一种v型带性能测试机的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种V型带性能测试机，具体地说就是一种通过测试V型带表面电阻来确定其静电性能的测试机。
【背景技术】
[0002]V型带传统的测试项目主要有拉伸性能测试、尺寸测试、老化试验、粘合强度测试、导静电性测试、阻燃抗静电性测试、覆盖层硬度、V带中心距变化量测试等，各项测试项目都制度了相关的国家标准，然而测试设备多种多样，特别是现有的V型带导静电性测试设备并没有统一标准，现有的V型带导静电性测试设备存在测试误差大、测试不方便、通用性差等缺点。
【发明内容】
[0003]本发明为了解决现有V型带导静电性测试设备存在的测试误差大、测试不方便、通用性差等不足，提供一种V型带性能测试机，该V型带性能测试机能够方便测量所有型号V型带的导静电性，且测量精度高。
[0004]本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:一种V型带性能测试机，包括底座1、立柱2、砝码支杆3、式样托架4、导轨底座5、滑座6、手柄7、调整轴8、卡爪9、电极10、电极固定销轴11、压杆12、砝码托架13、砝码14，底座I底部四角各设置一支脚，立柱2、砝码支杆3各有两根，两立柱2与两砝码支杆3都相对测试机中心面对称设置在底座I上；砝码支杆3可放置砝码14，砝码14为中心设置通孔的圆环状，砝码支杆3的外径与砝码14内径对应；两立柱2上各安装一式样托架4，两式样托架4的顶面共面；导轨底座5固定在式样托架4上；导轨底座5两侧各设置一滑座6，滑座6前后两端都安装有封盖15 ;调整轴8安装在滑座6后端封盖15中并穿过滑座6前端的封盖15，调整轴8的端部固定有手柄7 ;调整轴8上设置有旋向相反的两段外螺纹；卡爪9上设置有与调整轴8上的外螺纹对应的内螺纹，卡爪9安装在调整轴8上，每根调整轴8上安装两个卡爪9，卡爪9与滑座6贴合；电极10通过电极固定销轴11固定在卡爪9上；砝码托架13安装在立柱2上端；压杆12竖直安装在砝码托架13上，压杆12设置在电极10正上方，压杆12与砝码支杆3外径相同。
[0005]作为优化，所述的卡爪9下端安装有直线轴承16，与直线轴承16对应的直线导轨17安装在两封盖15上。
[0006]作为优化，所述调整轴8上两段外螺纹的螺距相同。
[0007]作为优化，所述的砝码托架13、式样托架4前端为一平板，后端为一圆筒，圆筒内径与立柱2外径对应，圆筒侧面设置一螺纹孔，螺纹孔连通圆筒内外，圆筒套入立柱2，圆筒侧面的螺纹孔中安装螺钉或顶丝。
[0008]作为优化，所述的卡爪9在与滑座6顶面接触位置的两侧各设置一台阶，滑座6截面为U形，U形内侧为卡爪9内侧面，卡爪9的台阶面与滑座6顶面、内侧面贴合。
[0009]本发明的有益效果是:与现有技术相比，本发明的一种V型带性能测试机通过旋转手柄能够调节卡爪之间的距离，能够方便测量所有型号V型带的导静电性，且测量精度尚O
【附图说明】
[0010]图1为本发明左视图。
[0011]图2为本发明正面视图。
[0012]图3为图2放大的剖视图。
[0013]图4为图1放大的剖视图。
[0014]图5为本发明另一种实施例正视图放大的的剖视图。
[0015]其中，I底座、2立柱、3砝码支杆、4式样托架、5导轨底座、6滑座、7手柄、8调整轴、9卡爪、10电极、11电极固定销轴、12压杆、13砝码托架、14砝码、15封盖、16直线轴承、17
直线导轨。
【具体实施方式】
[0016]如图1至图4所示，一种V型带性能测试机，包括底座1、立柱2、砝码支杆3、式样托架4、导轨底座5、滑座6、手柄7、调整轴8、卡爪9、电极10、电极固定销轴11、压杆12、砝码托架13、砝码14，底座I底部四角各设置一支脚，立柱2、砝码支杆3各有两根，两立柱2与两砝码支杆3都相对测试机中心面对称设置在底座I上；砝码支杆3可放置砝码14，砝码14为中心设置通孔的圆环状，砝码支杆3的外径与砝码14内径对应；两立柱2上各安装一式样托架4，两式样托架4的顶面共面；导轨底座5固定在式样托架4上；导轨底座5两侧各设置一滑座6，滑座6前后两端都安装有封盖15 ;调整轴8安装在滑座6后端封盖15中并穿过滑座6前端的封盖15，调整轴8的端部固定有手柄7 ;调整轴8上设置有旋向相反的两段外螺纹；卡爪9上设置有与调整轴8上的外螺纹对应的内螺纹，卡爪9安装在调整轴8上，每根调整轴8上安装两个卡爪9，卡爪9与滑座6贴合；电极10通过电极固定销轴11固定在卡爪9上；砝码托架13安装在立柱2上端；压杆12竖直安装在砝码托架13上，压杆12设置在电极10正上方，压杆12与砝码支杆3外径相同。调整轴8上两段外螺纹的螺距相同。砝码托架13、式样托架4前端为一平板，后端为一圆筒，圆筒内径与立柱2外径对应，圆筒侧面设置一螺纹孔，螺纹孔连通圆筒内外，圆筒套入立柱2，圆筒侧面的螺纹孔中安装螺钉或顶丝。卡爪9在与滑座6顶面接触位置的两侧各设置一台阶，滑座6截面为U形，U形内侧为卡爪9内侧面，卡爪9的台阶面与滑座6顶面、内侧面贴合。
[0017]如图5所示的另一个实施例中，卡爪9下端安装有直线轴承16，与直线轴承16对应的直线导轨17安装在两封盖15上。
[0018]使用时，通过调整手柄7调整卡爪9之间的距离，使其与所测量V型带的型号匹配；将V型带放置在电极10上，降下压杆12压紧V型带即完成V型带的固定；给电极10通电，即可测试V型带的导静电性。
[0019]上述【具体实施方式】仅是本发明的具体个案，本发明的专利保护范围包括但不限于上述【具体实施方式】的产品形态和式样，任何符合本发明权利要求书的一种V型带性能测试机且任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，皆应落入本发明的专利保护范围。
【主权项】
1.一种V型带性能测试机，其特征在于:包括底座(I)、立柱(2)、砝码支杆(3)、式样托架(4)、导轨底座(5)、滑座(6)、手柄(7)、调整轴(8)、卡爪(9)、电极(10)、电极固定销轴(11)、压杆(12)、砝码托架(13)、砝码(14)，底座(I)底部四角各设置一支脚，立柱(2)、砝码支杆(3)各有两根，两立柱(2)与两砝码支杆(3)都相对测试机中心面对称设置在底座(I)上；砝码支杆(3)可放置砝码(14)，砝码(14)为中心设置通孔的圆环状，砝码支杆(3)的外径与砝码(14)内径对应；两立柱(2)上各安装一式样托架(4)，两式样托架(4)的顶面共面；导轨底座(5)固定在式样托架(4)上；导轨底座(5)两侧各设置一滑座(6)，滑座(6)前后两端都安装有封盖(15);调整轴(8)安装在滑座(6)后端封盖(15)中并穿过滑座(6)前端的封盖(15)，调整轴(8)的端部固定有手柄(7);调整轴(8)上设置有旋向相反的两段外螺纹；卡爪(9)上设置有与调整轴(8)上的外螺纹对应的内螺纹，卡爪(9)安装在调整轴(8)上，每根调整轴(8)上安装两个卡爪(9)，卡爪(9)与滑座(6)贴合；电极(10)通过电极固定销轴(11)固定在卡爪(9 )上；砝码托架(13)安装在立柱(2 )上端；压杆(12)竖直安装在砝码托架(13)上，压杆(12)设置在电极(10)正上方，压杆(12)与砝码支杆(3)外径相同。2.根据权利要求1所述的一种V型带性能测试机，其特征在于:所述的卡爪(9)下端安装有直线轴承(16)，与直线轴承(16)对应的直线导轨(17)安装在两封盖(15)上。3.根据权利要求1所述的一种V型带性能测试机，其特征在于:所述的调整轴(8)上两段外螺纹的螺距相同。4.根据权利要求2所述的一种V型带性能测试机，其特征在于:所述的调整轴(8)上两段外螺纹的螺距相同。5.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的一种V型带性能测试机，其特征在于:所述的砝码托架(13)、式样托架(4)前端为一平板，后端为一圆筒，圆筒内径与立柱(2)外径对应，圆筒侧面设置一螺纹孔，螺纹孔连通圆筒内外，圆筒套入立柱(2)，圆筒侧面的螺纹孔中安装螺钉或顶丝。6.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的一种V型带性能测试机，其特征在于:所述的卡爪(9)在与滑座(6)顶面接触位置的两侧各设置一台阶，滑座(6)截面为U形，U形内侧为卡爪(9)内侧面，卡爪(9)的台阶面与滑座(6)顶面、内侧面贴合。7.根据权利要求5所述的一种V型带性能测试机，其特征在于:所述的卡爪(9)在与滑座(6)顶面接触位置的两侧各设置一台阶，滑座(6)截面为U形，U形内侧为卡爪(9)内侧面，卡爪(9)的台阶面与滑座(6)顶面、内侧面贴合。
【专利摘要】本实用新型公开了一种V型带性能测试机，包括底座、立柱、砝码支杆、式样托架、导轨底座、滑座、手柄、调整轴、卡爪、电极、电极固定销轴、压杆、砝码托架、砝码，立柱、砝码支杆各有两根；两立柱上各安装一式样托架；导轨底座固定在式样托架上；导轨底座两侧各设置一滑座，滑座前后两端都安装有封盖；调整轴安装在滑座后端封盖中并穿过滑座前端的封盖，调整轴的端部固定有手柄；调整轴上设置有旋向相反的两段外螺纹；卡爪安装在调整轴上；电极通过电极固定销轴固定在卡爪上；砝码托架安装在立柱上端；压杆竖直安装在砝码托架上。与现有技术相比，本实用新型通过旋转手柄能够调节卡爪之间的距离，能够方便测量所有型号V型带的导静电性，且测量精度高。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204740302
【申请号】CN201520296426
【发明人】郭仕令
【申请人】青岛双凌科技设备有限公司
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2015年5月9日