一种片齿轮单键键宽测量装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种片齿轮单键键宽测量装置，包括测量仪和气动量仪，所述的测量仪包括单键测头、塞规式导向、连接头和手柄；所述的单键测头设置在塞规式导向一侧面上；手柄与塞规式导向连接；所述的连接头设置在手柄内部，连接头一端通过气管和气动量仪连接，另一端与塞规式导向内部的气道连通，所述的气道与单键测头端部的气流孔连通。本实用新型提供的测量装置，在提高测量精度的同时降低生产成本，结构简单，使用方便。
【专利说明】
一种片齿轮单键键宽测量装置
技术领域
[0001]本实用新型属于齿轮测量技术领域，特别涉及一种片齿轮单键键宽测量装置。
【背景技术】
[0002]目前国内外非接触式检测装置多为气动检测量仪，测量精度高，广泛应用于各种机械加工的外圆及内孔尺寸的测量，但对于键槽等小平面或结构特殊的尺寸测量基本使用塞板。片齿轮单键槽宽尺寸精度较高，由于是产品关键特性，需要100%检测，塞板磨损报废寿命短，存在质量隐患，成本上升。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提供一种针对片齿轮单键键宽的测量装置，在提高测量精度的同时降低生产成本。
[0004]本实用新型通过以下技术方案来实现:
[0005]—种片齿轮单键键宽测量装置，包括测量仪和气动量仪，所述的测量仪包括单键测头、塞规式导向、连接头和手柄;所述的单键测头设置在塞规式导向一侧面上;手柄与塞规式导向连接;所述的连接头设置在手柄内部，连接头一端通过气管和气动量仪连接，另一端与塞规式导向内部的气道连通，所述的气道与单键测头端部的气流孔连通。
[0006]所述的塞规式导向是由圆柱体加工成的四方圆角结构。
[0007]所述的塞规式导向的外圆直径比片齿轮内孔直径的下差小0.3-0.5_。
[0008]测量时，塞规式导向装配片齿轮内孔中，单键测头在片齿轮单键键槽内。
[0009]所述的连接头为铜接头。
[0010]所述的单键测头断面为T型结构，单键测头嵌入到塞规式导向的T型槽中，单键测头立而部伸出塞规式导向。
[0011]还包括四方体结构的校对规，校对规上开设有上公差校准键槽和下公差校准键槽;上公差校准键槽的槽宽为被测键槽的上公差值，下公差校准键槽的槽宽为被测键槽的下公差值。
[0012]所述的上公差校准键槽和下公差校准键槽分别设在校对规相对的两个面上;上公差校准键槽和下公差校准键槽的结构与片齿轮单键键槽的结构一致。
[0013]相对于现有技术，本实用新型的有益效果是:
[0014]本实用新型鉴于常规内孔及外圆的气动测量方法，以气体为介质，设计塞规式气动测量仪检测单键键槽宽度。测量时塞规起导向作用，保证测量位置的一致性，保证测量尺寸的稳定性。本实用新型解决了现有技术中高精度单键槽宽的测量问题，测量装置增加塞规式导向，保证了尺寸测量的稳定性，同时解决检具的耐用度问题，减少送检频次，控制成本;另外配合气动量仪不仅能检验零件合适不合适问题，还可准确读取测量数据。并且气动量仪几乎不磨损，检具的可靠性增加，工件尺寸精度稳定性提高，检具的送检率减少，检测成本降低，每年可节省约4万元由于塞板磨损报废造成的成本。
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型键宽测量装置的左视图；
[0016]图2为本实用新型键宽测量装置的剖视图；
[0017]图3为校对规的示意图。
[0018]图中，丨-单键测头，2-塞规式导向，3-连接头，4-手柄，5-校对规，6-上公差校准键槽，7-下公差校准键槽，8-气道，9-气流孔。
【具体实施方式】
[0019]下面结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步说明，本实用新型不限于以下实施例。
[0020]如图1和图2所示，本实用新型一种片齿轮单键键宽测量装置，包括测量仪和气动量仪，所述的测量仪包括单键测头1、塞规式导向2、连接头3和手柄4;单键测头I设置在塞规式导向2—侧面上;手柄4与塞规式导向2连接;连接头3设置在手柄4内部，连接头3—端通过气管和气动量仪连接，另一端与塞规式导向2内部的气道8连通，气道8与单键测头I端部的气流孔9连通。具体的结构的作用如下:
[0021]单键测头1:测量时在片齿轮单键键槽里上下滑动，装配到塞规式导向2上；
[0022]塞规式导向2:起导向作用，夕卜圆直径比片齿轮内孔直径的下差小0.3-0.5mm;
[0023]铜接头3:连接作用，连接气管和测量装置；
[0024]手柄4:便于手持测量；
[0025]塞规式导向2是由圆柱体加工成的四方圆角结构。塞规式导向2的外圆直径比片齿轮内孔直径的下差小0.3-0.5mm。测量时，塞规式导向2装配片齿轮内孔中，单键测头I在片齿轮单键键槽内。连接头3为铜接头。单键测头I断面为T型结构，单键测头I嵌入到塞规式导向2的T型槽中，单键测头I端部伸出塞规式导向2。
[0026]如图3所示，还包括四方体结构的校对规5，用于调节浮标显示仪，确定浮标显示仪上浮标的最高最低位置。校对规5上开设有上公差校准键槽6和下公差校准键槽7;上公差校准键槽6的槽宽为被测键槽的上公差值，下公差校准键槽7的槽宽为被测键槽的下公差值。上公差校准键槽6和下公差校准键槽7分别设在校对规5相对的两个面上;上公差校准键槽6和下公差校准键槽7的结构与片齿轮单键键槽的结构一致。
[0027]本实用新型的使用方法如下:
[0028]I)将测量装置的铜接头3与普通气动量仪的气管相接。
[0029]2)使用校对规5调节浮标显示仪，显示仪上下指针对应工件上下公差。
[0030]3)若工件公差较大则使用大量程浮标显示仪。根据工件公差选择相应量程的浮标显示仪。
[0031]4)将单键测头I垂直插入片齿轮单键键槽，塞规2为导向，并沿单键键槽长度方向轻轻滑动，若测试的浮标在上下指针内则工件为合格，并可以读取当前零件的准确尺寸值。
[0032]以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型作任何限制，凡是根据本实用新型技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本实用新型技术方案的保护范围内。
【主权项】
1.一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，包括测量仪和气动量仪，所述的测量仪包括单键测头(I)、塞规式导向(2)、连接头(3)和手柄(4);所述的单键测头(I)设置在塞规式导向(2)—侧面上;手柄(4)与塞规式导向(2)连接;所述的连接头(3)设置在手柄(4)内部;连接头(3)—端通过气管和气动量仪连接，另一端与塞规式导向(2)内部的气道(8)连通;所述的气道(8)与单键测头(I)端部的气流孔(9)连通。2.根据权利要求1所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，所述的塞规式导向(2)是由圆柱体加工成的四方圆角结构。3.根据权利要求2所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，塞规式导向(2)的外圆直径比片齿轮内孔直径的下差小0.3-0.5mm。4.根据权利要求1所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，测量时，塞规式导向(2)装配片齿轮内孔中，单键测头(I)在片齿轮单键键槽内。5.根据权利要求1所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，所述的连接头(3)为铜接头。6.根据权利要求1所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，所述的单键测头(I)断面为T型结构，单键测头(I)嵌入到塞规式导向(2)的T型槽中，单键测头(I)端部伸出塞规式导向(2)。7.根据权利要求1所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，还包括四方体结构的校对规(5)，校对规(5)上开设有上公差校准键槽(6)和下公差校准键槽(7);上公差校准键槽(6)的槽宽为被测键槽的上公差值，下公差校准键槽(7)的槽宽为被测键槽的下公差值。8.根据权利要求6所述的一种片齿轮单键键宽测量装置，其特征在于，所述的上公差校准键槽(6)和下公差校准键槽(7)分别设在校对规(5)相对的两个面上；上公差校准键槽(6)和下公差校准键槽(7)的结构与片齿轮单键键槽的结构一致。
【文档编号】G01B5/16GK205482732SQ201620106508
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年2月2日
【发明人】李鹏, 孙芳芳, 闫鹏辉
【申请人】西安法士特汽车传动有限公司