一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电容温度特性测试夹具，具体地说是一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具。
【背景技术】
[0002]单层片式瓷介电容器在生产过程中需要对产品进行温度特性的测试，以保证产品的质量、环境适应性和可靠性。传统的夹具做法是将产品焊接到玻钎板上，然后进行试验，这种做法易对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低等。
[0003]在电容器进行温度特性测试过程中，需要先将产品和夹具一起放入高低温箱，高低温(_55°C?125°C)的冲击对于夹具的可靠性产生极大影响，西安哟肚饿夹具容易导致测试不精确，容值测试精度只能达到±10%;且在高低温测试过程易发生测量失效，短路或断路现象常有发生，导致无法测试到容值。同时传统夹具不易安放电容且易损伤电容的金层电极，影响测试的可靠性及结果;且高低温测试过程中测试顶端与电容器容易发生接触不良，导致测量失效，从而无法准确测试其容值变化趋势。每次测试失效，需要重复进行，影响了测试效率。尤其是，无法有效测试小尺寸产品。所以，传统夹具存在极大的缺陷。
【实用新型内容】
[0004]为了弥补以上不足，本实用新型提供了一种测试效率高、检测准确度高、操作简便的用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，以解决上述【背景技术】中的问题。
[0005]本实用新型的技术方案是:
[0006]—种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，包括底座和安装在底座上的夹具，所述夹具包括设置在底座上方的绝缘板和连接在绝缘板上的支架，所述绝缘板与底座平行设置，所述支架的下端固定连接到底座上，所述底座与绝缘板之间竖直设置多根弹簧顶针，所述弹簧顶针的下端固定连接上电极，位于上电极下方的底座上端面设置凹槽，凹槽的底部安装下电极，所述下电极上方的凹槽内安置电容，所述弹簧顶针包括竖直设置的顶轴和套装在顶轴外侧的弹簧，所述顶轴的外侧环绕设置凸缘，所述弹簧的下端固定连接在凸缘上，所述弹簧的上端固定在绝缘板的下端面，所述绝缘板上设置多个通孔，顶轴的上端穿过通孔延伸到绝缘板上方，所述顶轴上设有沿其轴线方向设置的通道，所述通道内插装电线，所述电线一端与上电极相连，电线的另一端延伸到顶轴外侧。
[0007]作为优选的技术方案，所述通道设置在顶轴的中部轴线处。
[0008]作为优选的技术方案，所述通道设置在顶轴的外部环状面上。
[0009]作为优选的技术方案，所述支架的上端为螺杆状，另有螺母螺接在支架的上端，所述螺母紧固在绝缘板的上方。
[0010]由于采用了上述技术方案，本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，非破坏性测试，夹具可以重复应用，对产品金层及基体无损伤，简化了操作，测试精确度高；同时因减少了焊接步骤，提高了测试效率。下电极固定在凹槽内后形成凹字形结构，此凹字形结构起定位槽的作用，使产品放置进去后不易挪动。产品放入上电极和下电极之间后，承受到弹簧力而固定，产品测试完后还可以取出进行其他项目的测试，因此能够保证在检测过程中电容器具有良好的接触性，不仅大大提高了测试的准确性，而且操作也十分方便，提高了测试效率，可以一次性对多个产品进行测试，而且工位可以根据需求添加。
【附图说明】
[0011]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是本实用新型实施例的结构示意图；
[0013]图2是本实用新型的结构俯视图。
【具体实施方式】
[0014]实施例一:如图1所示，本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，包括底座I和安装在底座I上的夹具，所述底座I为水平设置的平板，所述夹具包括设置在底座I上方的绝缘板2和连接在绝缘板上的支架3，所述的支架3竖直设置，所述绝缘板2与底座I平行设置，所述支架3的下端固定连接到底座I上，支架3的上端与绝缘板2可拆卸的连接在一起，所述支架3的上端为螺杆状，所述绝缘板2通过安装孔套装在支架3外侧，且绝缘板2位于支架3螺杆状端部的下方，另有螺母10螺接在支架3的上端，所述螺母10紧固在绝缘板2的上方，将支架3与绝缘板2紧固在一起。
[0015]所述底座I与绝缘板2之间竖直设置多根弹簧顶针，所述弹簧顶针的下端固定连接上电极5，位于上电极5下方的底座I上端面设置凹槽，所述凹槽的直径与上电极5的直径相匹配，上电极5的下端与凹槽对齐，凹槽的底部安装下电极6，所述下电极6的底部连接通电线，所述通电线一端延伸到凹槽外侧，所述下电极6上方的凹槽内安置电容7，所述电容7与凹槽的内径相匹配，所述弹簧顶针包括竖直设置的顶轴4和套装在顶轴4外侧的弹簧8，所述顶轴4为圆管状，所述顶轴4的外侧环绕设置凸缘，凸缘凸出顶轴4的外壁，所述弹簧8的下端固定连接在凸缘上，所述弹簧8的上端固定在绝缘板2的下端面，所述绝缘板2上设置多个通孔，顶轴4的上端穿过通孔延伸到绝缘板2上方，所述顶轴4上设有沿其轴线方向设置的通道，所述通道内插装电线9，所述电线9 一端与上电极5相连，电线9的另一端延伸到顶轴4外侧，所述通道设置在顶轴4的中部轴线处或设置在顶轴4的外部环状面上，所述弹簧8上端连接到位于通孔外围的绝缘板2下端面上。
[0016]使用时，拉动顶轴4的上端，压缩弹簧8，顶轴4的下端上移，从、从而使上电极5离开凹槽，将电容7放置在凹槽内，松开顶轴4，在弹簧8的弹力作用下，上电极5的下端压紧在电容7的上端面上，通电后，将整个测试夹具放入高低温箱内，对电容7进行温度性能测试。
[0017]以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征及本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
【主权项】
1.一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，包括底座(I)和安装在底座(I)上的夹具，其特征在于:所述夹具包括设置在底座(I)上方的绝缘板(2)和连接在绝缘板上的支架(3)，所述绝缘板(2)与底座(I)平行设置，所述支架(3)的下端固定连接到底座(I)上，所述底座(I)与绝缘板(2)之间竖直设置多根弹簧顶针，所述弹簧顶针的下端固定连接上电极(5)，位于上电极(5)下方的底座(I)上端面设置凹槽，凹槽的底部安装下电极(6)，所述下电极(6)上方的凹槽内安置电容(7)，所述弹簧顶针包括竖直设置的顶轴(4)和套装在顶轴(4)外侧的弹簧(8)，所述顶轴(4)的外侧环绕设置凸缘，所述弹簧(8)的下端固定连接在凸缘上，所述弹簧(8)的上端固定在绝缘板(2)的下端面，所述绝缘板(2)上设置多个通孔，顶轴(4)的上端穿过通孔延伸到绝缘板(2)上方，所述顶轴(4)上设有沿其轴线方向设置的通道，所述通道内插装电线(9)，所述电线(9) 一端与上电极(5)相连，电线(9)的另一端延伸到顶轴(4)外侧。2.如权利要求1所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，其特征在于:所述通道设置在顶轴(4)的中部轴线处。3.如权利要求1所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，其特征在于:所述通道设置在顶轴(4)的外部环状面上。4.如权利要求2或3所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，其特征在于:所述支架(3)的上端为螺杆状，另有螺母(10)螺接在支架(3)的上端，所述螺母(10)紧固在绝缘板(2)的上方。
【专利摘要】本实用新型公开了一种电容温度特性测试夹具，具体地说是一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，包括底座和安装在底座上的夹具，所述夹具包括设置在底座上方的绝缘板和连接在绝缘板上的支架，所述绝缘板与底座平行设置，所述支架的下端固定连接到底座上，所述底座与绝缘板之间竖直设置多根弹簧顶针，所述弹簧顶针的下端固定连接上电极，位于上电极下方的底座上端面设置凹槽，由于采用了上述技术方案，本实用新型所述的一种用于单层片式瓷介电容器测试的夹具，非破坏性测试，夹具可以重复应用，对产品金层及基体无损伤，简化了操作，测试精确度高。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN205353139
【申请号】CN201620074171
【发明人】潘甲东, 韩玉成, 尚超红, 刘剑林, 王利凯, 严勇, 温占福, 魏栩曼, 孙鹏远
【申请人】中国振华集团云科电子有限公司
【公开日】2016年6月29日
【申请日】2016年1月26日