制作。待测试芯片放入芯片卡槽401不会滑动,可实现一次性准确对心。且,门极配合孔的设计,能够方便测试员轻松放置,取放测试管芯。在进行测试时,可以根据管芯直径的大小来调节阴极顶针2的位置,进而实现了阴极顶针2与待测试芯片阴极面的准确定位接触,保证了测试的准确性。
[0019]本实施例中,阴极顶针移动组件包括丝杆7和移动部件8,移动部件8通过螺纹连接于丝杆7上,阴极顶针2安装于移动部件8上,通过丝杆7的转动可以驱动移动部件8带着阴极顶针2沿着芯片卡槽401的径向方向运动。进一步,丝杆7穿设于底座3的侧壁9上,在丝杆7远离底座3的一侧上还设有调节旋钮1,便于操作。
[0020]本实施例中,为了便于安装门极顶针6,将门极顶针6也通过安装部件连接于丝杆7上,但是安装部件为空套连接于丝杆7上,即在丝杆7运动时,不会产生位移。
[0021]本实施例中,蝶形定位器4可以根据管芯直径制作大小不同的规格,以满足不同管径的需要,从而解决了原有工装管芯对心难的问题,实现准确对心。进一步,还可以在芯片卡槽401上设有限位部件,用来对放入芯片卡槽401中的待测试芯片的放置位置进行限位,以保证测试效果。例如,限位部件可以为一个伸入芯片卡槽401的限位杆,利用限位杆伸入芯片卡槽401的位置对待测试芯片的摆放位置进行确定。
[0022]进一步,本发明还包括与测试夹具10配合的测试设备、气动夹具及升降台等,其均为常规设计,在此就不再赘述。
[0023]进一步,还可以在蝶形定位器4上设置一根以上的弹簧,弹簧的高度略高于阴极顶针2和门极顶针6,用来避免管芯表面被顶针刮伤。
[0024]工作原理:将待测试的芯片放置蝶形定位器4的芯片卡槽401上,按下测试设备的测试按钮,此时测试设备的气动夹具通过升降台下降,接触到待测芯片的阳极,待测芯片的阴极面将会接触到本发明的阴极顶针2,而门极顶针6正好对准待测芯片的门极区,进行通电测试,从而获得门极触发电流Ict和触发电压VCT,并显示在仪表上。
[0025]以上仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具(10),其特征在于,所述测试夹具(10)包括底座(3)、蝶形定位器(4)、门极顶针(6)、阴极顶针(2)及阴极顶针移动组件,所述蝶形定位器(4)位于底座(3)的上方,所述蝶形定位器(4)上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽(401),所述阴极顶针(2)和门极顶针(6)均安装于底座(3)内且位于蝶形定位器(4)的下方,所述门极顶针(6)位于底座(3)的中部且固定不动,所述芯片卡槽(401)上设有与门极顶针(6)配合的门极配合孔,所述阴极顶针(2)安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器(4)的径向方向运动,所述芯片卡槽(401)上沿着径向方向开设有供阴极顶针(2 )运动的阴极顶针移动槽(5 )。2.根据权利要求1所述的晶闸管芯片门极测试工装,其特征在于,所述芯片卡槽(401)位于蝶形定位器(4)的中间,呈圆形状。3.根据权利要求1所述的晶闸管芯片门极测试工装,其特征在于,所述阴极顶针移动组件包括丝杆(7)和移动部件(8),所述移动部件(8)通过螺纹连接于丝杆(7)上,所述阴极顶针(2)安装于移动部件(8)上。4.根据权利要求3所述的晶闸管芯片门极测试工装,其特征在于,所述丝杆(7)穿设于底座(3 )的侧壁(9 )上,在所述丝杆(7 )远离底座(3 )的一侧上还设有调节旋钮(I)。5.根据权利要求3所述的晶闸管芯片门极测试工装,其特征在于,所述门极顶针(6)通过安装部件连接于丝杆(7)上,所述安装部件空套连接于丝杆(7)上。6.根据权利要求1?5中任意一项所述的晶闸管芯片门极测试工装,其特征在于,在芯片卡槽(401)上设有限位部件,用来对放入芯片卡槽(401)中的待测试芯片的放置位置进行限位。7.根据权利要求1?5中任意一项所述的晶闸管芯片门极测试工装,其特征在于,所述蝶形定位器(4)上设置一根以上的弹簧,所述弹簧的高度高于阴极顶针(2)和门极顶针(6)0
【专利摘要】本发明公开了一种晶闸管芯片门极测试工装,包括测试夹具,测试夹具包括底座、蝶形定位器、门极顶针、阴极顶针及阴极顶针移动组件,蝶形定位器位于底座的上方,蝶形定位器上开设有用来放置待测试芯片的芯片卡槽,阴极顶针和门极顶针均安装于底座内且位于蝶形定位器的下方,门极顶针位于底座的中部且固定不动,芯片卡槽上设有与门极顶针配合的门极配合孔,阴极顶针安装于阴极顶针移动组件上并可以在阴极顶针移动组件的驱动下沿着蝶形定位器的径向方向运动,芯片卡槽上沿着径向方向开设有供阴极顶针运动的阴极顶针移动槽。本发明具有结构简单紧凑、制作方便、操作简便、可提高测试效率和测试效果等优点。
【IPC分类】G01R31/26
【公开号】CN105137315
【申请号】CN201410230402
【发明人】邓湘凤, 贺坚, 方凌, 邹培根, 沈显长, 刘艳, 杨谦成, 严冰, 刘晓珍
【申请人】株洲南车时代电气股份有限公司
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2014年5月28日
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