一种磁环测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及磁环测试领域，尤其涉及一种磁环测试装置。
【背景技术】
[0002]磁环作为电子镇流器的关键部件，对于电子镇流器的工作特性有很大影响，直接或间接的决定着电子镇流器的启动电压、振荡频率、输出功率等参数。由于磁环是非标准件，生产过程复杂，导致磁环参数离散性大，在电子镇流器的生产制造过程中，必须对磁环进行测试分档后方可使用。
[0003]磁环的单圈电感量作为磁环测试的一种手段，只要在磁环上实现源、负边两个回路，即可对磁环的电磁参数实现简单测量，所以该方法已经被普遍用于磁环测试。但是，现有的测试装置连接复杂，测量速度慢。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种磁环测试装置，其能够快速搭建磁环测试回路，且结构简单，所需材料也容易获得。
[0005]为了解决上述问题，本实用新型提供了一种磁环测试装置，包括:一导电手柄，所述导电手柄的一端通过一源边激励引线连接至一外部测试设备的激励源，另一端通过一副边测试引线连接至外部测试设备的测试端；一导电支架，所述导电支架的一端通过一源边激励引线及一副边测试引线分别连接至所述外部测试设备的激励源及所述外部测试设备的测试端；所述导电手柄可与所述导电支架的另一端搭接，使得所述源边激励引线、导电支架、导电手柄及所述外部测试设备的激励源形成一源边激励回路，所述副边测试引线、导电支架、导电手柄及外部测试设备的测试端形成一副边测试回路，所述导电支架可穿过待测试磁环，以使得源边激励回路及副边测试回路穿过所述待测试磁环；对所述源边激励回路施加一电流，则所述副边测试回路产生一感生电势，从而实现待测试磁环单圈电感量测试。
[0006]进一步，还包括一绝缘底座，用于固定所述导电支架。
[0007]进一步，所述导电支架为L型支架，所述L型支架的一条边穿过所述待测试磁环。
[0008]进一步，所述导电支架及导电手柄的材料为金属。
[0009]进一步，所述导电支架及导电手柄的材料为铜。
[0010]进一步，所述导电手柄为一直杆。
[0011]本实用新型的优点在于，所述磁环测量装置结构简单，所需材料也容易获得。便于快速搭建磁环测试回路。
【附图说明】
[0012]图1是本实用新型一种磁环测量装置的结构示意图；
[0013]图2是本实用新型一种磁环测量装置与待测试磁环的结构示意图；
[0014]图3是本实用新型一种磁环测量装置的导电手柄与导电支架搭接的结构示意图；
[0015]图4是导电手柄与导电支架搭接示意图；
[0016]图5是本实用新型一种磁环测量装置的原理图。
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图对本实用新型提供的一种磁环测量装置的【具体实施方式】做详细说明。
[0018]参见图1及图2，本实用新型一种磁环测试装置，包括一导电手柄I及一导电支架2。所述导电支架2及导电手柄I的材料可以选自金属，例如可以为铜。
[0019]所述导电手柄I的一端通过一源边激励引线3连接至外部测试设备的激励源(附图中未标示)，另一端通过一副边测试引线5连接至外部测试设备的测试端(附图中未标示)。所述外部测试设备为本领域公知的装置，在此不赘述。在本【具体实施方式】中，所述导电手柄I为一直杆，以便于与所述导电支架2搭接。
[0020]所述导电支架2固定在一绝缘底座7上。在本【具体实施方式】中，所述导电支架2为L型，其中短边与绝缘底座7固定连接，长边与绝缘底座7平行，所述导电支架2的长边可穿过待测试磁环8，即所述待测试磁环8可套入所述导电支架2的长边上，以使待测试磁环8与所述磁环测试装置实现连接。所述导电支架2的一端通过一源边激励引线4及一副边测试引线6分别连接至所述外部测试设备的激励源及所述外部测试设备的测试端。
[0021]在本实用新型中，所述源边激励引线及副边测试引线与导电手柄I及导电支架2的连接可通过本领域技术人员熟知的方式连接，本实用新型不进行限制。在附图中，仅采用缠绕的方式，示意性地表示出其连接关系。
[0022]参见图3及图4，所述导电手柄I可与所述导电支架2的另一端搭接，使得所述源边激励引线、导电支架2、导电手柄I及所述外部测试设备的激励源形成一源边激励回路，所述副边测试引线、导电支架2、导电手柄I及外部测试设备的测试端形成一副边测试回路。所述导电支架2穿过待测试磁环8，以使得源边激励回路及副边测试回路穿过所述待测试磁环8。
[0023]开启所述外部测试设备的激励源，则会在所述源边激励回路中形成激励电流，所述源边激励回路中有激励电流，则会使得副边测试回路中产生感生电势，从而测量设备可测量待测试磁，8单圈电感量。
[0024]通常，若要快速实现磁环单圈电感量测试，首先需要能够快速实现待测试磁环8的源、副回路的搭建。
[0025]参见图5，源边激励回路与副边测试回路通过A、B两点连接，测试磁环时A、B两点在待测试磁环8孔内连接导通，这样就在磁环上形成了源边激励回路和副边测试回路。此时，源边激励回路中如果电流变化，相应的副边测试回路会有感生电势产生，源边激励电压波形与副边测试电压波形如图5所示。
[0026]下面以一实施例说明本实用新型一种磁环测试装置的工作过程。
[0027]参见图2、图3及图5，一根源边激励引线和一根副边测试引线与铜棒导电支架2(即为图5中的A点)连接，另一根源边激励引线和另一根副边测试引线分别连接铜棒导电手柄I (即为图5中的B点)的两端，源边激励引线接到磁环测试设备的激励源，副边测试引线则连接至磁环测试设备的测试端。测试磁环时，将待测试磁环套8在L型铜棒导电支架2上。再将铜棒导电手柄I与L型铜棒导电支架2搭接，即可实现测试回路的搭建，在待测试磁环8上分别形成了源、副两个回路，即可进行测试。
[0028]以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种磁环测试装置，其特征在于，包括:一导电手柄，所述导电手柄的一端通过一源边激励引线连接至外部测试设备的激励源，另一端通过一副边测试引线连接至外部测试设备的测试端；一导电支架，所述导电支架的一端通过一源边激励引线及一副边测试引线分别连接至所述外部测试设备的激励源及所述外部测试设备的测试端；所述导电手柄可与所述导电支架的另一端搭接，使得所述源边激励引线、导电支架、导电手柄及所述外部测试设备的激励源形成一源边激励回路，所述副边测试引线、导电支架、导电手柄及外部测试设备的测试端形成一副边测试回路，所述导电支架可穿过待测试磁环，以使得源边激励回路及副边测试回路穿过所述待测试磁环；对所述源边激励回路施加一电流，则所述副边测试回路产生一感生电势，从而实现待测试磁环单圈电感量测试。2.根据权利要求1所述的磁环测试装置，其特征在于，还包括一绝缘底座，用于固定所述导电支架。3.根据权利要求1所述的磁环测试装置，其特征在于，所述导电支架为L型支架，所述L型支架的一条边穿过所述待测试磁环。4.根据权利要求1所述的磁环测试装置，其特征在于，所述导电支架及导电手柄的材料为金属。5.根据权利要求4所述的磁环测试装置，其特征在于，所述导电支架及导电手柄的材料为铜。6.根据权利要求1所述的磁环测试装置，其特征在于，所述导电手柄为一直杆。
【专利摘要】本实用新型提供一种磁环测试装置，装置包括导电手柄，导电手柄的一端通过源边激励引线连接至外部测试设备的激励源，另一端通过副边测试引线连接至外部测试设备的测试端；导电支架，导电支架的一端通过源边激励引线及副边测试引线分别连接至外部测试设备的激励源及外部测试设备的测试端；导电手柄可与导电支架的另一端搭接，使得源边激励引线、导电支架、导电手柄及激励源形成一源边激励回路，副边测试引线、导电支架、导电手柄及测试端形成一副边测试回路，导电支架可穿过待测试磁环，以使得源边激励回路及副边测试回路穿过待测试磁环；对源边激励回路施加一电流，则副边测试回路产生一感生电势，实现待测试磁环单圈电感量测试。
【IPC分类】G01R33/12
【公开号】CN204832478
【申请号】CN201520547258
【发明人】高强, 杨伟权
【申请人】上海光溢照明电器有限公司
【公开日】2015年12月2日
【申请日】2015年7月24日