利用x光检测平面玻璃内部缺陷的设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及检测设备技术领域，特别是一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备。
【背景技术】
[0002]玻璃内部NiS等镍化物的存在会导致玻璃在使用过程中出现一系列的问题，当把内部有NiS的玻璃加工成钢化玻璃时，由于异物在高温和常温状态下的收缩率等与玻璃不同，因此，玻璃在钢化后，异物的存在会破坏钢化玻璃的力学稳定性，容易造成钢化玻璃的自爆，为使用安全埋下了隐患。
[0003]因此，在玻璃生产后对玻璃及时进行检测，排除含有NiS异物的玻璃至关重要，但目前玻璃生产厂家一般都是采用人工目测的方法进行检测，这种检测效率低，劳动强度大。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型为了解决目前采用人工目测的方法对玻璃进行检查导致检测效率低、劳动强度大的问题而提供的一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备。
[0005]为达到上述功能，本实用新型提供的技术方案是:
[0006]一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备，包括机台，所述机台上设置有输送带，所述机台中部上方设置有X射线发射器，在所述X射线发射器的正下方设置有线性阵列探测器，所述线性阵列探测器固定安装在所述输送带的下方。
[0007]优选地，所述利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备还包括一屏蔽罩，所述X射线发射器和所述线性阵列探测器固定安装在所述屏蔽罩内。
[0008]优选地，所述屏蔽罩上开设有透明观测窗。
[0009]本实用新型的有益效果在于:一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备，包括机台，所述机台上设置有输送带，所述机台中部上方设置有X射线发射器，在所述X射线发射器的正下方设置有线性阵列探测器，所述线性阵列探测器固定安装在所述输送带的下方；通过设置X射线发射器和线性阵列探测器，玻璃通过X射线发射器的下方时，线性阵列探测器上会接受到信号，若玻璃内部有NiS异物则线性阵列探测器接收到的信号强度会有变化，从而能快速、高效地检测出含有NiS异物的玻璃。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构示意图；
[0011]图2为本实用新型的剖面图；
[0012]图3为本实用新型的原理示意图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图1至附图3对本实用新型作进一步阐述:
[0014]如图1和图2所示的一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备，包括机台1，机台I上设置有输送带2，机台I中部上方设置有X射线发射器3，在X射线发射器3的正下方设置有线性阵列探测器4，线性阵列探测器4固定安装在输送带2的下方。
[0015]为了方便防止X射线对周围的工作人员造成伤害，利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备还包括一屏蔽罩5，X射线发射器3和线性阵列探测器4固定安装在屏蔽罩5内。屏蔽罩5上开设有透明观测窗51，以方便工作人员对屏蔽罩5内部的工作情况进行观测。
[0016]本实用新型的工作原理如下:
[0017]使用时，操作人员先启动本实用新型，然后把待检测的玻璃放置到输送带2上，如图3所示，玻璃通过X射线发射器3的下方时，线性阵列探测器4上会接受到与辐射强度成正比的电信号，若玻璃内部有NiS等异物则线性阵列探测器4接收到的信号强度会有变化，线性阵列探测器4把该信号传送给后台处理器进行处理，处理器经过对比计算，若发现信号强度发生变化，特别是变弱时，则可以判定玻璃内部存在含有NiS等异物，为了提醒工作人员注意，处理器可以发出警示音等进行提示。同现有的人工目测的方法相比，本实用新型的检测速度快、效率高。
[0018]以上所述实施例，只是本实用新型的较佳实例，并非来限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本实用新型专利申请范围内。
【主权项】
1.一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备，包括机台(I)，所述机台(I)上设置有输送带(2)，其特征在于:所述机台(I)中部上方设置有X射线发射器(3)，在所述X射线发射器⑶的正下方设置有线性阵列探测器(4)，所述线性阵列探测器(4)固定安装在所述输送带⑵的下方。
2.如权利要求1所述的利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备，其特征在于:所述利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备还包括一屏蔽罩(5)，所述X射线发射器(3)和所述线性阵列探测器(4)固定安装在所述屏蔽罩(5)内。
3.如权利要求2所述的利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备，其特征在于:所述屏蔽罩(5)上开设有透明观测窗(51)。
【专利摘要】本实用新型涉及检测设备技术领域，特别是一种利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备；包括机台，所述机台上设置有输送带，所述机台中部上方设置有X射线发射器，在所述X射线发射器的正下方设置有线性阵列探测器，所述线性阵列探测器固定安装在所述输送带的下方；通过设置X射线发射器和线性阵列探测器，玻璃通过X射线发射器的下方时，线性阵列探测器上会接受到信号，若玻璃内部有NiS等异物则线性阵列探测器接收到的信号强度会有变化，从而能快速、高效地检测出含有NiS异物的玻璃。
【IPC分类】G01N23-02
【公开号】CN204346952
【申请号】CN201420866180
【发明人】樊晖
【申请人】东莞市松菱玻璃防爆技术有限公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2014年12月29日