顶针的检具的制作方法
【专利摘要】本申请涉及零部件检测技术领域，尤其涉及一种顶针的检具，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。检测顶针时，待测顶针可以逐渐伸入第一检测孔内，在这一过程中，顶针上与第一检测孔的孔深相对应的部分为检测段，此检测段上的所有位置处的尺寸都可以通过该检具检测。因此，本申请提供的检具能够在单次操作内检测顶针上的更多位置处的尺寸，以此降低顶针的检测误差，提高顶针的加工质量。
【专利说明】
顶针的检具
技术领域
[0001]本申请涉及零部件检测技术领域，尤其涉及一种顶针的检具。【背景技术】
[0002]零件加工完以后需要进行检测，以确定零件的加工精度是否符合要求。顶针是模具、机床等设备中比较常见的零件，顶针一般采用细长形的杆状件，在检测该顶针时，可采用千分尺对顶针的多个位置进行检测，然后将检测得到的多个数据与标准值进行对比，以此完成顶针的检测。
[0003]然而，对于单个顶针而言，只能检测其上的个别位置处的尺寸，因此此种检测方式存在较大的误差，导致顶针的加工质量偏低。
【发明内容】
[0004]本申请提供了一种顶针的检具，以提高顶针的加工质量。
[0005]本申请提供了一种顶针的检具，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。
[0006]优选地，所述第一检测孔和所述第二检测孔中的至少一者为直通孔，所述直通孔自所述检具的一个表面贯通至所述检具的另一表面。
[0007]优选地，所述第一检测孔至少为两个，各所述第一检测孔中的至少两个所述第一检测孔的尺寸互不相等。
[0008]优选地，所述第二检测孔至少为两个，各所述第二检测孔中的至少两个所述第二检测孔的尺寸互不相等。
[0009]优选地，所述检具上还开设复测孔，所述复测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等。
[0010]优选地，所述复测孔至少为两个，各所述复测孔中的至少两个所述复测孔的尺寸互不相等。[〇〇11] 优选地:
[0012]各所述第一检测孔的轴线相互平行；
[0013]和/或，各所述第二检测孔的轴线相互平行。
[0014]和/或，各所述复测孔的轴线相互平行。
[0015]优选地:[〇〇16]各所述第一检测孔呈行列式布置；
[0017]和/或，各所述第二检测孔呈行列式布置。
[0018]和/或，各所述复测孔呈行列式布置。
[0019]优选地，所述检具上还设置标志部，所述第一检测孔、所述第二检测孔和所述复测孔中的至少一者的侧方设置所述标志部。
[0020]优选地，所述标志部为标志槽。
[0021]本申请提供的技术方案可以达到以下有益效果:
[0022]本申请所提供的检具上开设第一检测孔和第二检测孔，两者的尺寸分别为待测顶针的尺寸上限值和尺寸下限值，并且，该第一检测孔和第二检测孔具有一定的孔深，因此检测顶针时，将待测顶针依次插入第一检测孔和第二检测孔，如果待测顶针能够插入第一检测孔，且无法插入第二检测孔就表示顶针的尺寸合格，否则顶针的尺寸不合格。检测顶针时，待测顶针可以逐渐伸入第一检测孔内，在这一过程中，顶针上与第一检测孔的孔深相对应的部分为检测段，此检测段上的所有位置处的尺寸都可以通过该检具检测。因此，本申请提供的检具能够在单次操作内检测顶针上的更多位置处的尺寸，以此降低顶针的检测误差，提尚顶针的加工质量。
[0023]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。【附图说明】
[0024]图1为本申请实施例所提供的检具与待测顶针的配合示意图。
[0025]附图标记:
[0026]10-检具；[〇〇27]100-第一检测孔；
[0028]101-第二检测孔；
[0029]102-复测孔；[〇〇3〇] 20-待测顶针。[〇〇31]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。【具体实施方式】
[0032]下面通过具体的实施例并结合附图对本申请做进一步的详细描述。[〇〇33]如图1所示，本申请实施例提供了一种顶针的检具10,该检具10用于检测待测顶针 20的尺寸是否符合要求，该尺寸一般为待测顶针20的横截面尺寸，待测顶针20的横截面尺寸可以整体相等，也可以分段相等，即顶针包含多个横截面尺寸相等的段。该检具10具体可采用块状结构，其上开设第一检测孔100和第二检测孔101，该第一检测孔100的尺寸与待测顶针20的尺寸上限值相等，第二检测孔101的尺寸与待测顶针20的尺寸下限值相等，第一检测孔100和第二检测孔101的孔深值均大于或等于预设值，该预设值可以根据待测顶针20的长度等参数确定。[〇〇34]第一检测孔100和第二检测孔101的形状与待测顶针20上需要检测的部分的轮廓相同，例如待测顶针20为圆顶针时，第一检测孔100和第二检测孔101即设置为圆孔;待测顶针20为扁顶针时，第一检测孔100和第二检测孔101可设置为方孔。上述尺寸上限值和尺寸下限值分别为，待测顶针20的尺寸在公差范围内能够达到的最大值和最小值，待测顶针20 的尺寸位于该尺寸上限值和尺寸下限值之间就表示待测顶针20的尺寸符合加工要求。 [〇〇35]使用上述检具10时，首先将待测顶针20对准第一检测孔100,然后向待测顶针20施加推动力，观察待测顶针20是否能够插入第一检测孔100内。接着将待测顶针20对准第二检测孔101，然后向待测顶针20施加推动力，观察待测顶针20是否能够插入第二检测孔101内。 [〇〇36]经过上述检测后，将出现以下三种结果:第一种，待测顶针20能插入第一检测孔 100,但不能插入第二检测孔101，表明待测顶针20的尺寸合格;第二种，待测顶针20不能插入第一检测孔100,但能插入第二检测孔101，表明待测顶针20的尺寸过大，不合格;待测顶针20既能插入第一检测孔100,也能插入第二检测孔101，表明待测顶针20的尺寸过小，不合格。[〇〇37]采用上述检具时，待测顶针20可以逐渐伸入第一检测孔100内，在这一过程中，待测顶针20上与第一检测孔100的孔深相对应的部分均为检测段，此检测段上的所有位置处的尺寸都可以通过该检具检测。另一方面，当待测顶针20能够伸入第二检测孔101内时，即可得出待测顶针20的尺寸不合格这一结论，但此时仍然可以继续推动待测顶针20,以确定待测顶针20上的尺寸不合格的部分所处的大致位置。因此，本申请提供的检具能够在单次操作内检测顶针上的更多位置处的尺寸，以此降低顶针的检测误差，提高顶针的加工质量。
[0038]前述的第一检测孔100和第二检测孔101均可设置为盲孔，该盲孔的深度将决定待测顶针20伸入第一检测孔100和第二检测孔101的程度，因此采用盲孔时，待测顶针20上能够借助该检具进行检测的部分相对比较少。有鉴于此，可将第一检测孔100和第二检测孔 101中的至少一者设置为直通孔，该直通孔自检具10的一个表面贯通至检具10的另一表面。 此种方案下，可以推动待测顶针20穿过该直通孔，以此检测待测顶针20在自身长度方向上的各个位置处的尺寸，继而更大程度地提升顶针的加工质量，并简化顶针的检测程序。
[0039]由于同一形状的顶针存在不同的规格，不同规格的顶针之间的区别基本体现为其尺寸的不同，当第一检测孔100和第二检测孔101均仅设置为一个时，此检具10只能检测一种规格的顶针。基于此，为了检测更多规格的顶针，可将第一检测孔100设置为至少两个，各第一检测孔100中的至少两个第一检测孔100的尺寸互不相等。也就是说，至少有两个第一检测孔100可用于检测不同规格的顶针，以此达到前述目的。可选地，各第一检测孔100的尺寸均互不相等。
[0040]同理地，第二检测孔101至少为两个，各第二检测孔101中的至少两个第二检测孔 101的尺寸互不相等。
[0041]继续参照图1，一种实施例中，检具10上还可开设复测孔102,该复测孔102的尺寸与待测顶针20的尺寸上限值相等。检测顶针时，首先确定待测顶针20是否能够插入第一检测孔101，然后再将待测顶针20对准该复测孔102,以确定待测顶针20是否能够插入复测孔 102中。此种方案通过第一检测孔100和复测孔102同时确定待测顶针20的尺寸是否符合要求，相比于仅通过第一检测孔100检测的方式，该复测孔102可以改善第一检测孔100自身存在加工误差，而导致顶针的检测精度不够高这一问题。
[0042]为了提高检具10的通用性，可将复测孔102设置为至少两个，各复测孔102中的至少两个复测孔102的尺寸互不相等，以使复测孔102能够适用于更多规格的顶针。[〇〇43]当第一检测孔100至少为两个时，各第一检测孔100的轴线可以相互平行，此时各第一检测孔100之间不容易相干涉，也就可以适当缩小各第一检测孔100之间的距离，以使各第一检测孔100的分布更加紧凑，减小检具10所占用的空间。同理地，各第二检测孔101的轴线相互平行;或者，各复测孔102的轴线相互平行。当然，优选地，各第一检测孔100的轴线相互平行、各第二检测孔101的轴线相互平行，且各复测孔102的轴线相互平行。更优选地， 各第一检测孔100与各第二检测孔101及复测孔102的轴线均相互平行，以强化前述的技术效果。
[0044]上述各第一检测孔100、第二检测孔101和复测孔102在检具10上的分布可以是无规则的分布方式，但此种分布方式将导致检具10的加工效率较低。所以，上述各第一检测孔 1〇〇可以呈行列式布置，以简化第一检测孔1〇〇的加工工序。同理地，各第二检测孔1〇1可以呈行列式布置;或者各复测孔102呈行列式布置。优选地，各第一检测孔100呈行列式布置、 各第二检测孔101呈行列式布置，且各复测孔102呈行列式布置。具体实施例中，各第一检测孔100可以分布于同一列，各第二检测孔101可以分布于同一列，各复测孔102可以分布于同一列。
[0045]上述的第一检测孔100、第二检测孔101和复测孔103比较相似，因此会出现检测人员将第一检测孔1〇〇误认为第二检测孔101等类似情况;并且，当本申请实施例提供的检具可以应用于多种规格的顶针时，就涉及到待测顶针20的规格与各第一检测孔100、第二检测孔101和复测孔102的正确对应这一问题。为了防止检测人员在检测过程中将待测顶针20对准错误的孔，检具10上还设置标志部，第一检测孔100、第二检测孔101和复测孔102中的至少一者的侧方设置该标志部。此标志部的作用是，准确表示出其对应的孔属于第一检测孔 100、第二检测孔101还是复测孔102,以及该孔所使用的规格。当检测人员实施检测时，通过上述标志部分别对应第一检测孔100、第二检测孔101和复测孔102,以及三者对应的规格， 从而将待测顶针20与正确的孔对准。
[0046]上述标志部可以是凸起，也可以是凹槽。如果将标志部设置为凸起，那么待测顶针 20容易与该凸起碰撞，导致待测顶针20出现变形。为此，可将该标志部设置为标志槽。另外， 采用标志槽这种结构时，还可便于加工。[〇〇47]具体实施例中，当第一检测孔100、第二检测孔101和复测孔102设置为多个，且均呈行列式排布时，可在所有第一检测孔100的同一侧加工具有相应字样(例如“第一检测孔”)的第一标志槽，在所有第二检测孔101的同一侧加工具有相应字样(例如“第二检测孔”)的第二标志槽，在所有复测孔102的同一侧加工具有相应字样(例如“第三检测孔”)的第三标志槽。同时，可以在各第一检测孔100、各第二检测孔101和各复测孔102的同一侧依次加工多个表征规格(例如“0.1mm”、“0.2mm” “0.3mm”.)的第四标注槽。[〇〇48]以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
【主权项】
1.一种顶针的检具，其特征在于，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一 检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下 限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。2.根据权利要求1所述的检具，其特征在于，所述第一检测孔和所述第二检测孔中的至 少一者为直通孔，所述直通孔自所述检具的一个表面贯通至所述检具的另一表面。3.根据权利要求1所述的检具，其特征在于，所述第一检测孔至少为两个，各所述第一 检测孔中的至少两个所述第一检测孔的尺寸互不相等。4.根据权利要求3所述的检具，其特征在于，所述第二检测孔至少为两个，各所述第二 检测孔中的至少两个所述第二检测孔的尺寸互不相等。5.根据权利要求4所述的检具，其特征在于，所述检具上还开设复测孔，所述复测孔的 尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等。6.根据权利要求5所述的检具，其特征在于，所述复测孔至少为两个，各所述复测孔中 的至少两个所述复测孔的尺寸互不相等。7.根据权利要求6所述的检具，其特征在于:各所述第一检测孔的轴线相互平行；和/或，各所述第二检测孔的轴线相互平行。和/或，各所述复测孔的轴线相互平行。8.根据权利要求7所述的检具，其特征在于:各所述第一检测孔呈行列式布置；和/或，各所述第二检测孔呈行列式布置。和/或，各所述复测孔呈行列式布置。9.根据权利要求5-8中任一项所述的检具，其特征在于，所述检具上还设置标志部，所 述第一检测孔、所述第二检测孔和所述复测孔中的至少一者的侧方设置所述标志部。10.根据权利要求9所述的检具，其特征在于，所述标志部为标志槽。
【文档编号】G01B5/00GK105973108SQ201610586001
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年7月22日
【发明人】胡伟
【申请人】深圳天珑无线科技有限公司