分立器件老化测试用工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种工装，具体涉及一种分立器件老化测试用工装。
【背景技术】
[0002]现有的分立器件在出厂之前需要对其做老化测试，已有技术中是将分立器件的管脚通过电缆同轴线与测试机电连接的，而分离器件的管脚与电缆同轴线的一端是通过焊接连接的，这样，每次对工件进行老化测试时，不仅不方便，而且测试效率低，以及误测率较尚O
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是:提供一种不仅便于进行老化测试，而且测试效率高，以及降低误测率的分立器件老化测试用工装，以克服现有技术的不足。
[0004]为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是:一种分立器件老化测试用工装，
[0005]a、包括底座和盖体，所述盖体盖合在底座上；
[0006]b、所述底座内腔的底部设有第一下导电片、第二下导电片和工件凹槽；所述底座上还设有第一插针槽和第二插针槽，且第一插针槽和第二插针槽内分别插有第一导电插针和第二导电插针；
[0007]所述第一下导电片有2个，且分别设在工件凹槽的两侧，第一下导电片与第一导电插针的一端固定连接，且第一导电插针的另一端伸出第一插针槽外；所述第一下导电片的外侧布置有第二导电片，第二下导电片与第二导电插针的一端固定连接，且第二导电插针的另一端伸出第二插针槽外；
[0008]C、所述盖体设有开槽，而盖体的内壁上分别设有两个上导电片，且两个上导电片分别位于开槽的两侧，所述工件凹槽与开槽相对应，盖体盖合在底座上后，两个上导电片分别与对应的第二下导电片相抵接；
[0009]d、所述底座的两外侧端部分别固定有夹持板，且夹持板的底端与底座扣接，而其上端通过其所设的卡槽与盖体扣合，从而令底座与盖体扣合接成工艺整体。
[0010]在上述技术方案中，所述夹持板上设有开盖把手。
[0011]在上述技术方案中，所述夹持板与底座的扣接，是通过其一端所设的卡勾与底座所设的卡勾槽扣接的。
[0012]在上述技术方案中，在所述夹持板是I个的条件下，所述盖体的一侧通过铰支轴铰接在底座上。
[0013]本实用新型所具有的积极效果是:采用本实用新型的工装后，测试时，将本实用新型的导电插针插装在线路板的接口上，同轴线的一端与线路板上的接口电连接，另一端与测试机电连接，然后将待测的分立器件放置在工件凹槽内，且分立器件引脚的背面与第一下导电片相抵接，所述盖体盖合在底座上后，两个上导电片的一端分别与相应的第二下导电片相抵，另一端与分立器件引脚的表面相抵接，这样就形成四线测试法，也称之为开尔文测试法，然后即可实施工件的老化测试；又由于所述底座的两外侧端部分别固定有夹持板，且夹持板的底端与底座扣接，而其上端通过其所设的卡槽与盖体扣合，从而令底座与盖体扣合接成工艺整体，这样，可以有效防止本实用新型因磨损导致盖体松动甚至是脱落的现象，本实用新型不必像已有技术中将工件与电缆同轴线焊接连接，使得方便对工件进行老化测试，而且测试效率高，以及降低误测率，实现了本实用新型的目的。
【附图说明】
[0014]图1是本实用新型一种【具体实施方式】的结构示意图。
【具体实施方式】
[0015]以下结合附图以及给出的实施例，对本实用新型作进一步的说明，但并不局限于此。
[0016]如图1所示，一种分立器件老化测试用工装，
[0017]a、包括底座I和盖体2，所述盖体2盖合在底座I上；
[0018]b、所述底座I内腔的底部设有第一下导电片1-1、第二下导电片1-2和工件凹槽1-5 ;所述底座I上还设有第一插针槽1-6和第二插针槽1-7，且第一插针槽1-6和第二插针槽1-7内分别插有第一导电插针1-3和第二导电插针1-4 ;
[0019]所述第一下导电片1-1有2个，且分别设在工件凹槽1-5的两侧，第一下导电片1-1与第一导电插针1-3的一端固定连接，且第一导电插针1-3的另一端伸出第一插针槽1-6外；所述第一下导电片1-1的外侧布置有第二导电片1-2，第二下导电片1-2与第二导电插针1-4的一端固定连接，且第二导电插针1-4的另一端伸出第二插针槽1-7外；
[0020]C、所述盖体2设有开槽2-1，而盖体2的内壁上分别设有两个上导电片2-2，且两个上导电片2-2分别位于开槽2-1的两侧，所述工件凹槽1-5与开槽2-1相对应，盖体2盖合在底座I上后，两个上导电片2-2分别与对应的第二下导电片1-2相抵接；
[0021]d、所述底座I的两外侧端部分别固定有夹持板3，且夹持板3的底端与底座I扣接，而其上端通过其所设的卡槽3-3与盖体2扣合，从而令底座I与盖体2扣合接成工艺整体。
[0022]如图1所示，为了方便打开，所述夹持板3上设有开盖把手3-1。
[0023]如图1所示，为了方便扣接，所述夹持板3与底座I的扣接，是通过其一端所设的卡勾3-2与底座I所设的卡勾槽1-8扣接的。
[0024]如图1所示，为了方便盖合，在所述夹持板3是I个的条件下，所述盖体2的一侧通过铰支轴4铰接在底座I上。
[0025]本实用新型测试时，将本实用新型的第一导电插针1-3和第二导电插针1-4分别插装在线路板的接口上，同轴线的一端与线路板的接口电连接，另一端与测试机电连接，然后将待测的分立器件5放置在工件凹槽1-5内，分立器件5的引脚的背面与第一下导电片1-1相抵接，所述盖体2盖合在底座I上后，两个上导电片2-2的一端分别与相应的第二下导电片1-2相抵，另一端与分立器件5的引脚的表面相抵接，这样就形成四线测试法，也称之为开尔文测试法，然后即可实施工件的老化测试；又由于所述底座I的两外侧端部分别固定有夹持板3，且夹持板3的底端与底座I扣接，而其上端通过其所设的卡槽3-3与盖体2扣合，从而令底座I与盖体2扣合接成工艺整体，这样，可以有效防止本实用新型因磨损导致盖体松动甚至是脱落的现象，本实用新型不必像已有技术中将工件与电缆同轴线焊接连接，使得方便对工件进行老化测试，而且测试效率高，以及降低误测率。
[0026]本实用新型小试结果显示，其效果是十分满意的。
【主权项】
1.一种分立器件老化测试用工装，其特征在于: a、包括底座(I)和盖体(2)，所述盖体(2 )盖合在底座(I)上； b、所述底座(I)内腔的底部设有第一下导电片(1-1)、第二下导电片(1-2)和工件凹槽(1-5 );所述底座(I)上还设有第一插针槽(1-6 )和第二插针槽(1-7 )，且第一插针槽(1-6 )和第二插针槽(1-7)内分别插有第一导电插针(1-3)和第二导电插针(1-4)； 所述第一下导电片(1-1)有2个，且分别设在工件凹槽(1-5)的两侧，第一下导电片(1-1)与第一导电插针(1-3)的一端固定连接，且第一导电插针(1-3)的另一端伸出第一插针槽(1-6)外；所述第一下导电片(1-1)的外侧布置有第二导电片(1-2)，第二下导电片(1-2)与第二导电插针(1-4)的一端固定连接，且第二导电插针(1-4)的另一端伸出第二插针槽(1-7)外； c、所述盖体(2)设有开槽(2-1)，而盖体(2 )的内壁上分别设有两个上导电片(2-2 )，且两个上导电片(2-2)分别位于开槽(2-1)的两侧，所述工件凹槽(1-5)与开槽(2-1)相对应，盖体(2 )盖合在底座(I)上后，两个上导电片(2-2 )分别与对应的第二下导电片(1-2 )相抵接; d、所述底座(I)的两外侧端部分别固定有夹持板(3)，且夹持板(3)的底端与底座(I)扣接，而其上端通过其所设的卡槽(3-3)与盖体(2)扣合，从而令底座(I)与盖体(2)扣合接成工艺整体。2.根据权利要求1所述的分立器件老化测试用工装，其特征在于:所述夹持板(3)上设有开盖把手(3-1)。3.根据权利要求1所述的分立器件老化测试用工装，其特征在于:所述夹持板(3)与底座(I)的扣接，是通过其一端所设的卡勾(3-2)与底座(I)所设的卡勾槽(1-8)扣接的。4.根据权利要求1所述的分立器件老化测试用工装，其特征在于:在所述夹持板(3)是I个的条件下，所述盖体(2)的一侧通过铰支轴(4)铰接在底座(I)上。
【专利摘要】本实用新型涉及一种分立器件老化测试用工装，包括底座和盖体，所述底座内腔的底部设有第一、二下导电片和工件凹槽；第一、二导电插针分别插在底座相应的插针槽内；第一下导电片有2个，且分别设在工件凹槽的两侧，第一、二下导电片分别与导电插针的一端固定连接，导电插针的另一端伸出插针槽外；所述内壁上分别设有两个上导电片，且两个上导电片分别位于开槽的两侧，盖体盖合在底座上后，两个上导电片分别与对应的第二下导电片相抵接；底座的两外侧端部分别固定有夹持板，且夹持板的底端与底座扣接，而其上端通过其所设的卡槽与盖体扣合，从而令底座与盖体扣合接成工艺整体。本实用新型不仅便于进行老化测试，而且测试效率高，以及降低误测率。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN204855671
【申请号】CN201520563239
【发明人】梁维群
【申请人】常州银河世纪微电子有限公司
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2015年7月30日