一种pcb板电性测试治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种半导体器件的电性能测试设备，特别涉及一种PCB板电性测试治具。
【背景技术】
[0002]在印刷电路板的生产时，需要通过治具来测试其电性能，PCB板测试治具是一种以PCB板为模型而设计的、用于电性能通断测试的一种专用夹具，有单面治具、双面治具之分；随着电子行业的技术进步和大量的生产应用，测试治具也在不断地技术改进，例如为了为了更便于易于更换探针、弹簧且便于探针、弹簧重复使用，维修方便，易于更换探针、弹簧且便于探针、弹簧重复使用的效果，但仍存在一些不足:首先是随着技术的进步，PCB板上的针脚越来越密，因此探针也越来越细、越来越长，在待测试PCB板下压与探针头部接触时，探针易受力致损；其次是定期更换探针、弹簧的方式，会因为不同阶段所测试的PCB批量不同，一些尚具有较长使用寿命的探针、弹簧也会被弃用，形成一种浪费，不利于生产成本的降低；再次是在实际生产中，PCB板多为批量制造，故在测试时也是批量进行，检测需要装夹，耗时耗力。
【实用新型内容】
[0003]针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种PCB板电性测试治具。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:所述一种PCB板电性测试治具，该治具包括:底板、设置于所述底板上的立柱，所述立柱上自下而上依次设有基板、第一固定板、第二固定板、第一导向板，所述第一导向板上设有导柱，所述导柱自下而上依次设有弹簧基板、第二导向板、顶板，所述基板上设有贯穿所述第一固定板、第二固定板的低密针座和高密针座，所述低密针座内设有沿所述低密针座上下滑动的低密探针，所述低密探针自下而上依次贯穿第一导向板、弹簧基板、第二导向板、顶板，所述低密探针顶部露出所述顶板顶面，所述低密探针上套有主复位弹簧，所述主复位弹簧一端与弹簧基板连接，所述主复位弹簧另一端与所述低密探针连接，所述主复位弹簧对所述低密探针施有向上的弹力；所述高密针座内设有沿所述高密针座上下滑动的高密探针，所述高密探针倾斜设置，所述高密探针自下而上依次贯穿第一导向板、弹簧基板、第二导向板、顶板，所述高密探针顶部露出所述顶板顶面，所述高密探针和低密探针均电连接有检测线。
[0005]上述设计中利用理由低密针座和低密探针组合成检测设备，其维修方便，维修成本低，高密探针倾斜安装便于测试较高密度的触点，检测PCB板不需要装夹能够减少检测时间。
[0006]作为本设计的进一步改进，所述低密探针顶部为锥面。所述低密探针顶部的锥面便于对PCB定位。
[0007]作为本设计的进一步改进，所述主复位弹簧为宝塔形弹簧，使得低密探针运动稳定，防止低密探针受力不均。
[0008]作为本设计的进一步改进，所述高密针座内设有副复位弹簧，所述副复位弹簧顶部设有滑块，所述滑动块顶面与所述高密探针底部贴合。所述副复位弹簧设置在高密针座内，防止副复位弹簧相互干涉，所述滑块与所述高密探针顶面贴合，便于滑块与高密探针相互移动且电连接。
[0009]本实用新型的有益效果是:本实用新型利用理由低密针座和低密探针组合成检测设备，其维修方便，维修成本低，高密探针倾斜安装便于测试较高密度的触点，检测PCB板不需要装夹能够减少检测时间。
【附图说明】
[0010]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0011]图1是本实用新型的结构示意图。
[0012]在图中1.底板，2.检测线，3.基板，4.副复位弹簧，5.滑块，6.第一导向板，7.弹簧基板，8.第二导向板，9.顶板，10.PCB板，11.高密探针，12.低密探针，13.主复位弹簧，14.锥面，15.第二固定板，16.第一固定板，17.低密针座，18.立柱，19.导柱，20.高密针座。
【具体实施方式】
[0013]下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，其中的示意性实施例以及说明仅用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。
[0014]如图所示，所述一种PCB板10电性测试治具，该治具包括:底板1、设置于所述底板I上的立柱18，所述立柱18上自下而上依次设有基板3、第一固定板16、第二固定板15、第一导向板6，所述第一导向板6上设有导柱19，所述导柱19自下而上依次设有弹簧基板7、第二导向板8、顶板9，所述基板3上设有贯穿所述第一固定板16、第二固定板15的低密针座17和高密针座20，所述低密针座17内设有沿所述低密针座17上下滑动的低密探针12，所述低密探针12自下而上依次贯穿第一导向板6、弹簧基板7、第二导向板8、顶板9，所述低密探针12顶部露出所述顶板9顶面，所述低密探针12上套有主复位弹簧13，所述主复位弹簧13 —端与弹簧基板7连接，所述主复位弹簧13另一端与所述低密探针12连接，所述主复位弹簧13对所述低密探针12施有向上的弹力；所述高密针座20内设有沿所述高密针座20上下滑动的高密探针11，所述高密探针11倾斜设置，所述高密探针11自下而上依次贯穿第一导向板6、弹簧基板7、第二导向板8、顶板9，所述高密探针11顶部露出所述顶板9顶面，所述高密探针11和低密探针12均电连接有检测线2。
[0015]上述设计中利用理由低密针座17和低密探针12组合成检测设备，其维修方便，维修成本低，高密探针11倾斜安装便于测试较高密度的触点，检测PCB板10不需要装夹能够减少检测时间。
[0016]作为本设计的进一步改进，所述低密探针12顶部为锥面14。所述低密探针12顶部的锥面14便于对PCB定位。
[0017]作为本设计的进一步改进，所述主复位弹簧13为宝塔形弹簧，使得低密探针12运动稳定，防止低密探针12受力不均。
[0018]作为本设计的进一步改进，所述高密针座20内设有副复位弹簧4，所述副复位弹簧4顶部设有滑块5，所述滑动块顶面与所述高密探针11底部贴合。所述副复位弹簧4设置在高密针座20内，防止副复位弹簧4相互干涉，所述滑块5与所述高密探针11顶面贴合，便于滑块5与高密探针11相互移动且电连接。
[0019]以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种PCB板电性测试治具，其特征在于:该治具包括:底板、设置于所述底板上的立柱，所述立柱上自下而上依次设有基板、第一固定板、第二固定板、第一导向板，所述第一导向板上设有导柱，所述导柱自下而上依次设有弹簧基板、第二导向板、顶板，所述基板上设有贯穿所述第一固定板、第二固定板的低密针座和高密针座，所述低密针座内设有沿所述低密针座上下滑动的低密探针，所述低密探针自下而上依次贯穿第一导向板、弹簧基板、第二导向板、顶板，所述低密探针顶部露出所述顶板顶面，所述低密探针上套有主复位弹簧，所述主复位弹簧一端与弹簧基板连接，所述主复位弹簧另一端与所述低密探针连接，所述主复位弹簧对所述低密探针施有向上的弹力；所述高密针座内设有沿所述高密针座上下滑动的高密探针，所述高密探针倾斜设置，所述高密探针自下而上依次贯穿第一导向板、弹簧基板、第二导向板、顶板，所述高密探针顶部露出所述顶板顶面，所述高密探针和低密探针均电连接有检测线。
2.根据权利要求1所述的一种PCB板电性测试治具，其特征是，所述低密探针顶部为锥面。
3.根据权利要求1所述的一种PCB板电性测试治具，其特征是，所述主复位弹簧为宝塔形弹簧。
4.根据权利要求1所述的一种PCB板电性测试治具，其特征是，所述高密针座内设有副复位弹簧，所述副复位弹簧顶部设有滑块，所述滑动块顶面与所述高密探针底部贴合。
【专利摘要】本实用新型一种PCB板电性测试治具，包括：底板、立柱，立柱上自下而上依次设有基板、第一固定板、第二固定板、第一导向板，第一导向板上设有导柱，导柱自下而上依次设有弹簧基板、第二导向板、顶板，基板上设有低密针座和高密针座，低密针座内设有沿低密针座上下滑动的低密探针，低密探针上套有主复位弹簧，主复位弹簧一端与弹簧基板连接，主复位弹簧另一端与低密探针连接；高密针座内设有沿高密针座上下滑动的高密探针，高密探针倾斜设置，高密探针和低密探针均电连接有检测线。本实用新型利用理由低密针座和低密探针组合成检测设备，维修方便，维修成本低，高密探针倾斜安装便于测试较高密度触点，检测PCB板不需要装夹能够减少检测时间。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN204389642
【申请号】CN201520073628
【发明人】黄英海
【申请人】昆山广谦电子有限公司
【公开日】2015年6月10日
【申请日】2015年2月3日