常用集成运算放大器芯片好坏测试器的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型归属于电子技术领域，是一种检测常用集成运算放大器芯片好坏的测 试器。
【背景技术】
[0002] 在电气设备、家电维修和实验室，经常需要检测集成运放芯片的好坏，目前对集成 运放好坏检测的方法比较多，比较简单的有用万用表来检测的方法；现有的集成运放检测 仪有用单片机及相关硬件电路来实现的；也有用示波器、万用表、信号发生器、直流稳压电 源、模拟电路实验箱（或面包板）来实现的。本集成运放测试器是在之前设计的光电耦合 器芯片检测器的基础上设计而成。
【发明内容】
[0003] 1、是一种测试常用晶体管互补输出型集成运放芯片的测试器。
[0004] 2、是一种测试常用晶体管集电极输出型集成运放芯片的测试器。
[0005] 要解决的技术问题：
[0006] 单纯的用万用表来检测的方法可对集成运放进行粗略检测，但取决于检测者的经 验，很容易出现误判，现有的检测仪所用的电气设备、元器件相对较多，方法、测试步骤相对 复杂。本实用新型作为另一种检测方法，采用较少的电气元件，将待测试的芯片插到测试座 上，通上电源，通过LED发光二极管显示测试结果。测试器价格低廉，检测步骤、方法简单， 准确有效，在维修方面具有显著的适用价值，能为一般的、大多数维修者所接受。
[0007] 技术方案：
[0008] 测试器包括电源指示电路、单相电源变压器、桥式整流、多谐振荡器、循环十进位 译码输出器、四运放电压比较器、精密基准电压稳压器、四运放输出显示电路、过载保护电 路。
[0009] LEDl为电源指示电路。
[0010] 单相电源变压器T接桥式整流电路VD4~VD7,经桥式整流电路VD4~VD7整流， 电容滤波，再经IC5稳压。
[0011] 芯片IC1和其外围电阻、电容、二极管元件构成多谐振荡器，向芯片IC2输出振荡方 波信号。
[0012] 开关K2置于I位和置于II位时，芯片IC2及其外围元件分别构成循环十进位2路 译码输出器和4路译码输出器，向ICx循环输出占空比稳定的方波信号。
[0013] ICx为14脚系列四运放IC插座，插待测的芯片，ICx和相关外部元件构成四运放 电压比较器，四运放输出端接由R7~RlO和LED2~LED5构成的输出显示电路。
[0014] 1(：3及外围电阻组成精密基准电压稳压器，接入4运放反向输入端。
[0015] ICjP外围元件构成测试器的过载保护。
[0016] 扩展板中IC12为14脚四运放LM339系列芯片测试插座，IC13为8脚双运放LM393 系列芯片测试插座，1(：13接IC 12。
[0017] IC12接驱动芯片IC 6, IC6接由R13~R16和LED6~LED9构成的显示电路。
[0018] 若测单或双运放将K2置于I位，也可在II位，四运放将K2置于II位，若置于I位， 只能测试IC内的2个运放。
[0019] 对常用晶体管互补输出型集成运放芯片的测试：
[0020] 测试器的单相电源变压器T接桥式整流，将单相交流电变成直流电，通过电容滤 波，稳压电路稳压后向检测器提供稳恒直流电。
[0021] 芯片IC1和其外围电阻、电容、二极管元件构成多谐振荡器，向芯片IC2输出振荡方 波信号。芯片1(：2及其外围元件构成循环十进位2路（开关K2置于I位）和4路（K2置 于II位）译码输出器，向ICx循环输出占空比稳定的方波信号，ICx为14脚系列四运放IC 插座，用于插待测的芯片。ICx和相关外部元件构成四运放电压比较器。IC3和外围元件组 成精密基准电压稳压器，接入4运放反向输入端。1(：4和外围元件构成测试器的过载保护。 四运放输出端接由R7~RlO和LED2~LED5构成的输出显示电路。若所测芯片功能正常， LED2~LED5将循环追逐闪亮（其中1个闪亮，另外3个熄灭，顺序循环……。）
[0022] 对常用晶体管集电极输出型集成运放芯片的测试：
[0023] 常用LM393和LM339等系列芯片其输出方式是晶体管集电极输出，与晶体管互补 输出型芯片不同，需采用扩展板（模块）方式，在扩展板上用14脚IC插座对应连接相关插 脚，用于测试LM339等系列芯片，8脚插座用于测试LM393等系列芯片。
[0024] 扩展板中IC12为14脚四运放LM339等系列芯片测试插座，IC13为8脚双运放 LM393等系列芯片测试插座。该扩展电路运放芯片测试原理也是按电压比较器工作原理进 行运放的测试。1(：13接IC 12, IC12接驱动芯片IC 6, IC6接由R13~R16和LED6~LED9构成 的显示电路。若所测LM324N芯片功能正常，LED6~LED9将循环追逐闪亮。
[0025] 有益效果：
[0026] 本实用新型作为另一种集成运放好坏检测方法，测试器采用较少的电气元件，通 过LED发光二极管显示测试结果，测试器价格低廉，检测步骤、方法简单，准确有效，在维修 方面具有显著的适用价值，能为一般的、大多数维修者所接受。
【附图说明】
[0027] 附图1为晶体管互补输出型运放测试电路原理图。
[0028] 附图2为集电极输出型运放扩展测试电路原理图。
【具体实施方式】
[0029] 图 1 中：
[0030] LEDl为电源指示电路。
[0031] 市电由T变压，经桥式整流电路VD4~VD7整流，电容滤波再经IC5稳压，向测试 器提供直流电。
[0032] IC1和其外围元件构成多谐振荡器，IC1③脚输出其振荡方波信号。
[0033] 1(：2及其外围元件构成循环十进制位译码输出器，由IC2输出端循环输出占空比稳 定的方波信号。
[0034] ICx为14脚系列四运放IC插座，图中所示示意图为接入LM324N芯片。ICx和相 关外部元件构成四
[0035] 运放电压比较器。
[0036] 1(：3及外围电阻组成精密基准电压稳压器，接入4运放反向输入端。
[0037] R7~RlO和LED2~LED5构成四运放输出显示电路。
[0038] 图 2 中：
[0039] 1(：12为14脚四运放LM339等系列芯片测试插座，IC13为8脚双运放LM393等系列 芯片测试插座。
[0040] 该扩展电路运放芯片测试原理也是按电压比较器工作原理进行运放的测试，对应 图1接入相关信号，在1(：12插座内插入完好LM339芯片，其①、②、?、?脚输出的方波信号 其高电平分别经C8、C7、C6、C5和R17、R18、R19、R20进入驱动芯片IC6,分别由?、?、?、Θ 脚输出，驱动由R13~R16和LED6~LED9构成的显示电路循环追逐瞬间闪亮。
[0041] 若测单或双运放将K2置于I位，也可在II位，四运放将K2置于II位，对应4个指 示灯将逐一循环追逐闪亮。若置于I位，只能测试IC内的2个运放，此时仅有2个灯循环 追逐闪亮。若测单运放对应的1个指示灯不闪亮（灭）或一直在亮，确定损坏。双运放和 四运放1个或几个不闪亮，1个或几个全亮，确定IC内1个或几个运放损坏。正常芯片逐一 顺序循环追逐闪亮，扩展测试器是逐一顺序循环追逐瞬间闪亮。另外，测试IC插入芯片后， Kl闭合，LEDl微亮或不亮，其它指示灯全灭，该芯片是为严重过流损坏。
【主权项】
1.是一种常用集成运算放大器芯片好坏测试器，其特征是： 测试器包括电源指示电路、单相电源变压器、桥式整流、多谐振荡器、循环十进位译码 输出器、四运放电压比较器、精密基准电压稳压器、四运放输出显示电路、过载保护电路； LEDl为电源指示电路； 单相电源变压器T接桥式整流电路VD4~VD7,经桥式整流电路VD4~VD7整流，电容 滤波，再经IC5稳压； 芯片IC1和其外围电阻、电容、二极管元件构成多谐振荡器，向芯片1(：2输出振荡方波信 号； 开关K2置于I位和置于II位时，芯片IC2及其外围元件分别构成循环十进位2路译码 输出器和4路译码输出器，向ICx循环输出占空比稳定的方波信号； ICx为14脚系列四运放IC插座，ICx和相关外部元件构成四运放电压比较器，四运放 输出端接由R7~RlO和LED2~LED5构成的输出显示电路； 1(：3及外围电阻组成精密基准电压稳压器，接入4运放反向输入端； 1(：4和外围元件构成测试器的过载保护； 扩展板中IC12为14脚四运放LM339系列芯片测试插座，IC13为8脚双运放LM393系 列芯片测试插座，1(：13接IC12; IC12接驱动芯片IC6, IC6接由R13~R16和LED6~LED9构成的显示电路； 若测单或双运放将K2置于I位，也可在II位，四运放将K2置于II位，若置于I位，只能 测试IC内的2个运放。
【专利摘要】一种常用集成运放芯片好坏测试器，用于测试常用晶体管互补输出型和集电极输出型集成运放芯片。它包括电源指示电路、单相电源变压器、桥式整流、多谐振荡器、循环十进位译码输出器、四运放电压比较器、精密基准电压稳压器、四运放输出显示电路、过载保护电路。测试器的多谐振荡器向循环十进位译码输出器输出振荡方波信号，循环十进位译码输出器向四运放电压比较器循环输出占空比稳定的方波信号，四运放电压比较器的比较输出送入LED输出显示电路，LED显示电路显示测试结果。该测试器价格低廉，电路简单，检测步骤、方法简易，准确有效，在电气设备、家电维修中具有显著的适用价值，能为一般的、大多数维修者所接受。
【IPC分类】G01R31/28
【公开号】CN204832442
【申请号】CN201520223382
【发明人】汪全美, 王文君
【申请人】云南国土资源职业学院
【公开日】2015年12月2日
【申请日】2015年4月14日