一种基于单io的ic卡并行测试方法
【专利摘要】一种基于单IO的IC卡并行测试方法，涉及IC卡技术领域。本发明使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试。所述并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐收发命令。其中卡片接收命令的方法步骤为：1）使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志；2）待测IC卡使用内部时钟采样命令IO对高低电平的长度进行采样计数；3）待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断；4）命令bit0~bit2传送命令类型，即确定了该命令的长度，待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环。本发明采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐进行命令收发，减少了时钟IO，增加同测卡片数量，有效减少测试成本。
【专利说明】
一种基于单1的IC卡并行测试方法
技术领域
[0001]本发明涉及IC卡技术领域，特别是可以在无外部时钟的情况下对多个IC卡进行并行测试。
【背景技术】
[0002]IC卡广泛使用于手机通讯、信用卡支付等应用中。随着IC卡技术的不断进步，IC卡的单位面积日益缩减，单张晶圆上的产值持续增加。伴随而来的是测试成本占总成本的比重显著增长，并且此矛盾随着IC卡存储容量的变大而愈发明显。
[0003]现有技术中，由于IC卡上芯片的内部时钟，既内部晶振所产生的时钟存在一定范围的偏差，所以传统生产测试均采用外部时钟，即测试机所发出时钟进行并行测试。此方法的好处是IC卡系统与收到的命令是同时钟源的，命令长度可以得到有效的控制，并行测试的IC卡步调一致，操作简单。而代价则是每颗芯片需要测试机提供两根10，也就是命令1和时钟10，无法做到同测卡片数量的最大化。
【发明内容】
[0004]针对上述现有技术中存在的不足，本发明的目的是提供一种基于单1的IC卡并行测试方法。它采用内部时钟采样命令10，每bit对齐进行命令收发，减少了时钟10，增加同测卡片数量，有效减少测试成本。
[0005]为了达到上述发明目的，本发明的技术方案以如下方式实现:
一种基于单1的IC卡并行测试方法，它使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试。所述并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令10，每bit对齐收发命令。其中卡片接收命令的方法步骤为:
1)使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志，一个高电平和一个低电平为一组，表示Ibit数据；
2)待测IC卡使用内部时钟采样命令1对高低电平的长度进行采样计数；
3)待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断，如若采到高电平的个数大于采到低电平的个数，即判断该bit为1，反之则为O ;
4)命令bit(Tbit2传送命令类型，即确定了该命令的长度，待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环。
[0006]其中卡片发送数据的方法步骤为:
1)当待测IC卡收到读指令后，进入发送数据流程，等待内部时钟采样命令1上的低电平脉冲指不彳目号；
2)每检测到一次低电平脉冲，发送一bit数据，即在内部时钟采样命令1低电平脉冲上升沿后，输出O或I并保持一段时间，测试机在这时间段取走数据；
3)发送数据结束后，内部时钟采样命令1回归输入模式，等待下一次低电平脉冲直至全部数据发送完毕。
[0007]本发明由于采用了上述方法，同现有技术相比具有如下特点:
在卡片接收命令时:
I)卡片仅对一 bit中的高低电平计数进行判断，不对计数的绝对数量进行判断，所以不同卡片内部时钟存在的偏差不会对命令的解析造成影响。
[0008]2)命令的长度可以进行调整，只需要命令宽度和内部时钟符合一定的比例关系即可。
[0009]在卡片发送数据时:
I)发送数据的流程按bit与外部时钟对齐，避免由内部时钟不同步而引起的接收数据错误。
[0010]下面结合附图和【具体实施方式】对本发明作进一步说明。
【附图说明】
[0011]图1为本发明实施例中卡片接收命令的时序图；
图2为本发明实施例中卡片发送数据的时序图。
【具体实施方式】
[0012]本发明方法使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试，并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令10，每bit对齐收发命令。本发明中的卡片接收命令的方法步骤为:
I)使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志，一个高电平和一个低电平为一组，表示Ibit数据。
[0013]2)待测IC卡使用内部时钟采样命令1对高低电平的长度进行采样计数。
[0014]3)待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断，如若采到高电平的个数大于采至帳电平的个数，即判断该bit为1，反之则为O。
[0015]4)命令bit0~bit2传送命令类型，即确定了该命令的长度。待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环。
[0016]本发明中的卡片发送数据的方法步骤为:
I)当待测IC卡收到读指令后，进入发送数据流程，等待内部时钟采样命令1上的低电平脉冲指不彳目号。
[0017]2)每检测到一次低电平脉冲，发送一 bit数据，即在内部时钟采样命令1低电平脉冲上升沿后，输出O或I并保持一段时间，测试机在这时间段取走数据。
[0018]3)发送数据结束后，内部时钟采样命令1回归输入模式，等待下一次低电平脉冲直至全部数据发送完毕。
[0019]参看图1，本发明实施例中卡片在采到start bit后的上升沿开始计数，在采到下降沿之前记录即为高电平个数，从下降沿至下一次上升沿之前即为低电平个数。bitO中高电平明显较低电平要短，bitO数据为0，同理，bit2种高电平要长于低电平，bit2数据为I。
[0020]参看图2，本发明实施例中当卡片收到读指令后，进入发送数据流程，第一次采到内部时钟采样命令1上的低电平后，发送bitO数据，即在内部时钟采样命令1上输出O。卡I的内部时钟频率要高于卡2，所以会先采到其内部时钟采样命令1上的低电平，既而先进入发送bitO数据的状态。而测试机采样点I的时间为最慢的有效内部时钟和最快的有效内部时钟综合计算得出，故保证了两张卡片在采样点I时均未数据发送状态，发送结束后，内部时钟采样命令1回归输入模式，等待第二次内部时钟采样命令1上的低电平发送bitl数据。
【主权项】
1.一种基于单1的IC卡并行测试方法，它使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试，所述并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令10，每bit对齐收发命令，其中卡片接收命令的方法步骤为: 1)使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志，一个高电平和一个低电平为一组，表示Ibit数据； 2)待测IC卡使用内部时钟采样命令1对高低电平的长度进行采样计数； 3)待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断，如若采到高电平的个数大于采到低电平的个数，即判断该bit为1，反之则为O ; 4)命令bit(Tbit2传送命令类型，即确定了该命令的长度，待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环； 其中卡片发送数据的方法步骤为: 1)当待测IC卡收到读指令后，进入发送数据流程，等待内部时钟采样命令1上的低电平脉冲指不彳目号； 2)每检测到一次低电平脉冲，发送一bit数据，即在内部时钟采样命令1低电平脉冲上升沿后，输出O或I并保持一段时间，测试机在这时间段取走数据； 3)发送数据结束后，内部时钟采样命令1回归输入模式，等待下一次低电平脉冲直至全部数据发送完毕。
【文档编号】G01R31/28GK105891695SQ201410189178
【公开日】2016年8月24日
【申请日】2014年5月7日
【发明人】白天宇, 乔瑛, 赵宇宁, 冯俊杰, 张章, 董宇, 李慧
【申请人】北京同方微电子有限公司