一种测试面纵横设置有v形长槽的测试针的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针。
【背景技术】
[0002]现有技术下在对一些PCB板上插件孔边缘的焊盘需要进行导通测试时，由于相邻插件孔之间的间距很小，采用一般的弹性测试针进行测试时，由于弹性测试针的套管中装有弹簧，因此使得弹性测试针的套管直径都比较粗，很难满足上述小间距的测试要求，此夕卜，由于方便插件的焊接，会预先在焊盘上融结少量的锡珠，由于锡珠形状不规则，如果测试时，将测试面直接压到锡珠上，很容易造成测试不稳定等异常。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提供了一种能够满足小间距测试需求，且测试稳定可靠的测试针。
[0004]为达此目的，本实用新型采用以下技术方案:
[0005]一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针，包括限位测试体、设置在限位测试体一端的定位柱、以及设置在所述限位测试体另一端的安装固定杆，所述安装固定杆的端部径向贯穿设置过线孔，所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆同轴一体设置，所述限位测试体的测试面上纵横凹设有V形长槽，同向设置的所述V形长槽的相邻侧壁相交设置，且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱及所述安装固定杆的直径。
[0006]其中，所述定位柱的端部设置有球头面。
[0007]其中，所述过线孔设置为椭圆形通孔。
[0008]其中，所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆均采用导电金属棒一体车削而成。
[0009]本实用新型的有益效果:本实用新型包括限位测试体、设置在限位测试体一端的定位柱、以及设置在所述限位测试体另一端的安装固定杆，所述安装固定杆的端部径向贯穿设置过线孔，所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆同轴一体设置，所述限位测试体的测试面上纵横凹设有V形长槽，同向设置的所述V形长槽的相邻侧壁相交设置，且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱及所述安装固定杆的直径。采用此结构设计的测试针，在测试时可通过测试面上的V形长槽所形成的定位凸起，在压力作用下插设于焊盘上的锡珠内，使得与锡珠有效结合，进而提高导通测试稳定性。本实用新型能够满足小间距测试需求，且测试稳定可靠。
【附图说明】
[0010]图1是本实用新型一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图1所示并通过【具体实施方式】来进一步说明本实用新型的技术方案。
[0012]包括限位测试体1、设置在限位测试体I一端的定位柱2、以及设置在所述限位测试体I另一端的安装固定杆3，所述安装固定杆3的端部径向贯穿设置过线孔31，所述限位测试体1、所述定位柱2及所述安装固定杆3同轴一体设置，所述限位测试体I的测试面上纵横凹设有V形长槽11，同向设置的所述V形长槽11的相邻侧壁相交设置，且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱2及所述安装固定杆3的直径。优选的，同向设置的所述V形长槽11的相邻侧壁相交设置，进而形成比较锋利的尖角，从而能够插入锡珠内，进而与锡珠有效结合，从而有效提尚测试稳定性。
[0013]进一步优选的，所述定位柱2的端部设置有球头面21。以此能够方便的将定位柱2插入插件孔内而不会损伤孔径边缘处的焊盘。
[0014]进一步优选的，所述过线孔31设置为椭圆形通孔。此结构设计，便于测试线方便的插入并与安装固定杆3紧固。
[0015]进一步优选的，所述限位测试体1、所述定位柱2及所述安装固定杆3均采用导电金属棒一体车削而成。优选的，导电金属棒可采用铜棒进行车削。
[0016]作为进一步的优选，在测试时，需将电路板放置到可以上下浮动的定位治具上，以减少限位测试体I的测试面11对焊盘的损伤。
[0017]以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它【具体实施方式】，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针，其特征在于，包括限位测试体、设置在限位测试体一端的定位柱、以及设置在所述限位测试体另一端的安装固定杆，所述安装固定杆的端部径向贯穿设置过线孔，所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆同轴一体设置，所述限位测试体的测试面上纵横凹设有V形长槽，同向设置的所述V形长槽的相邻侧壁相交设置，且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱及所述安装固定杆的直径。2.根据权利要求1所述的测试面纵横设置有V形长槽的测试针，其特征在于，所述定位柱的端部设置有球头面。3.根据权利要求1所述的测试面纵横设置有V形长槽的测试针，其特征在于，所述过线孔设置为椭圆形通孔。4.根据权利要求1所述的测试面纵横设置有V形长槽的测试针，其特征在于，所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆均采用导电金属棒一体车削而成。
【专利摘要】本实用新型公开了一种测试面纵横设置有V形长槽的测试针，包括限位测试体、设置在限位测试体一端的定位柱、以及设置在所述限位测试体另一端的安装固定杆，所述安装固定杆的端部径向贯穿设置过线孔，所述限位测试体、所述定位柱及所述安装固定杆同轴一体设置，所述限位测试体的测试面上纵横凹设有V形长槽，同向设置的所述V形长槽的相邻侧壁相交设置，且所述限位测试体的直径分别大于所述定位柱及所述安装固定杆的直径。采用此结构设计的测试针，在测试时可通过测试面上的V形长槽所形成的定位凸起，在压力作用下插设于焊盘上的锡珠内，使得与锡珠有效结合，进而提高导通测试稳定性。本实用新型能够满足小间距测试需求，且测试稳定可靠。
【IPC分类】G01R1/067, G01R31/02
【公开号】CN205374527
【申请号】CN201521028596
【发明人】钟兴彬
【申请人】深圳市新富城电子有限公司
【公开日】2016年7月6日
【申请日】2015年12月14日