开方前测量多晶锭边皮的方法
【技术领域】
[0001 ]本发明涉及一种开方前测量大锭边皮的方法。
【背景技术】
[0002]目前行业内多晶锭开方存在以下几方面的缺点:
1、多晶锭粘胶时目测两侧边皮的厚度存在误差。
[0003]2、降线网至多晶锭表面时目测两侧边皮的厚度也存在误差，会造成多晶锭四周的边皮厚度误差较大，一般超出15_的误差，而且增加了多晶锭找中心的时间。
[0004]3、因多晶锭的铸锭过程产生坩祸变形，在多晶锭找中心时无基准面，造成四周边皮误差增大。
[0005]因此寻求一种在多晶锭开方前能够进行多晶锭快速找中心，将多晶锭四周边皮均分，减少损耗，提高开放效率的开方前测量多晶锭边皮的方法尤为重要。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于克服上述不足，提供一种在多晶锭开方前能够进行多晶锭快速找中心，将多晶锭四周边皮均分，减少损耗，提高开放效率的开方前测量多晶锭边皮的方法。
[0007]本发明的目的是这样实现的:
一种开方前测量多晶锭边皮的方法，该方法采用开方前测量多晶锭边皮的装置进行测量，开方前测量多晶锭边皮的装置包括测量板，所述测量板的四个边框顶面均设置有一个调节座，所述调节座上活动连接有直角尺，所述直角尺的一个横向直角边与调节座活动连接，所述直角尺的竖向直角边在测量板的外侧向下设置，该方法包括以下步骤:
步骤一、将多晶锭表面清理干净，将开方前测量多晶锭边皮的装置放置在多晶锭上表面；
步骤二、将调节座与直角尺松开；
步骤三、测量调整多晶锭的一组对称面的边皮厚度:抽出测量板上一组对称的边框上的一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值a;抽出测量板上一组对称的边框上的另一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值b;将数值a与数值b求出均值m，并调整测量板上一组对称的边框上的两个直角尺的横向直角边至均值m，锁紧测量板上一组对称的边框上的两个直角尺与调节座；
步骤四、测量调整多晶锭的另一组对称面的边皮厚度:抽出测量板上另一组对称的边框上的一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值c;抽出测量板上另一组对称的边框上的另一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值d;将数值c与数值d求出均值n，并调整测量板上另一组对称的边框上的两个直角尺的横向直角边至均值n，锁紧测量板上另一组对称的边框上的两个直角尺与调节座；
步骤五、沿着测量板的外侧边画出四条“边皮开方基准线”。
[0008]每个直角尺的横向直角边与调节座之间通过控制两个调节螺栓不同的锁紧位置，从而调节直角尺与调节座的相对位置。
[0009]与现有技术相比，本发明的有益效果是:
本发明开方前测量多晶锭边皮的方法具有在多晶锭开方前能够进行多晶锭快速找中心，将多晶锭四周边皮均分，减少损耗，提高开放效率的优点。
【附图说明】
[0010]图1为本发明开方前测量多晶锭边皮的装置的俯视图。
[0011 ]图2为本发明开方前测量多晶锭边皮的装置的侧视图。
[0012]图3为本发明开方前测量多晶锭边皮的装置的使用状态图。
[0013]图4为本发明开方前测量多晶锭边皮的装置的使用后画出的线网图。
[0014]其中:
测量板1 调节座2 直角尺3 调节螺栓4 多晶锭5 线网6
边皮开方基准线7。
【具体实施方式】
[0015]参见图1?图4，本发明涉及的一种开方前测量多晶锭边皮的方法，该方法采用开方前测量多晶锭边皮的装置进行测量。
[0016]—种开方前测量多晶锭边皮的装置，它包括测量板1，所述测量板1为口字型结构板材，所述测量板1的四个边框顶面中部均设置有一个调节座2，所述调节座2上活动连接有直角尺3。所述直角尺3的一个横向直角边与调节座2活动连接，所述直角尺3的竖向直角边在测量板1的外侧向下设置。图中所示为每个直角尺3的横向直角边与调节座2之间通过控制两个调节螺栓4不同的锁紧位置，从而调节直角尺3与调节座2的相对位置。
[0017]—种开方前测量多晶锭边皮的方法的测量方法的步骤如下:
步骤一、将多晶锭5表面清理干净，将开方前测量多晶锭边皮的装置放置在多晶锭上表面。
[0018]步骤二、松开八个调节螺栓。
[0019]步骤三、测量调整多晶锭的一组对称面的边皮厚度:抽出测量板上一组对称的边框上的一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值a;抽出测量板上一组对称的边框上的另一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值b;将数值a与数值b求出均值m，并调整测量板上一组对称的边框上的两个直角尺的横向直角边至均值m，锁紧测量板上一组对称的边框上的两个直角尺的四个调节螺栓；
步骤四、测量调整多晶锭的另一组对称面的边皮厚度:抽出测量板上另一组对称的边框上的一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值C;抽出测量板上另一组对称的边框上的另一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值d;将数值C与数值d求出均值n，并调整测量板上另一组对称的边框上的两个直角尺的横向直角边至均值n，锁紧测量板上另一组对称的边框上的两个直角尺的四个调节螺栓；
步骤五、沿着测量板的外侧边画出四条“边皮开方基准线7”。
[0020]步骤六、多晶锭装上开方机后，降下线网6，使最外侧的线网与“边皮开方基准线”重合，锁紧开方机底角固定螺栓，完成边皮的开方前测量工作。
[0021]上述的多晶锭开方前的测量方法缩短员工对于多晶锭对中心的时间，降低多晶锭四周开方边皮的厚度误差，另外降低因边皮开偏造成红区增加的几率。
[0022]对于G6铸锭炉产出的多晶锭，开方前测量多晶锭边皮的装置的测量板边框长度的范围为940mm?950mm。
[0023]对于G6铸锭炉产出的多晶锭，开方前测量多晶锭边皮的装置的测量板边框长度的范围为1090mm?1106mm。
[0024]测量板的材质为聚氨酯材质、不锈钢或者不锈铁材质。
[0025]调节座与测量板的连接通过焊接方式或螺栓紧固方式连接。
[0026]根据现场实际需要，调节座可以安装在测量板的四个边框顶面的任意位置，优选为坩祸变形最小处。
【主权项】
1.一种开方前测量多晶锭边皮的方法，其特征在于该方法采用开方前测量多晶锭边皮的装置进行测量，开方前测量多晶锭边皮的装置包括测量板(1)，所述测量板(1)的四个边框顶面均设置有一个调节座(2)，所述调节座(2)上活动连接有直角尺(3)，所述直角尺(3)的一个横向直角边与调节座(2)活动连接，所述直角尺(3)的竖向直角边在测量板(1)的外侧向下设置，该方法包括以下步骤: 步骤一、将多晶锭表面清理干净，将开方前测量多晶锭边皮的装置放置在多晶锭上表面； 步骤二、将调节座与直角尺松开； 步骤三、测量调整多晶锭的一组对称面的边皮厚度:抽出测量板上一组对称的边框上的一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值a;抽出测量板上一组对称的边框上的另一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值b;将数值a与数值b求出均值m，并调整测量板上一组对称的边框上的两个直角尺的横向直角边至均值m，锁紧测量板上一组对称的边框上的两个直角尺与调节座； 步骤四、测量调整多晶锭的另一组对称面的边皮厚度:抽出测量板上另一组对称的边框上的一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值c;抽出测量板上另一组对称的边框上的另一个直角尺，使该直角尺的竖向直角边内侧靠近多晶锭外侧表面并记录该直角尺的横向直角边的刻度值d;将数值c与数值d求出均值n，并调整测量板上另一组对称的边框上的两个直角尺的横向直角边至均值n，锁紧测量板上另一组对称的边框上的两个直角尺与调节座； 步骤五、沿着测量板的外侧边画出四条“边皮开方基准线”。2.根据权利要求1所述的一种开方前测量多晶锭边皮的方法，其特征在于每个直角尺(3)的横向直角边与调节座(2)之间通过控制两个调节螺栓(4)不同的锁紧位置，从而调节直角尺(3)与调节座(2)的相对位置。
【专利摘要】本发明涉及的一种开方前测量多晶锭边皮的方法，其特征在于该方法采用开方前测量多晶锭边皮的装置进行测量，该方法包括以下步骤：步骤一、将多晶锭表面清理干净，将开方前测量多晶锭边皮的装置放置在多晶锭上表面；步骤二、将调节座与直角尺松开；步骤三、测量调整多晶锭的一组对称面的边皮厚度；步骤四、测量调整多晶锭的另一组对称面的边皮厚度；步骤五、沿着测量板的外侧边画出四条“边皮开方基准线”。本发明开方前测量多晶锭边皮的装置具有在多晶锭开方前能够进行多晶锭快速找中心，将多晶锭四周边皮均分，减少损耗，提高开放效率的优点。
【IPC分类】G01B5/00, G01B5/06
【公开号】CN105444638
【申请号】CN201510878158
【发明人】许文海, 薛文伟, 郭宽新, 姚锦嵘, 黄开亮
【申请人】海润光伏科技股份有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年12月4日