一种电源转接线检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电源转接线，具体涉及一种电源转接线检测装置，属于电子设备技术领域。
【背景技术】
[0002]长虹板测试是手插测试，12V电源经常损坏。手插时，12v电源损坏容易出现误测，软件丢失等不良现象，影响效率及品质。目前，12V电源损坏时不易发现，手插测试时不通电，拿万用表测试12v电源处理，造成手插测试慢，误测率高，板卡开机中造成软件丢失，对此，为及时判断12V电源是否损坏，快速修理，急需设计一种电源转接线检测装置，可以在电源线输入前端安装LED灯，来判断电源线是否损坏，为此，我们提出一种电源转接线检测装置。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种电源转接线检测装置，导线内电流流过电阻和发光二极管，根据发光二极管是否亮起，可以有效解决【背景技术】中的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案:
[0005]本实用新型提供一种电源转接线检测装置，包括电源DC母座、导线、电源DC公座、发光二极管和电阻，所述电源DC母座一侧电性连接导线，所述导线另一侧电性连接电源DC公座，所述电源DC公座一侧设有发光二极管，所述发光二极管电性连接电阻，所述电阻电性连接导线。
[0006]作为本实用新型的一种优选技术方案，所述电阻与发光二极管串联。
[0007]作为本实用新型的一种优选技术方案，所述电阻大小为1000欧姆。
[0008]本实用新型所达到的有益效果是:一种电源转接线检测装置，导线内电流流过电阻和发光二极管，根据发光二极管是否亮起，来判断12V电源线是否损坏，使用新技术后，在电源线公座加灯，可以提高判断，使误测，软件丢失等不良率降低98%。
【附图说明】
[0009]附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。
[0010]在附图中:
[0011]图1是本实用新型实施例所述的一种电源转接线检测装置整体结构示意图；
[0012]图中标号:1、电源DC母座;2、导线;3、电源DC公座;4、发光二极管;5、电阻。
【具体实施方式】
[0013]以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0014]实施例:请参阅图1，本实用新型一种电源转接线检测装置，包括电源DC母座1、导线2、电源DC公座3、发光二极管4和电阻5，所述电源DC母座I 一侧电性连接导线2，所述导线2另一侧电性连接电源DC公座3，所述电源DC公座3—侧设有发光二极管4，所述发光二极管4电性连接电阻5，所述电阻5电性连接导线2。
[0015]所述电阻5与发光二极管4串联，所述电阻5大小为1000欧姆，电阻5可以保护发光二极管4不被大电流烧坏。
[0016]需要说明的是，本实用新型为一种电源转接线检测装置，工作时，导线2内电流流过电阻5和发光二极管4，根据发光二极管4是否亮起，来判断12V电源线是否损坏。
[0017]最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种电源转接线检测装置，包括电源DC母座(I)、导线(2)、电源DC公座(3)、发光二极管(4)和电阻(5)，其特征在于，所述电源DC母座(I) 一侧电性连接导线(2)，所述导线(2)另一侧电性连接电源DC公座(3)，所述电源DC公座(3)—侧设有发光二极管(4)，所述发光二极管(4)电性连接电阻(5)，所述电阻(5)电性连接导线(2)。2.根据权利要求1所述的一种电源转接线检测装置，其特征在于，所述电阻(5)与发光二极管(4)串联。3.根据权利要求1所述的一种电源转接线检测装置，其特征在于，所述电阻(5)大小为1000欧姆。
【专利摘要】本实用新型属于电子设备技术领域且公开了一种电源转接线检测装置，包括电源DC母座、导线、电源DC公座、发光二极管和电阻，所述电源DC母座一侧电性连接导线，所述导线另一侧电性连接电源DC公座，所述电源DC公座一侧设有发光二极管，所述发光二极管电性连接电阻，所述电阻电性连接导线。本实用新型通过导线内电流流过电阻和发光二极管，根据发光二极管是否亮起，来判断12V电源线是否损坏，方便、高效。
【IPC分类】G01R31/02
【公开号】CN205229366
【申请号】CN201520977740
【发明人】覃曦, 黄长裕, 凌远强
【申请人】惠州市骏亚数字技术有限公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年11月30日