电路板测试治具及电路板测试系统的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种电路板测试治具及电路板测试系统。电路板测试治具包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块。升降组件用于向下按压产品载板。产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔。探针组件包括探针。探针的第一端与主控模块电连接，探针的第二端用于在产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触测试点。主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。该电路板测试治具及电路板测试系统能够实现机械化检测电路板的质量，克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题。
【专利说明】
电路板测试治具及电路板测试系统
技术领域
[0001]本发明涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种电路板测试治具及电路板测试系统。
【背景技术】
[0002]电路板，是电子产品的重要部件之一，其具有可靠性高、一致性好、机械强度高、重量轻、体积小、易于标准化等优点，已经广泛应用于电子手表、计算器、计算机、通信设备、电子雷达系统等电子产品。因此在电子产品的研制过程中，影响电子产品质量的最基本因素之一是电路板的设计和制造。
[0003]在传统的螺母线圈电路板检测方法中，通常都是通过放大镜目检螺母线圈电路板上的螺母线圈之间是否有短路、开路现象，然后判断螺母线圈电路板的质量优劣。例如若进行螺母线圈的通断检查和Q值的大小判断时，可先利用万用表电阻档测量螺母线圈电路板的直流电阻，再与原设定阻值或标称阻值相比较。若所测阻值比原设定阻值或标称阻值增大许多，甚至指针不动(阻值趋向无穷大X)即可判断螺母线圈电路板断线；若所测阻值极小，则判定是严重短路，从而判定此螺母线圈电路板质量差无法使用;若所测阻值与原设定阻值或标称阻值相差不大，则可判定此螺母线圈电路板质量为优。
[0004]然而上述传统的检测方法虽可施行，但是该方法由于是利用人的肉眼来检验螺母线圈电路板中元器件电路的开路、短路等情况，因此检测效率低，劳动强度大，误检率也高，不利于工厂大批量生产及品质检测。
【发明内容】
[0005]基于此，有必要针对如何克服传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题，提供一种电路板测试治具及电路板测试系统。
[0006]—种电路板测试治具，包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块；其中，所述升降组件安装于治具底箱上方并与治具底箱连接，所述产品载板、探针组件及主控模块安装于治具底箱；
[0007]所述升降组件用于向下按压产品载板;所述产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且所述产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔;所述探针组件包括探针;所述探针的第一端与主控模块电连接，所述探针的第二端用于在所述产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触所述测试点;所述主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。
[0008]在其中一个实施例中，所述升降组件包括升降机构、压板及安装于所述治具底箱上的固定板;所述升降机构安装于固定板上，并用于带动所述压板上下移动;所述压板安装于升降机构中能够移动的结构底部，且所述压板位于产品载板的上方。
[0009]在其中一个实施例中，所述升降组件在所述压板的两端分别设有滑动固定柱及滑动棒;所述滑动固定柱用于将滑动棒固定于所述固定板上;所述两个滑动棒分别穿过压板的两端，且所述压板在升降机构的带动下沿滑棒上下移动。
[0010]在其中一个实施例中，所述升降机构为大夹手升降机构。
[0011]在其中一个实施例中，所述产品载板设有用于对待测电路板进行定位的凹槽。
[0012]在其中一个实施例中，所述探针组件还包括探针载板，且所述探针载板设有用于放置探针的若干第二探针孔。
[0013]在其中一个实施例中，所述产品载板与探针组件通过设有弹簧的定位柱连接。
[0014]在其中一个实施例中，所述主控模块包括相互连接的信号转接板和主控板;所述信号转接板与所述探针的第一端连接，且所述信号转接板用于通过探针接收待测电路板的测试数据，并将所述测试数据发送至主控板;所述主控板，用于处理所述测试数据。
[0015]在其中一个实施例中，所述电路板测试治具还包括相连接的交流输入模块和直流电源模块;所述直流电源模块，用于将交流输入模块输出的交流电转换为直流电并向所述主控模块供电。
[0016]—种电路板测试系统，包括PC端和上述电路板测试治具，且所述电路板测试治具设有接口并通过所述接口与PC端通信。
[0017]上述电路板测试治具及电路板测试系统具有的有益效果为:在该电路板测试治具及电路板测试系统中，升降组件用于向下按压产品载板。产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板测试点对应的若干第一探针孔。因此当升降组件向下按压产品载板后，产品载板向探针组件移动，直至探针的第二端穿过第一探针孔并接触到待测电路板的测试点。由于探针的第一端与主控模块电连接，故探针即可将待测电路板的测试数据发送至主控模块，进而由主控模块进行处理，从而能够检测待测电路板的质量优劣。因此，该电路板测试治具及电路板测试系统能够实现机械化检测电路板的质量，克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题，从而简化了人工操作，提高了检测精度和效率，更利于工厂大批量生产及品质检测。
【附图说明】
[0018]图1为一实施例提供的电路板测试治具的正视示意图；
[0019]图2为图1所示实施例的电路板测试治具的左视示意图；
[0020]图3为图1所示实施例的电路板测试治具的俯视示意图；
[0021]图4为图1所示实施例的电路板测试治具的电路图。
【具体实施方式】
[0022]为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
[0023]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本发明。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0024]如图1至图3所示，本实施例提供的电路板测试治具包括:治具底箱90、升降组件、产品载板20、探针组件及主控模块。其中，升降组件安装于治具底箱90上方并与治具底箱90连接。产品载板20、探针组件及主控模块安装于治具底箱90。
[0025]升降组件能够上下移动，并用于向下按压产品载板20。产品载板20位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接。具体的，产品载板20与探针组件通过设有弹簧的定位柱连接，从而能够保证两者处于平衡状态。当然，产品载板20与探针组件也可采用其他方式连接，只要两者之间能够弹性连接并保持平衡即可。同时，产品载板20用于放置待测电路板22并设有与待测电路板22中的测试点对应的若干第一探针孔。待测电路板22则放置于这些第一探针孔的上方。
[0026]探针组件安装于治具底箱90的表面。探针组件包括探针，且探针的排列方式根据被测电路板的gerber文件设置。探针的第一端与主控模块电连接，例如探针的第一端与主控模块通过线缆连接。探针的第二端用于在产品载板20被压下后穿过第一探针孔以接触测试点。因此，探针的第二端至少需露出探针组件的表面，以便在产品载板20被压下后穿过第一探针孔从而接触测试点。主控模块安装于治具底箱90的内部，且主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板22的测试数据。
[0027]因此对于上述电路板测试治具，当升降组件向下按压产品载板20后，产品载板20向探针组件移动，直至探针的第二端穿过第一探针孔并接触到待测电路板22的测试点。由于探针的第一端与主控模块电连接，故探针即可将待测电路板22的测试数据发送至主控模块，进而由主控模块进行处理，从而能够检测待测电路板22的质量优劣。因此，该电路板测试治具能够实现机械化检测电路板的质量，克服了传统检测方法利用人眼来检测螺母线圈电路板质量的问题，从而简化了人工操作并降低了对技术人员的技术和素质要求，提高了检测精度和效率，更利于工厂大批量生产及品质检测。
[0028]具体的，如图2所示，上述升降组件包括升降机构11、压板12及安装于治具底箱90上的固定板13。
[0029]其中，固定板13用于支撑升降组件中的其他结构，且固定板13垂直安装于治具底箱90表面上方并位于治具底箱90表面的一侧，以便在治具底箱90表面的其他位置安装上述产品载板20和探针组件。固定板13例如可以通过固定螺丝80固定于治具底箱90。
[0030]压板12安装于升降机构11中能够移动的结构底部，且压板12位于产品载板20的上方。升降机构11用于带动压板12上下移动，且升降机构11中静止的结构安装于固定板13上，具体安装于固定板13垂直于治具底箱90表面的一侧。同时升降机构11中能够移动的结构在垂直于产品载板20的方向上下移动，从而能够带动压板12向下按压产品载板20。本实施例中，升降机构11为大夹手升降机构，由于大夹手升降机构结构简单，故升降机构11在能够带动压板12上下移动的情况下还能够降低成本。可以理解的是，升降机构11也可采用其他类型能够升降的机构，只要成本低且能够带动压板12上下移动即可。
[0031]可以理解的是，升降组件的具体结构不限于上述升降机构11、压板12及固定板13的一种情况，只要升降组件10能够向下按压产品载板20即可。
[0032]另外，为了更容易实现向下按压产品载板20的功能，上述升降组件还设有压棒16，且压棒16连接于升降机构11和压板12之间。当然，升降组件不限于选用压棒16的一种情况，只要升降组件便于实现向下按压产品载板20的功能即可。
[0033]具体的，如图1所示，上述升降组件在压板12的两端分别设有滑动固定柱14及滑动棒15。其中，压板12的两端为压板12靠近两侧边缘的位置。同时，滑动固定柱14用于将滑动棒15固定于固定板13上，并使得滑动棒15与压板12上下移动的方向平行。
[0034]两侧的两个滑动棒15分别穿过压板12两端对应的位置，即在压板12对应两个滑动棒15的位置处分别开设一个能够穿过滑动棒15的孔，滑动棒15即可穿过该孔。那么压板12在升降机构11的带动下即可沿滑棒15上下移动。因此，上述两个滑动棒15相当于为压板12提供了滑动轨道，从而使得压板12在滑动过程中保持平衡，进而达到准确按压产品载板20的功能。
[0035]可以理解的是，升降组件的具体结构不限于包括上述滑动固定柱14及滑动棒15的一种情况，只要能够保证压板12在上下移动过程中保持平衡即可。
[0036]进一步的，如图3所示，上述产品载板20表面设有凹槽21，且凹槽21用于对待测电路板22进行定位，从而使得待测电路板22中的测试点与探针准确接触，以提高测试的准确性。
[0037]可以理解的是，产品载板20不限于设置凹槽21的一种情况，只要能够对待测电路板22进行定位即可。
[0038]具体的，上述探针组件还包括探针载板。本实施例中，探针载板与上述产品载板20通过带弹簧的定位柱连接。探针载板设有用于放置探针的若干第二探针孔，且第二探针孔的位置与探针、产品载板20中的第一探针孔均为一一对应的关系。同时，探针固定于对应的第二探针孔内，且探针的第一端穿过第二探针孔与主控模块电连接，探针的第二端外露于第二探针孔，从而便于在产品载板20被升降组件压下后，探针的第二端穿过产品载板20上的第一探针孔接触相应的测试点。
[0039]可以理解的是，探针组件不限于上述一种情况，只要能够固定探针并使得探针的第一端与主控模块电连接且探针的第二端在产品载板20被压下后穿过第一探针孔并接触到相应的测试点即可。
[0040]具体的，如图2所示，上述主控模块包括相互连接的信号转接板41和主控板42。本实施例中，信号转接板41和主控板42通过线缆70连接。其中，信号转接板41位于主控板42的上方并与探针的第一端连接，且信号转接板41用于通过探针接收待测电路板22的测试数据，并将测试数据发送至主控板42。主控板42，用于处理该测试数据，进而判断待测电路板22的质量优劣，例如判断待测电路板是否存在短路现象。
[0041]需要说明的是，主控板42既可以采用现有的相关电路板测试方法来判断待测电路板22是否可用，也可以为主控板42将测试数据传输至外部智能设备(例如PC)并由外部智能设备进行具体判断或者由外部智能设备将测试结果进行显示并存储。总之，只要能够提高检测效率即可。
[0042]可以理解的是，主控模块的具体结构不限于上述一种情况，只要能够根据测试数据判断待测电路板22是否可用并能提高检测效率即可。
[0043]进一步的，如图1、图4所示，上述电路板测试治具还包括相连接的交流输入模块51和直流电源模块52。其中，交流输入模块51用于输入220V交流电压。直流电源模块52，用于将交流输入模块51输出的交流电(S卩220V交流电压)转换为直流电并向主控模块供电。
[0044]具体在本实施例中，如图4所示，直流电源模块52通过电源线缆连接主控板42。直流电源模块输出的直流电首先对主控板42供电，同时通过主控板42对信号转接板41供电。当探针接触到待测电路板22后，再通过探针对待测电路板22供电。因此当主控板42、信号转接板41及待测电路板22均正常供电后，上述电路板测试治具即可实现测试待测电路板22质量的功能。
[0045]当然，直流电源模块52的具体供电方式不限于上述一种情况，只要能够对主控板42、信号转接板41及待测电路板22供电即可。
[0046]另外，为了能够节约能源，本实施例在治具底箱90外侧还设置了电源开关按键，该电源开关按键用于控制上述电路板测试治具正常供电或断电。例如电源开关按键连接交流输入模块51，从而控制交流输入模块51导通或断开与外部电源的连接电路，进而控制上述电路板测试治具正常供电或断电。
[0047]另外，在本实施例中，治具底箱90的底部94外侧还设有橡胶垫，用于加固治具底箱90。同时，治具底箱90的外侧还设有百叶合93和锁扣91，用于打开或关闭治具底箱90的正面平台95，从而便于对治具底箱90内部进行维修。治具底箱90的外侧还设有预留串口装置92，便于主控板42与外部设备传输数据。
[0048]综上所述，对于上述电路板测试治具来说，若要测试待测电路板22，则先将待测电路板22置于产品载板20表面的凹槽21内，控制升降机构11向下按压。当压板12接触到产品载板20后继续按压，这时产品载板20向探针组件靠近，直至探针组件中的探针穿过产品载板20的第一探针孔并接触到待测电路板22的测试点。然后打开电源开关按键，使电路板测试治具通电，这时即可对待测电路板22进行性能检测。因此，利用本实施例提供的电路板测试治具进行检测，操作简易，减少了劳动强度，能够将生产线上的测试方式进行优化整合，从而提高企业生产竞争力。
[0049]另外，本实施例中提供的上述电路板测试治具还可以同时支持对多块待测电路板22进行检测。例如在治具底箱90上设置多套升降机构11，产品载板20上设置多个凹槽21，同时探针组件相应设置多组探针及第二探针孔，那么即可实现对多块待测电路板22同时进行检测的功能。
[0050]另外，本实施例还提供了一种电路板测试系统，包括PC端和上述电路板测试治具。同时，电路板测试治具还设有接口60，且电路板测试治具通过接口60与PC端通信。具体的，电路板测试治具在治具底箱90的外侧设有接口 60，而电路板测试治具则是通过内部的主控板42通过接口 60与PC端进行通信。其中接口 60可以为有线接口也可为无线接口，只要能够使电路板测试治具与PC端正常通信即可。
[0051]那么上述电路板测试系统的检测方法例如为:当上述电路板测试治具做好检测准备(即探针与测试点接触，且电路板测试治具正常供电)后，PC端的测试软件通过接口 60向主控板42发送测试命令。主控板42接收到该测试命令后，将测试命令通过信号转接板41发送至待测电路板22中。
[0052]待测电路板22接收到该测试命令后即将相关的测试数据通过探针、信号转接板41发送至主控板42，再由主控板42将测试数据通过接口 60送至PC端。PC端的测试软件接收到测试数据后，通过软件界面显示“PASS”或“FAIL”。同时，在测试过程中PC端的测试软件界面还可以提供测试进度条，而且还可以在PC端保存待测电路板22的测试数据，以便后续查阅。
[0053]需要说明的是，上述PC端的测试软件及主控板42中执行的功能可以采用现有的电路板测试软件来执行。
[0054]可以理解的是，上述电路板测试系统的具体检测方式不限于上述一种情况，例如主控板42和PC端的测试软件的具体处理功能还可以有其他变形，只要能够利用上述电路板测试治具来快速检测待测电路板22的质量即可。
[0055]综上所述，上述电路板测试系统在采用了上述电路板测试治具的基础上，又进一步通过PC端的测试软件来完成整个测试过程，提高了检测的智能化，进一步提高了检测效率，从而能够快速判断待测电路板22的质量优劣，更有利于生产线的使用和规模扩大。
[0056]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0057]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种电路板测试治具，其特征在于，包括治具底箱、升降组件、产品载板、探针组件及主控模块;其中，所述升降组件安装于治具底箱上方并与治具底箱连接，所述产品载板、探针组件及主控模块安装于治具底箱； 所述升降组件用于向下按压产品载板;所述产品载板位于探针组件的上方并与探针组件弹性连接，且所述产品载板用于放置待测电路板并设有与待测电路板中测试点对应的若干第一探针孔;所述探针组件包括探针;所述探针的第一端与主控模块电连接，所述探针的第二端用于在所述产品载板被压下后穿过第一探针孔以接触所述测试点;所述主控模块用于通过探针接收并处理待测电路板的测试数据。2.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述升降组件包括升降机构、压板及安装于所述治具底箱上的固定板;所述升降机构安装于固定板上，并用于带动所述压板上下移动;所述压板安装于升降机构中能够移动的结构底部，且所述压板位于产品载板的上方。3.根据权利要求2所述的电路板测试治具，其特征在于，所述升降组件在所述压板的两端分别设有滑动固定柱及滑动棒;所述滑动固定柱用于将滑动棒固定于所述固定板上;所述两个滑动棒分别穿过压板的两端，且所述压板在升降机构的带动下沿滑棒上下移动。4.根据权利要求2所述的电路板测试治具，其特征在于，所述升降机构为大夹手升降机构。5.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述产品载板设有用于对待测电路板进行定位的凹槽。6.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述探针组件还包括探针载板，且所述探针载板设有用于放置探针的若干第二探针孔。7.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述产品载板与探针组件通过设有弹簧的定位柱连接。8.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述主控模块包括相互连接的信号转接板和主控板;所述信号转接板与所述探针的第一端连接，且所述信号转接板用于通过探针接收待测电路板的测试数据，并将所述测试数据发送至主控板;所述主控板，用于处理所述测试数据。9.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述电路板测试治具还包括相连接的交流输入模块和直流电源模块;所述直流电源模块，用于将交流输入模块输出的交流电转换为直流电并向所述主控模块供电。10.—种电路板测试系统，其特征在于，包括PC端和权利要求1至8中任一项权利要求所述的电路板测试治具，且所述电路板测试治具设有接口并通过所述接口与PC端通信。
【文档编号】G01R31/28GK105842608SQ201610173456
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年3月24日
【发明人】张立国
【申请人】深圳市科美集成电路有限公司