振动测试装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种振动测试装置，包括：测试平台、第一导引组件、固定组件与限位组件。测试平台与振动设备连接。第一导引组件设置于测试平台的二对应侧。固定组件相对固定于测试平台。固定组件包含一主固件与一侧固件。主固件的侧面具有孔位，侧固件具有固定孔，藉由一锁固件通过固定孔固设于孔位，以固设侧固件于主固件上。限位组件固设于主固件与侧固件之间，且分别连接于所对应的第一导引组件的一端部，而第一导引组件的另一端部固定至对应的限位组件。通过本发明，以解决现有技术存在的不具共享性的问题。
【专利说明】
振动测试装置
技术领域
[0001 ]本发明涉及测试装置的技术领域，尤其涉及一种振动测试装置。
【背景技术】
[0002]随着科技不断地研发与精进，电子装置的设计皆朝向高性能、高精度、好品质的共同目标发展。因此，这些电子装置的相关测试变得特别重要。其中，电子装置的抗振能力更是衡量整个电子装置的性能指标。
[0003]—般而言，在对电子装置作抗振性能测试时，通常将电子装置放置于一振动测试装置上，再将电子装置与振动测试装置一起放置于作为振动源的振动设备上进行测试操作。然而，一般的振动测试装置通常不具共享性，因此在对不同机型或尺寸的电子装置进行振动测试时，原有的振动测试装置完全无法应用，而通常须要重新制作另一套振动测试装置来符合新的振动测试需求。
【发明内容】
[0004]本发明的主要目的在于提供一种振动测试装置，以解决现有技术存在的振动测试装置不具共享性的问题。
[0005]为解决上述问题，本发明实施例提供一种振动测试装置，其组装于一振动设备上，以对一电子装置进行振动测试。所述振动测试装置包括:一测试平台、二第一导引组件、至少一固定组件与多个限位组件。所述测试平台，与所述振动设备连接。所述第一导引组件设置于所述测试平台的二对应侧边，所述电子装置沿一装设方向被导引且夹置于所述二第一导引组件之间。所述固定组件是相对固定于所述测试平台。所述固定组件包含一主固件与一侧固件。所述主固件的侧面具有至少一孔位，所述侧固件具有至少一固定孔，藉由一锁固件通过所述固定孔固设于所述孔位，以固设侧固件于主固件上。此外，所述限位组件固设于所述主固件与侧固件之间，沿所述装设方向L分别连接于所对应的所述第一导引组件的一第一端部与一第二端部，将所述电子装置限制于所述测试平台上，而各所述第一导引组件固定至对应的所述限位组件。
[0006]其中，各所述第一导引组件于所述装设方向的所述第一端部及所述第二端部设有至少一第一卡合部，所述限位组件具有至少一卡合槽，所述限位组件通过所述卡合槽固设所述第一卡合部而固定所述第一导引组件。
[0007]其中，所述振动测试装置还包括:二长度调节组件，分别连接于所对应的二第二导引组件的的端部。
[0008]其中，所述振动测试装置中，各所述第二导引组件具有第三端部以及第四端部，所述第三端部通过对应的所述长度调节组件固定至对应的所述限位组件，所述第四端部直接固定至对应的所述限位组件。
[0009]其中，所述所述振动测试装置中，各所述长度调节组件具有至少一卡合孔，各所述第二导引组件具有至少一第二卡合部，所述第二导引组件通过所述第二卡合部卡合于所述长度调节组件的所述卡合孔固定所述长度调节组件。
[0010]其中，所述所述振动测试装置中，各所述第一导引组件具有至少一第一夹置结构，用以导引并夹置设于所述二第一导引组件间的所述电子装置。
[0011]其中，所述所述振动测试装置中，各所述第二导引组件具有至少一第二夹置结构，用以导引并夹置设于所述二第二导引组件间的所述电子装置。
[0012]其中，所述所述振动测试装置还包括:一支架，具有相连接的多个侧边架体，所述多个侧边架体用以固定在所述固定组件上缘，以吊装所述测试平台。
[0013]其中，所述所述振动测试装置中，所述测试平台具有至少一定位孔，所述固定组件固定于所述定位孔，且作为所述固定组件、所述二第一导引组件、所述二长度调节组件以及所述二限位组件于所述测试平台的定位配置。
[0014]其中，所述所述振动测试装置还包括:一散热模组，设置于所述测试平台，产生散热气流沿所述装设方向对所述电子装置进行散热。
[0015]根据本发明的技术方案，通过选择性的应用第一导引组件或是应用第二导引组件以及长度调节组件的组合，让本发明的振动测试装置可以搭配各种不同机型或是尺寸的电子装置，以增加使用上的便利性，并节省制作成本。
【附图说明】
[0016]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0017]图1是根据本发明一实施例的振动测试装置的示意图；
[0018]图2是根据图1的实施例的振动测试装置对一电子装置测试的示意图；
[0019]图3A是根据本发明另一实施例的振动测试装置的示意图；
[0020]图3B是根据图3A的实施例的振动测试装置的部分结构放大图；
[0021]图4是根据图3A的实施例的振动测试装置与一振动设备搭配的示意图。
【具体实施方式】
[0022]本发明的主要思想在于，基于通过第一导引组件或是通过第一导引组件以及长度调节组件的组合来引导并固定电子装置以进行振动测试。通过提供选择性的应用，让本发明的振动测试装置可以针对各种不同机型或是尺寸的电子装置进行振动测试，而无须重新制作另一套振动测试装置来符合新的振动测试需求。如此一来，即可增加使用上的便利性，并节省制作成本。
[0023]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图及具体实施例，对本发明作进一步地详细说明。
[0024]根据本发明的实施例，提供了一种振动测试装置。
[0025]图1是根据本发明一实施例的振动测试装置的示意图，而图2是根据图1的实施例的振动测试装置对一电子装置测试的示意图。
[0026]请同时参考图1与图2，本发明的振动测试装置100，是组装于一振动设备200上，以对一电子装置300进行振动测试。电子装置300例如是一服务器。本实施例的振动测试装置100包括一测试平台110、二导引组件120、多个限位组件140/140’与至少一固定组件150。其中，测试平台110与振动设备200连接。此外，导引组件120则是设置于测试平台110的二对应侧边。如此一来，电子装置300即可沿一装设方向L被导引且夹置于二导引组件120之间。在本实施例中导引组件120具有至少一夹置结构128，其例如是自导引组件120的本体所冲压出的固定弹片，而当电子装置300被导引至测试平台110时，这些例如是冲压出的固定弹片即会有效地导引并夹置于二导引组件120间的电子装置300，达到固定的效果。
[0027]另一方面，为能有效的让导引组件120稳固地设置于测试平台110，本发明的振动测试装置100还设有至少一固定组件150。固定组件150是相对固定于所述测试平台110，并例如可以提供一承靠面来让导引组件120承靠，进而让导引组件120可以稳固地设置于测试平台110。详细地说，在本实施例的振动测试装置100中，为让电子装置300能有效且顺利地被导引至测试平台110上，通常会须要长条状的导引构件，例如是本实施例的导引组件120。再进一步地说，基于例如是长条状的导引组件120容易在导引电子装置300的过程中因外力而自其原设置处偏移，亦或是产生形变而导致无法继续提供导引功效，因此本实施例可藉由固定组件150的辅助来让导引组件120稳固地设置于测试平台110。
[0028]限位组件140/140’沿所述装设方向L连接于所对应的导引组件120的一第一端部122与一第二端部124，将所述电子装置300限制于所述测试平台110上，而各导引组件120固定至对应的所述限位组件140/140，。在本较佳的实施例中，导引组件120定义为第一导引组件。在此实施例中，限位组件140即是沿装设方向L连接于所对应的导引组件120的一第一端部122，将电子装置限制于测试平台110上，而每一导引组件120的第二端部124则可直接固定至对应的另一限位组件140’。
[0029]进一步地说，本实施例的各导引组件120则具有至少一第一卡合部126，限位组件140/140’具有至少一^^合槽142，限位组件140/140’通过卡合槽142固设第一^^合部126而固定导引组件120，以达到固定连结的作用。
[0030]在本实施例中，振动测试装置100是用来对符合其原规划机台测试长度的电子装置300进行测试，而本实施例的导引组件120直接符合振动测试装置100的原规划机台测试长度，因而不需要任何长度调节组件(未绘出)的装配及辅助。换言之，在本实施例中，无须藉由长度调节组件的装配及辅助，即可对待测试的电子装置进行稳固地配置。
[0031]在一较佳的实施例中，振动测试装置100还可以包括一支架160，其具有相连接的多个侧边架体162，而这些侧边架体162即可对应地固定在固定组件150上缘，以吊装所述测试平台110，增加了更换作业的便利性。
[0032]图3A是根据本发明另一实施例的振动测试装置的示意图，图3B是根据图3A的实施例的振动测试装置的部分结构放大图，图4是根据图3A的实施例的振动测试装置与一振动设备搭配的示意图。
[0033]请再同时参考图3A、图3B与图4，在本实施例的振动测试装置100’中，电子装置的机型或是尺寸并非完全符合振动测试装置100’的初始设计。举例来说，电子装置于装设方向L的长度小于振动测试装置100’的原规划机台测试长度。因此，本实施例的振动测试装置100’还会包括二长度调节组件130，而图3A与图3B之导引组件120’于本文中视为一第二导引组件。详细地说，由于导引组件120’的设计长度是符合电子装置于装设方向L的长度，但小于振动测试装置100’的原规划机台测试长度，因此本实施例在针对电子装置进行振动测试时，本实施例的振动测试装置100’可以藉由将导引组件120’与长度调节组件130结合，来达到适当的设计长度，以有效且稳固地与测试平台110以及固定组件150等构件搭配，进而稳固地完成对图2所示的电子装置300进行振动测试。
[0034]此外，本实施例的振动测试装置100’还可以包括一散热模组170，其设置于测试平台110，用以产生散热气流沿装设方向L对电子装置进行散热。因此，即使电子装置在进行测试，振动测试装置100’仍可以提供良好的散热机制予电子装置，进而有效地模拟电子装置的实际振动状况。
[0035]在本实施例中，每一固定组件150包含一主固件152与一侧固件154。其中，主固件152的侧面具有至少一孔位152A，侧固件154则具有至少一固定孔154A，而本实施例藉由一锁固件180通过固定孔154A固设于孔位152A，以固设侧固件154于主固件152上。
[0036]另外，多个限位组件140/140’则是固设于主固件152与侧固件154之间。限位组件140’是沿装设方向L连接于所对应的导引组件120’。
[0037]承上所述，本实施例的长度调节组件130分别连接于所对应的导引组件120’的端部。详细地说，本实施例的导引组件120’具有第三端部122’以及第四端部124’，而本实施例的二长度调节组件130是连接于所对应的导引组件120’的第三端部122’。相对地，本实施例的限位组件140’则是沿装设方向L连接于所对应的导引组件120’的第四端部124’。换言之，在本实施例中，导引组件120 ’的第三端部122 ’是通过对应的长度调节组件130固定至对应的所述限位组件140，而导引组件120’的第四端部124’则是直接固定至对应的限位组件140’。如此一来，电子装置同样可以稳固地设置于振动测试装置100’上，以进行振动测试。
[0038]进一步地说，本实施例的每一个长度调节组件130具有至少一卡合孔132，而各导引组件120’则具有至少一第二卡合部126’，导引组件120’的第二卡合部126’是卡合于长度调节组件130的卡合孔132，以达到固定连结的作用。在图3A中，所绘示的导引组件120’于装设方向L的两端部设有第二卡合部126’，是分别卡合于所对应的所述长度调节组件130以及限位组件140’。
[0039]此外，由于本实施例是藉由将导引组件120’与长度调节组件130结合来稳固地将图2所示的电子装置固定于测试平台110进行振动测试。其中，长度调节组件130于所述装设方向L上的两侧即分别连接所对应的所述导引组件120’与所述限位组件140，且各长度调节组件130于装设方向L上的长度D为所对应的导引组件120’与限位组件140间的间距。
[0040]此外，为能上述各构件能稳固地装设于测试平台110，本实施例可于测试平台110设置多个定位孔112，而固定组件150可固定于所述定位孔112，且作为固定组件150、二导引组件120’、二长度调节组件130以及二限位组件140/140’于所述测试平台110的定位配置。
[0041]在较佳实施例中，导引组件120(第一导引组件)与导引组件120’(第二导引组件)可以视为同一构件，二者之间仅是长度上的差异，本发明在此并不作任何限制。
[0042]综上所述，根据本发明的技术方案，直接通过导引组件120(第一导引组件)或是通过导引组件120’(第二导引组件)以及长度调节组件的组合来固定电子装置进行振动测试。通过提供选择性的应用，让本发明的振动测试装置可以针对各种不同机型或是尺寸的电子装置进行振动测试，而无须重新制作另一套振动测试装置来符合新的振动测试需求。如此一来，即可适用以增加使用上的便利性，并节省制作成本。
[0043]以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。
【主权项】
1.一种振动测试装置，组装于一振动设备上，以对一电子装置进行振动测试，其特征在于，包括: 一测试平台，与所述振动设备连接； 二第一导引组件，设置于所述测试平台的二对应侧边，所述电子装置沿一装设方向被导引且夹置于所述二第一导引组件之间； 至少一固定组件，相对固定于所述测试平台，所述固定组件包含: 一主固件，其侧面具有至少一孔位； 一侧固件，具有至少一固定孔，藉由一锁固件通过所述固定孔固设于所述孔位，以固设侧固件于主固件上；以及 多个限位组件，固设于所述主固件与侧固件之间，沿所述装设方向连接于所对应的所述第一导引组件的一第一端部与一第二端部，将所述电子装置限制于所述测试平台上，而各所述第一导引组件固定至对应的所述限位组件。2.根据权利要求1所述的振动测试装置，其特征在于，各所述第一导引组件于所述装设方向的所述第一端部及所述第二端部设有至少一第一卡合部，所述限位组件具有至少一卡合槽，所述限位组件通过所述卡合槽固设所述第一卡合部而固定所述第一导引组件。3.根据权利要求1所述的振动测试装置，其特征在于，还包括: 二长度调节组件，分别连接于所对应的二第二导引组件的端部。4.根据权利要求3所述的振动测试装置，其特征在于，各所述第二导引组件具有第三端部以及第四端部，所述第三端部通过对应的所述长度调节组件固定至对应的所述限位组件，所述第四端部直接固定至对应的所述限位组件。5.根据权利要求3所述的振动测试装置，其特征在于，各所述长度调节组件具有至少一卡合孔，各所述第二导引组件具有至少一第二卡合部，所述第二导引组件通过所述第二卡合部卡合于所述长度调节组件的所述卡合孔固定所述长度调节组件。6.根据权利要求1所述的振动测试装置，其特征在于，各所述第一导引组件具有至少一第一夹置结构，用以导引并夹置设于所述二第一导引组件间的所述电子装置。7.根据权利要求3所述的振动测试装置，其特征在于，各所述第二导引组件具有至少一第二夹置结构，用以导引并夹置设于所述二第二导引组件间的所述电子装置。8.根据权利要求1所述的振动测试装置，其特征在于，还包括: 一支架，具有相连接的多个侧边架体，所述多个侧边架体用以固定在所述固定组件上缘，以吊装所述测试平台。9.根据权利要求2所述的振动测试装置，其特征在于，所述测试平台具有至少一定位孔，所述固定组件固定于所述定位孔，且作为所述固定组件、所述二第一导引组件、所述二长度调节组件以及所述二限位组件于所述测试平台的定位配置。10.根据权利要求1所述的振动测试装置，其特征在于，还包括: 一散热模组，设置于所述测试平台，产生散热气流沿所述装设方向对所述电子装置进行散热。
【文档编号】G01M7/02GK106052993SQ201610403184
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年6月8日
【发明人】潘涛
【申请人】英业达科技有限公司, 英业达股份有限公司