一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种用于测量通用滤波器的插入损耗的长度可连续变化的试验装置，用于无源EMC通用滤波器插入损耗的测试。
【背景技术】
[0002]无源EMC滤波器件抑制特性的测量方法的最新标准为GB/T 7343-201X《无源EMC滤波器件抑制特性的测量方法》(即将发布)及国际标准CISPR 17-2011《Methodsof measurement of the suppress1n characteristics of passive EMC filteringdevices)),无源EMC通用滤波器件插入损耗的测量方法参数按照第5章的要求进行测量，测量布置见图1，包括信号发生器1、测量接收机2、试验装置3及待测滤波器4。
[0003]按照标准的要求，无源EMC通用滤波器件测量插入损耗时，需要将其放置在试验装置中。标准GB/T 7343-201X及CISPR 17-2011的附录B中，有对该试验装置的规范要求。如下:对输入端和输出端没有屏蔽层和同轴端口的干扰抑制元件和滤波器，应将其放置在试验装置中进行测量，试验装置的尺寸(例如长度1，高度h和宽度w)取决于DUT。用非磁性金属做成的试验装置要有一个金属盖。试验装置各部件的电接触应可靠，各个部件应用焊接或连续缝焊的方式连接；盖子和壳体通过弹簧触点或螺栓连接，同轴端口安装在两个箱壁上。通用滤波器试验装置的典型设计见图2A及图2B。选择尺寸比DUT尺寸略大一点的箱子，推荐值是B = 5cm，C = 5cm，D = 5cm。
[0004]为每一个通用滤波器量身定制一个严格满足标准要求的试验装置是不现实的，所以有些企业已经设计出长度可调的试验装置。试验方法是，盒子的一个侧壁做成活动板，盒子内部每隔一定距离开一对槽。这样，在测量不同大小的滤波器时，可以将侧壁装入不同的槽来大概调节试验装置的大小。所以，这种试验装置能获得的几个试验装置的长度是固定的，不能做到长度的连续变化。
【发明内容】
[0005]本实用新型的目的是为无源EMC通用滤波器件测量提供一种长度连续可调的试验装置。
[0006]为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是提供了一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，包括带有盖子的本体，其特征在于:在本体的左右两端分别设有可脱离本体的屏蔽箱一及屏蔽箱二，屏蔽箱一与本体滑动配合使屏蔽箱一能够沿本体的长度方向位置连续可调，屏蔽箱二可拆卸地固定在本体的端壁上。
[0007]优选地，所述屏蔽箱一与所述本体相接触的两个面分别向外延伸形成延伸壁。
[0008]优选地，在所述延伸壁上加装有泡棉。
[0009]优选地，所述屏蔽箱二面向所述本体的端面上伸出有内部连接端子二，在所述本体的端壁上开有供内部连接端子二穿入的安装孔；所述屏蔽箱二背向所述本体的端面上伸出有外部连接端子二。
[0010]优选地，所述屏蔽箱一背向所述本体的端面上伸出有外部连接端子一；所述屏蔽箱一面向所述本体的端面上伸出有内部连接端子一。
[0011]优选地，所述本体的盖子与所述本体的壁之间加装簧片。
[0012]优选地，所述本体的内壁上有对称的刻度标识。
[0013]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:
[0014]1、本实用新型的试验装置长度连续可调，对于不同长度的滤波器可设定满足标准要求的试验装置长度；
[0015]2、本实用新型的可移动的屏蔽箱的延伸壁可保证试验装置本体的屏蔽性能；
[0016]3、本实用新型的试验装置两端的两个屏蔽箱的设计灵活，可测量能放入试验装置本体的滤波器，也可在屏蔽室中测量大尺寸的滤波器；
[0017]4、本实用新型的试验装置两端的两个屏蔽箱上的4个连接端子设计既可满足差模模式插入损耗的测量也可满足共模模式插入损耗的测量；
[0018]5、相对于为每一个长度不同的滤波器设计符合标准要求的试验装置的高昂成本，本实用新型在满足标准尺寸要求的基础上极大降低了试验成本。
【附图说明】
[0019]图1为滤波器插入损耗测量布置图；
[0020]图2A为标准要求的滤波器试验装置尺寸的正视图；
[0021]图2B为标准要求的滤波器试验装置尺寸的俯视图；
[0022]图3为滤波器试验装置示意图。
【具体实施方式】
[0023]为使本实用新型更明显易懂，兹以优选实施例，并配合附图作详细说明如下。
[0024]如图3所示，为用于测量通用滤波器的插入损耗的长度可连续变化的试验装置示意图，所述的长度可连续变化的试验装置，包括本体5，安装有4个内部连接端子一和两个外部连接端子一 13的左侧可移动的屏蔽箱一 6，安装有4个内部连接端子二 11和两个外部连接端子二的右侧可拆卸的屏蔽箱二 7。屏蔽箱一 6可在本体5中连续滑动，结合本体5中的刻度标识10来获得所需要的试验装置的长度。在本体5的端壁上开有供内部连接端子二 11穿入的安装孔12。屏蔽箱一 6与本体5相接触的两个面分别向外延伸形成延伸壁9，以保证本体5的屏蔽性能良好。在延伸壁9上加装有一定厚度的泡棉。本体5的盖子8与本体5的壁之间加装簧片。
[0025]屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7内部安装隔离变压器，变压器分别连接在屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4个内部连接端子一及4个内部连接端子二 11的其中下面的两个连接端子和屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的两个外部连接端子一 13及外部连接端子二的下面的那个连接端子上。
[0026]测量通用滤波器的共模模式的插入损耗时，滤波器连接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4个内部连接端子一及4个内部连接端子二 11的上面两个端子，信号发生器和接收机分别连接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的两个外部连接端子一 13及外部连接端子二的位于上面的端子。
[0027]测量通用滤波器的差模模式的插入损耗时，滤波器连接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4个内部连接端子一及4个内部连接端子二 11的下面两个端子，信号发生器和接收机分别连接屏蔽箱一 6和屏蔽箱二 7的4个内部连接端子一及4个内部连接端子二 11的位于下面的端子。
[0028]对于尺寸不适合放入该试验装置本体中进行测试的待测滤波器件，可将屏蔽箱一6和屏蔽箱二 7脱离试验装置本体5，与屏蔽室配合进行插入损耗的测量。
[0029]本实用新型的特点就在于既可以测量通用滤波器的共模模式的插入损耗又可以测量通用滤波器的差模模式的插入损耗；并且可以针对不同型号的通用滤波器均可提供尺寸基本满足标准要求的试验装置；本实用新型的另一个特点是，屏蔽箱6和屏蔽箱7安装灵活，可脱离试验装置本体单独使用。
【主权项】
1.一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，包括带有盖子(8)的本体(5)，其特征在于:在本体(5)的左右两端分别设有可脱离本体(5)的屏蔽箱一(6)及屏蔽箱二(7)，屏蔽箱一(6)与本体(5)滑动配合使屏蔽箱一(6)能够沿本体(5)的长度方向位置连续可调，屏蔽箱二(7)可拆卸地固定在本体(5)的端壁上。
2.如权利要求1所述的一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，其特征在于:所述屏蔽箱一(6)与所述本体(5)相接触的两个面分别向外延伸形成延伸壁(9)。
3.如权利要求2所述的一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，其特征在于:在所述延伸壁(9)上加装有泡棉。
4.如权利要求1所述的一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，其特征在于:所述屏蔽箱二⑵面向所述本体(5)的端面上伸出有内部连接端子二(11)，在所述本体(5)的端壁上开有供内部连接端子二(11)穿入的安装孔(12);所述屏蔽箱二(7)背向所述本体(5)的端面上伸出有外部连接端子二。
5.如权利要求1所述的一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，其特征在于:所述屏蔽箱一(6)背向所述本体(5)的端面上伸出有外部连接端子一(13);所述屏蔽箱一(6)面向所述本体(5)的端面上伸出有内部连接端子一。
6.如权利要求1所述的一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，其特征在于:所述本体(5)的盖子(8)与所述本体(5)的壁之间加装簧片。
7.如权利要求1所述的一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，其特征在于:所述本体(5)的内壁上有对称的刻度标识(10)。
【专利摘要】本实用新型提供了一种测量插入损耗特性的长度可连续变化的试验装置，包括带有盖子的本体，其特征在于：在本体的左右两端分别设有可拆卸的屏蔽箱一及屏蔽箱二，屏蔽箱一与本体滑动配合使屏蔽箱一能够沿本体的长度方向位置连续可调，屏蔽箱二可拆卸地固定在本体的端壁上。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型的试验装置长度连续可调，对于不同长度的滤波器可设定满足标准要求的试验装置长度。
【IPC分类】G01R27-26, G01R1-18
【公开号】CN204287329
【申请号】CN201420787418
【发明人】邓莉莉, 刘媛, 张望远
【申请人】上海电器科学研究所（集团）有限公司, 上海电器科学研究院
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年12月12日