多参数综合测试控制装置及其系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子元件、电器产品参数测试领域技术，尤其是指一种多参数综合测试控制装置及其系统。
【背景技术】
[0002]目前，对电子元件、电器产品等各种参数的测试通常需要采用多种不同仪器来分别进行测试，等待一种测试完全后再由其它测试仪器进行另一测试项目，其测试过程较为麻烦，测试效率较低，而且，测试结果不便于反馈汇总分析，因此，其测试成本较高；以及，现有技术中的测试控制箱内电气元件的设置不够合理，往往在使用一段时间后导致电气元件工作性能出现偏差，影响了测试控制箱的稳定性，影响了测试命令的执行及测试结果的反馈。
[0003]因此，需要研究出一种新的技术方案来解决上述问题。
【实用新型内容】
[0004]有鉴于此，本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种多参数综合测试控制装置及其系统，其通过一台控制装置即可控制完成多参数综合测试，提高了测试效率，而且，其系统可靠性高，保证了测试持续稳定。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案:
[0006]—种多参数综合测试控制装置，包括有箱体和设置于箱体内的主板、散热板，该主板设置于散热板上;该主板上开设有若干固定卡插槽，该固定卡插槽内分别插设有相应的电源控制卡、译码卡、旗标控制卡、数据总线控制卡、密码卡、矢量电压卡、第一治具卡、第二治具卡及若干周边应用卡；该主板上还设置有一主板功能诊断接口和若干扩充卡插槽，其中至少一扩充卡插槽内插设有GPIB卡，以及，该箱体表面设置有通信接口、电源接口及显示屏。
[0007]作为一种优选方案，所述箱体内横设有一散热板，该散热板端部连接于箱体的体壁;该散热板具有顶面和底面，前述主板贴设于散热板顶面，该散热板底面间距式设置有若干散热鳍片。
[0008]作为一种优选方案，所述箱体包括有主箱体和右侧盖板，其主箱体具有前板、后板、顶板、底板及左侧板，其顶板、底板、前板及后板围构形成有右侧开口；该顶板上设置有提手，前述散热板连接于左侧板、前侧板及后侧板之间，所述左侧板、右侧板及后板上均开设有散热孔;该右侧盖板可单边旋转开合式组装于主箱体右侧开口处。
[0009]作为一种优选方案，对应所述散热孔处设置有防尘网。
[0010]作为一种优选方案，所述箱体内还设置有防雷电漏电保护模块。
[0011]—种多参数综合测试控制系统，包括有前述的多参数综合测试控制装置，还包括有计算机及若干不同的GPIB测试设备，该计算机经GPIB线通信连接于前述多参数综合测试控制装置，该多参数综合测试控制装置则控制连接于若干不同的GPIB测试设备，以及，GPIB测试设备的测试结果数据经多参数综合测试控制装置反馈至计算机。
[0012]本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知，其主要是通过一台控制装置即可控制完成多参数综合测试，提高了测试效率，测试时，根据所需测试的产品的规格要求，设计出相应的测试方案，明确选择相应所需应用的测试设备，计算机通过测试控制装置来控制不同GPIB测试设备进行测试，其测试结果经测试控制装置反馈至计算机内进行分析处理，其测试操作简捷方便，实用性强，而且，本实用新型中通过对测试控制装置的特殊结构设计，确保了其工作性能稳定，大大提高了该测试系统的可靠性，保证了测试持续稳定。
[0013]为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。
【附图说明】
[0014]图1是本实施例中多参数综合测试控制装置内部大致结构示图；
[0015]图2是本实施例中多参数综合测试控制装置的立体结构示图；
[0016]图3是本实施例中多参数综合测试控制系统的通信连接示意图。
[0017]附图标识说明:
[0018]1、计算机2、多参数综合测试控制装置
[0019]3、GPIB测试设备201、主板
[0020]202、箱体203、散热板[0021 ] 204、提手 205、右侧盖板
[0022]206、散热孔207、防尘网
[0023]208、主板功能诊断接口 209、扩充卡插槽
[0024]21、电源控制卡22、译码卡
[0025]23、旗标控制卡24、数据总线控制卡
[0026]25、密码卡26、矢量电压卡
[0027]27、第一治具卡28、第二治具卡
[0028]29、周边应用卡。
【具体实施方式】
[0029]请参照图1至图3所示，其显示出了本实用新型之实施例的具体结构，该多参数综合测试控制系统包括有计算机1、多参数综合测试控制装置2及若干不同的GPIB测试设备3。
[0030]该计算机I经GPIB线通信连接于前述多参数综合测试控制装置2，该多参数综合测试控制装置2则控制连接于若干不同的GPIB测试设备3，以及，GPIB测试设备3的测试结果数据经多参数综合测试控制装置2反馈至计算机I;如此，能够根据所需测试的产品的规格要求，设计出相应的测试方案，明确选择相应所需应用的测试设备，计算机I通过多参数综合测试控制装置2来控制不同GPIB测试设备3进行测试，其测试结果经多参数综合测试控制装置2反馈至计算机I内进行分析处理，其测试操作简捷方便，有效降低了操作失误率，实用性强，
[0031]其中，该多参数综合测试控制装置2包括有箱体202和设置于箱体202内的主板201、散热板203，该主板201设置于散热板203上;该主板201上开设有若干固定卡插槽，该固定卡插槽内分别插设有相应的电源控制卡21、译码卡22、旗标控制卡23、数据总线控制卡24、密码卡25、矢量电压卡26、第一治具卡27、第二治具卡28及若干周边应用卡29;该主板201上还设置有一主板功能诊断接口 208和若干扩充卡插槽209，其中至少一扩充卡插槽内插设有GPIB卡，以及，该箱体202表面设置有通信接口、电源接口及显示屏。
[0032]于本实施例中，所述箱体202内横设有前述散热板203，该散热板203端部连接于箱体202的体壁;该散热板203具有顶面和底面，前述主板201贴设于散热板203顶面，该散热板203底面间距式设置有若干散热鳍片;所述箱体202包括有主箱体和右侧盖板205，其主箱体具有前板、后板、顶板、底板及左侧板，其顶板、底板、前板及后板围构形成有右侧开口；该顶板上设置有提手204，前述散热板连接于左侧板、前侧板及后侧板之间，所述左侧板、右侧板及后板上均开设有散热孔206，以及，对应所述散热孔206处设置有防尘网207;该右侧盖板205可单边旋转开合式组装于主箱体右侧开口处；以及，所述箱体202内还设置有防雷电漏电保护模块。
[0033]综上所述，本实施例中，通过一台控制装置即可控制完成多参数综合测试，提高了测试效率，测试时，根据所需测试的产品的规格要求，设计出相应的测试方案，明确选择相应所需应用的测试设备，计算机通过测试控制装置来控制不同GPIB测试设备进行测试，其测试结果经测试控制装置反馈至计算机内进行分析处理，其测试操作简捷方便，有效降低了操作失误率，实用性强，而且，本实用新型中通过对测试控制装置的特殊结构设计，确保了其工作性能稳定，大大提高了该测试系统的可靠性，保证了测试持续稳定，同时，有利于延长测试系统的使用寿命，降低测试成本。
[0034]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【主权项】
1.一种多参数综合测试控制装置，其特征在于:包括有箱体和设置于箱体内的主板、散热板，该主板设置于散热板上;该主板上开设有若干固定卡插槽，该固定卡插槽内分别插设有相应的电源控制卡、译码卡、旗标控制卡、数据总线控制卡、密码卡、矢量电压卡、第一治具卡、第二治具卡及若干周边应用卡；该主板上还设置有一主板功能诊断接口和若干扩充卡插槽，其中至少一扩充卡插槽内插设有GPIB卡，以及，该箱体表面设置有通信接口、电源接口及显示屏。2.根据权利要求1所述的多参数综合测试控制装置，其特征在于:所述箱体内横设有一散热板，该散热板端部连接于箱体的体壁;该散热板具有顶面和底面，前述主板贴设于散热板顶面，该散热板底面间距式设置有若干散热鳍片。3.根据权利要求2所述的多参数综合测试控制装置，其特征在于:所述箱体包括有主箱体和右侧盖板，其主箱体具有前板、后板、顶板、底板及左侧板，其顶板、底板、前板及后板围构形成有右侧开口 ；该顶板上设置有提手，前述散热板连接于左侧板、前侧板及后侧板之间，所述左侧板、右侧板及后板上均开设有散热孔;该右侧盖板可单边旋转开合式组装于主箱体右侧开口处。4.根据权利要求3所述的多参数综合测试控制装置，其特征在于:所述对应散热孔处设置有防尘网。5.根据权利要求3所述的多参数综合测试控制装置，其特征在于:所述箱体内还设置有防雷电漏电保护模块。6.—种多参数综合测试控制系统，其特征在于:包括有如权利要求1至5中任何一项所述的多参数综合测试控制装置，还包括有计算机及若干不同的GPIB测试设备，该计算机经GPIB线通信连接于前述多参数综合测试控制装置，该多参数综合测试控制装置则控制连接于若干不同的GPIB测试设备，以及，GPIB测试设备的测试结果数据经多参数综合测试控制装置反馈至计算机。
【专利摘要】本实用新型公开一种多参数综合测试控制装置及其系统，包括多参数综合测试控制装置、计算机及若干不同的GPIB测试设备；该多参数综合测试控制装置包括有箱体和设置于箱体内的主板、散热板，该主板设置于散热板上；该主板上开设若干固定卡插槽，该固定卡插槽内分别插设相应的电源控制卡、译码卡、旗标控制卡、数据总线控制卡、密码卡、矢量电压卡、第一治具卡、第二治具卡及若干周边应用卡；该主板上还设置有一主板功能诊断接口和若干扩充卡插槽，至少一扩充卡插槽内插设有GPIB卡，以及，该箱体表面设置有通信接口、电源接口及显示屏；藉此，通过一台控制装置即可控制完成多参数综合测试，提高了测试效率，而且，其系统可靠性高，保证了测试持续稳定。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN205210207
【申请号】CN201520964495
【发明人】周怡歆
【申请人】昆山耀翊电子有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年11月26日