一种衰减器测试适配器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及通信产品测试工装领域，尤其是指一种衰减器测试适配器。
【背景技术】
[0002]微带衰减器为特殊封装的非同轴微波器件，无法直接与网络分析仪相连进行测试，需制作专用的测试适配器。传统测试方式根据被测器件输入、输出引脚的长短薄厚特制SMA转接头，固定在接地板上测试，不仅拆卸不便，且当被测器件输入、输出管脚长短薄厚略有偏差时，会造成接触不紧密而导致测试不准确，甚至无法测试。
[0003]因此，需求一种微带衰减器专用的测试适配器，使得被测器件形状略有偏差时，仍可以取得准确的测试结果。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型解决的技术问题是克服现有技术中微带衰减器测试不便，结果不准确等缺陷，提供一种结构简单，功能实用的衰减器测试适配器。
[0005]为克服上述技术问题，本实用新型提供一种衰减器测试适配器，包括测试板和封盖；所述封盖覆盖于所述测试板上，二者内部形成电磁屏蔽环境。
[0006]所述测试板包括测试板底座、第一器件固定槽、介质基板、微带线和SMA转接头；所述第一器件固定槽设置于所述测试板底座中央，其两侧分别设置有嵌入于测试板底座的2块介质基板；所述介质基板上涂刷有微带线，所述微带线自介质基板与第一器件固定槽接触一端起，至介质基板另一端止；2个所述SMA转接头分别设置于所述测试板底座两侧，分别与2条微带线端部焊接。
[0007]进一步，所述封盖的中央设置有与所述第一器件固定槽形状相同的第二器件固定槽；当测试板和封盖闭合时，第一器件固定槽和第二器件固定槽配合形成用于容纳待测器件的空间；
[0008]进一步，所述封盖上设置有弹簧压接装置；所述弹簧压接装置贯穿封盖；至少有I个弹簧压接装置位于所述第二器件固定槽处；所述弹簧压接装置在受到外力时，向下运动，在不受外力时，恢复初始位置。
[0009]可选的，所述测试板边角设置有至少2个封盖固定孔；所述封盖与所述测试板接合的一面、对应所述封盖固定孔的位置设置有固定销；测试板与封盖闭合时，所述固定销插入所述封盖固定孔，将封盖与测试板固定。
[0010]可选的，所述第一器件固定槽内设置有用于固定待测器件的器件固定孔。
[0011]综上所述，可以看出，本实用新型提供的一种衰减器测试适配器，不但能够适应外形有所偏差的衰减器，保证其输入输出端与微带线良好接触，还利用封闭的金属外壳构建了电磁屏蔽环境，保证了测试结果的准确。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型提供的一种衰减器测试适配器的实施例中测试板的立体示意图；
[0013]图2为本实用新型提供的一种衰减器测试适配器的实施例中封盖的底部示意图；
[0014]图3为本实用新型提供的一种衰减器测试适配器的实施例中封盖的顶部示意图。
【具体实施方式】
[0015]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。
[0016]以下为本实用新型的一个实施例。
[0017]图1为本实用新型提供的一种衰减器测试适配器的实施例中测试板的立体示意图。如图所示，本实施例包括测试板I和封盖2 ;所述封盖2覆盖于所述测试板I上，二者内部形成电磁屏蔽环境。
[0018]可选的，测试板底座11和封盖2均用铜制成，二者闭合时起到较好地电磁屏蔽效果O
[0019]所述测试板I包括测试板底座11、第一器件固定槽12、介质基板13、微带线14和SMA转接头15 ;所述第一器件固定槽12设置于所述测试板底座11中央，其两侧分别设置有嵌入于测试板底座11的2块介质基板13 ;所述介质基板13上涂刷有微带线14，所述微带线14自介质基板13与第一器件固定槽12接触一端起，至介质基板14另一端止；2个所述SMA转接头15分别设置于所述测试板底座11两侧，分别与2条微带线14端部焊接。
[0020]图2为本实用新型提供的一种衰减器测试适配器的实施例中封盖的底部示意图；图3为本实用新型提供的一种衰减器测试适配器的实施例中封盖的顶部示意图。如图所示，所述封盖2的中央设置有与所述第一器件固定槽12形状相同的第二器件固定槽21 ;当测试板I和封盖2闭合时，第一器件固定槽12和第二器件固定槽21配合形成用于容纳待测器件的空间。
[0021]进一步，所述封盖2上设置有弹簧压接装置23 ;所述弹簧压接装置23贯穿封盖2 ;至少有I个弹簧压接装置23位于所述第二器件固定槽21处；所述弹簧压接装置23在受到外力时，向下运动，在不受外力时，恢复初始位置。本实施例中，弹簧压接装置23共有4个，以图2为观察视角，其中2个上下对称分布，用于固定待测器件主体，另外2个左右对称分布，用于压接待测器件的输入输出端，使它们与微带线紧密贴合。
[0022]本实施例使用的弹簧压接装置包括外壳、内芯和弹簧，其中外壳为筒状，贯通地嵌装于封盖2上，内芯活动设置于外壳内，且内芯与外壳上分别设置有限位缘，弹簧设置于二者的限位缘之前。不受外力作用时，弹簧略微压缩，保持内芯与外壳的相对位置不变；当下压内芯，进行压接时，弹簧压缩；测试完毕，松开内芯时，内芯在弹簧的作用下恢复初始位置。
[0023]进一步，所述测试板I边角设置有至少2个封盖固定孔111 ;所述封盖2与所述测试板I接合的一面、对应所述封盖固定孔111的位置设置有固定销22 ;测试板I与封盖2闭合时，所述固定销22插入所述封盖固定孔111，将封盖2与测试板I固定。
[0024]可选的，所述第一器件固定槽12内设置有用于固定待测器件的器件固定孔121，可以与待测器件对应位置的凸起相配合，辅助固定。
[0025]本实施例提供的一种衰减器测试适配器在使用时，将待测器件放入第一器件固定槽内，然后将封盖盖好，通过手动下压弹簧压接装置，使得待测器件主体贴合于第一器件固定槽内、使得待测器件输入输出端紧密贴合于两微带线，同时测试板和封盖共同构成电磁屏蔽环境。此时对器件进行测试，可以避免接触不良或外部电磁环境干扰，从而得到准确的测试结果。
[0026]综上可见，本实用新型提供的一种衰减器测试适配器，不但能够适应外形有所偏差的衰减器，保证其输入输出端与微带线良好接触，还利用封闭的金属外壳构建了电磁屏蔽环境，保证了测试结果的准确。
[0027]所述领域的普通技术人员应当理解:以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种衰减器测试适配器，其特征在于，包括测试板⑴和封盖⑵；所述封盖⑵覆盖于所述测试板(I)上，二者内部形成电磁屏蔽环境； 所述测试板(I)包括测试板底座(11)、第一器件固定槽(12)、介质基板(13)、微带线(14)和SMA转接头(15);所述第一器件固定槽(12)设置于所述测试板底座(11)中央，其两侧分别设置有嵌入于测试板底座(11)的2块介质基板(13);所述介质基板(13)上涂刷有微带线(14)，所述微带线(14)自介质基板(13)与第一器件固定槽(12)接触一端起，至介质基板(14)另一端止；2个所述SMA转接头(15)分别设置于所述测试板底座(11)两侧，分别与2条微带线(14)端部焊接。2.根据权利要求1所述的一种衰减器测试适配器，其特征在于，所述封盖(2)的中央设置有与所述第一器件固定槽(12)形状相同的第二器件固定槽(21);当测试板(I)和封盖(2)闭合时，第一器件固定槽(12)和第二器件固定槽(21)配合形成用于容纳待测器件的空间；3.根据权利要求2所述的一种衰减器测试适配器，其特征在于，所述封盖(2)上设置有弹簧压接装置(23);所述弹簧压接装置(23)贯穿封盖(2);至少有I个弹簧压接装置(23)位于所述第二器件固定槽(21)处；所述弹簧压接装置(23)在受到外力时，向下运动，在不受外力时，恢复初始位置。4.根据权利要求1所述的一种衰减器测试适配器，其特征在于，所述测试板(I)边角设置有至少2个封盖固定孔(111);所述封盖(2)与所述测试板(I)接合的一面、对应所述封盖固定孔(111)的位置设置有固定销(22);测试板⑴与封盖⑵闭合时，所述固定销(22)插入所述封盖固定孔(111)，将封盖(2)与测试板⑴固定。5.根据权利要求1所述的一种衰减器测试适配器，其特征在于，所述第一器件固定槽(12)内设置有用于固定待测器件的器件固定孔(121)。
【专利摘要】本实用新型公开了一种衰减器测试适配器，包括测试板和封盖；所述封盖覆盖于所述测试板上，二者内部形成电磁屏蔽环境；测试板包括测试板底座、第一器件固定槽、介质基板、微带线和SMA转接头；第一器件固定槽设置于测试板底座中央，其两侧分别设置有嵌入于测试板底座的2块介质基板；介质基板上涂刷有微带线，微带线自介质基板与第一器件固定槽接触一端起，至介质基板另一端止；2个SMA转接头分别设置于测试板底座两侧，分别与2条微带线端部焊接。本实用新型提供的一种衰减器测试适配器，不但能够适应外形有所偏差的衰减器，保证其输入输出端与微带线良好接触，还利用封闭的金属外壳构建了电磁屏蔽环境，保证了测试结果的准确。
【IPC分类】G01R1/04, G01R31/00, G01R1/18
【公开号】CN204789641
【申请号】CN201520456915
【发明人】张一治, 任翔, 李静
【申请人】航天科工防御技术研究试验中心
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2015年6月29日